FISCHERSCOPE® XDAL®
Nuovo
più veloce nel posizionamento
più veloce nell'autofocus
maggiore risoluzione
¹ Rispetto a FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
² A seconda della superficie del campione.
Maneggevolezza, massima velocità e precisione.
Il FISCHERSCOPE® XDAL® è ideale per applicazioni nel campo dei rivestimenti sottili e molto sottili < 0,05 μm e per l'analisi di materiali nell'intervallo dei ppm. Lo strumento è dotato è dotato dei più potenti rilevatori di ultima generazione: il rilevatore di deriva al silicio da 50 mm². L'indicazione luminosa dello stato è intuitiva e la cappa di misura automatizzata, insieme al moderno software FISIQ® X XRF, assicurano un processo di misura senza intoppi - per una maggiore comodità, sicurezza e massima produttività.
Asse Z ad alta velocità.
Per un rapido posizionamento dei campioni
Autofocus in meno di 2 secondi.
Acquisizione e messa a fuoco rapida dell'oggetto di misura per processi di misura ancora più efficienti.
Telecamera panoramica ad alta risoluzione.
Per una migliore visione d'insieme con immagini più nitide e dettagliate.
Illuminazione LED multizona.
Illuminazione perfetta in ogni momento, indipendentemente dalla superficie.
Cappa di misura automatizzata.
Funzionamento manuale o automatizzato per la massima flessibilità
Geometria di misura ottimizzata.
Accuratezza di misura senza precedenti grazie alla maggiore distanza tra tubo radiogeno, campione e rivelatore.
Illuminazione di stato intuitiva.
Controlla lo stato del dispositivo con una sola occhiata.
Telecamera panoramica ad alta risoluzione con illuminazione LED multizona: illuminazione ottimale per tutti i tipi di superficie del campione (opache, lucide, riflettenti).
Cappa motorizzata che può essere aperta e chiusa premendo un pulsante o controllata via software. Per processi fluidi ed efficienti.
La distanza ottimizzata tra tubo a raggi X, campione e rilevatore assicura la massima intensità e garantisce un’accuratezza di misura senza pari – per risultati sempre affidabili e di alta qualità.
La striscia luminosa a LED indica chiaramente lo stato dello strumento. La luce blu indica la modalità standby, la verde indica uno strumento pronto per la misurazione e l'arancione pulsante indica una misurazione in corso.
FISIQ® X: il primo software XRF supportato da tecnologia AI. Aumenta la produttività con flussi di lavoro ottimizzati ed efficienti.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno, altri anodi disponibili su richiesta
Alloggiamento con scanalatura a C per misure automatizzate su campioni più grandi
Rivelatore di deriva al silicio 20 mm² o 50 mm² per la massima precisione su strati sottili
Collimatori modificabili (4) e filtri modificabili (6)
Strumento conforme alle normative di sicurezza
Software FISIQ® X con modalità spettro supportata da AI per processi di misura più intelligenti
Distanza di misura continua con misurazione dall'alto verso il basso
E' possibile misurare campioni alti fino a 140 mm
Tavolo di misura programmabile per misure automatizzate
Esempi di applicazione
- Analisi di rivestimenti molto sottili ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Misurazioni di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio su telai di piombo, connettori o schede a circuito stampato
- Determinazione di sistemi complessi di rivestimento multiplo
- Misure automatizzate, ad esempio nel controllo qualità
- Determinazione del contenuto di piombo nelle saldature
- Determinazione del contenuto di fosforo nei rivestimenti NiP
- Determinazione delle finiture dei PCB
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