Riconoscimento del pattern negli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY
Nella maggior parte dei casi, il metodo della fluorescenza da raggi X (XRF) non richiede una lunga preparazione del campione. Solitamente è sufficiente il semplice posizionamento della sonda nel fascio di raggi X. Ma se il campione di prova ha le stesse dimensioni del punto di misura, il posizionamento esatto è difficile, ad es. nel caso della misura dello spessore del rivestimento sui seguenti oggetti:
- Contatti di collegamento su circuiti stampati
- Connettori
- Componenti SMD
Con la nuova funzione di riconoscimento del pattern, tutti gli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY con piani XY programmabili potrai posizionare i campioni in modo sicuro anche in condizioni difficili. Il software WinFTM® memorizza un dettaglio dell'immagine (pattern) e lo ricerca durante la misura. Quindi regola nuovamente la posizione del piano XY, in modo che venga trovato il pattern e la misura venga eseguita nella posizione corretta.
Vantaggi:
- Riduzione dell'influenza dell'operatore durante il posizionamento dei campioni
- Riduzione dell'influenza della tolleranza dimensionale dei campioni
