FISCHERSCOPE® XDAL®
Nuovo
con geometria di misurazione ottimizzata
posizionamento dei campioni super rapido
guida per l’utente con il software FISIQ® X
Maneggevolezza, massima velocità e precisione.
Quando la precisione supera i confini, il nostro FISCHERSCOPE® XDAL® ridefinisce ciò che è possibile. L’innovativo successore del nostro FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® è ideale per applicazioni nel campo dei rivestimenti sottili e ultrasottili (< 0.05 μm) e per l’analisi dei materiali nell’intervallo ppm. È possibile scegliere tra i nostri modelli XDAL® 650, dotato del nostro potente rivelatore a deriva di silicio da 50 mm², e XDAL® 620, dotato di un rivelatore a deriva di silicio da 20 mm². Insieme al nostro software XRF all’avanguardia FISIQ® X, questa soluzione di fascia alta garantisce un processo di misurazione fluido per una maggiore praticità, sicurezza e massima produttività.
Posizionamento del campione super veloce.
Asse Z ad alta velocità: 6 volte più rapido*
Acquisizione rapida del campione.
Messa a fuoco automatica in meno di 2 secondi – 14 volte più veloce*
Funzionamento automatizzato.
Copertura automatica o manuale per la massima flessibilità
Illuminazione ottimale del campione e acquisizione delle immagini.
Risoluzione della fotocamera 10 volte superiore* e illuminazione LED multizona
* Rispetto a FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Precisione impareggiabile e risultati ripetibili.
Geometria di misurazione ottimizzata
Stato del dispositivo sempre visibile.
Indicatore luminoso intuitivo con visibilità a 180°
Maggiore facilità d’uso e guida utente.
Nuovo software FISIQ® X
Componenti di grandi dimensioni.
La scanalatura a C consente la misurazione di componenti grandi
Telecamera panoramica ad alta risoluzione con illuminazione LED multizona: illuminazione ottimale per tutti i tipi di superficie del campione (opache, lucide, riflettenti).
Misura a modo tuo – in modo automatico o manuale – supportato da una copertura motorizzata per la massima flessibilità.
La distanza ottimizzata tra tubo a raggi X, campione e rilevatore assicura la massima intensità e garantisce un’accuratezza di misura senza pari – per risultati sempre affidabili e di alta qualità.
La striscia luminosa a LED indica chiaramente lo stato dello strumento. La luce blu indica la modalità standby, la verde indica uno strumento pronto per la misurazione e l'arancione indica una misurazione in corso.
FISIQ® X: il primo software XRF supportato da tecnologia AI. Aumenta la produttività con flussi di lavoro ottimizzati ed efficienti.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno, altri anodi disponibili su richiesta
Alloggiamento a C per misurare campioni più grandi
Rivelatore di deriva al silicio 20 mm² o 50 mm² per la massima precisione su strati sottili
Collimatori modificabili (4) e filtri modificabili (6)
Approvazione individuale come strumento completamente protetto
Software FISIQ® X con modalità spettro assistita da IA per processi di misurazione più intelligenti
Distanza di misura continua con misurazione dall'alto verso il basso
E' possibile misurare campioni alti fino a 140 mm
Copertura automatizzata e tavolo di misurazione programmabile per misurazioni automatizzate
Esempi di applicazione
- Analisi di rivestimenti molto sottili ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Misurazioni di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio su telai di piombo, connettori o schede a circuito stampato
- Misurazione di sistemi multilivello complessi
- Misure automatizzate, ad esempio nel controllo qualità
- Determinazione del contenuto di piombo nelle saldature
- Determinazione del contenuto di fosforo nei rivestimenti NiP
- Determinazione delle finiture dei PCB
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