FISCHERSCOPE® XDV®
Nuovo
Il prodotto può variare in base al modello o alle caratteristiche
più veloce nel posizionamento
più veloce nell'autofocus
maggiore risoluzione
¹ Rispetto a FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
² A seconda della superficie del campione.
La velocità incontra la precisione.
Il FISCHERSCOPE® XDV® è lo strumento di misura a fluorescenza a raggi X di alta gamma di Fischer, ideale per le misure automatizzate su strutture di piccole dimensioni. Lo strumento convince per la sua facilità d'uso, la massima velocità e precisione. L'indicazione luminosa dello stato è intuitiva e la cappa di misura motorizzata può essere aperta e richiusa in modo completamente automatico - per un funzionamento sicuro e conveniente. Il moderno software FISIQ® X XRF garantisce processi efficienti e senza intoppi, nonché un aumento della produttività nel processo di misurazione.
Asse Z ad alta velocità.
Per un rapido posizionamento dei campioni
Autofocus in meno di 2 secondi.
Acquisizione e messa a fuoco rapida dell'oggetto di misura per processi di misura ancora più efficienti.
Telecamera panoramica ad alta risoluzione.
Per una migliore visione d'insieme con immagini più nitide e dettagliate.
Illuminazione LED multizona.
Illuminazione perfetta in ogni momento, indipendentemente dalla superficie.
Cappa di misura automatizzata.
Funzionamento manuale o automatizzato per la massima flessibilità
Geometria di misura ottimizzata.
Accuratezza di misura senza precedenti grazie alla maggiore distanza tra tubo radiogeno, campione e rivelatore.
Illuminazione di stato intuitiva.
Controlla lo stato del dispositivo con una sola occhiata.
Telecamera panoramica ad alta risoluzione con illuminazione LED multizona: illuminazione ottimale per analisi accurate.
Funzionamento senza sforzo e a mani libere: Flessibilità insuperabile grazie alla cappa motorizzata. Manualmente, premendo un pulsante, o tramite automazione controllata da software. Per processi ininterrotti e senza interruzioni.
La distanza ottimizzata tra tubo a raggi X, campione e rilevatore assicura la massima intensità e garantisce un’accuratezza di misura senza pari – per risultati sempre affidabili e di alta qualità.
La striscia luminosa a LED indica chiaramente lo stato dello strumento. La luce blu indica la modalità standby, la verde indica uno strumento pronto per la misurazione e l'arancione pulsante indica una misurazione in corso.
FISIQ® X: il primo software XRF moderno con modalità spettro supportata da AI. Aumenta la produttività con flussi di lavoro semplificati ed efficienti.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno
Cappa di misura automatizzata
Rivelatore di deriva al silicio 20 mm² o 50 mm² per la massima precisione su strati sottili
Collimatori modificabili (4) e filtri modificabili (6)
Strumento conforme alle normative di sicurezza
Software FISIQ® X con modalità spettro supportata da AI per processi di misura più intelligenti
Distanza di misura continua con misurazione dall'alto verso il basso
E' possibile misurare campioni alti fino a 140 mm
Tavolo di misura programmabile per misure automatizzate
Esempi di applicazione
- Analisi di rivestimenti molto sottili, ad esempio rivestimenti di oro/palladio di ≤ 50 nm (0,002 mils)
- Misure di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio determinazione dello spessore del rivestimento di strati d'oro fino a 2 nm (0,00008 mils) per cornici di piombo
- Misurazione di rivestimenti ultrasottili su wafer di silicio
- Determinazione di rivestimenti di elementi leggeri su wafer (Al, Ti, NiP)
- Fogli per celle a combustibile e batterie: metalli (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) in matrice organica (carbonio)
- Analisi dell'oro con i requisiti più elevati
- Determinazione di sistemi complessi di rivestimento multiplo
- Misure automatizzate, ad esempio nel controllo qualità
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