FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
precisione anche con tempi di misura brevi
con la più piccola dimensione del punto 10 µm (FWHM)
per la misura affidabile di piccole strutture
¹ Aumento delle prestazioni fino al 50%: Deviazione standard significativamente migliorata e quindi capacità di misura o tempo di misura significativamente ridott rispetto ai DPP e DPP+.
² Ottica capillare di alto livello prodotta da Fischer, l'unico produttore al mondo di strumenti di misura a fluorescenza a raggi X con una propria produzione di policapillari. Sono disponibili tre diversi policapillari di fascia alta: la soluzione giusta per ogni applicazione: da 10 µm halo free, da 20 µm halo free o da 20 µm halo.
Controllo automatizzato dei PCB con XRF.
Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB è un vero specialista per il controllo di qualità affidabile dei PCB con la fluorescenza a raggi X. Grazie a un potente rilevatore a deriva di silicio, a un tubo microfocale Ultra e a un'ottica policapillare, lo strumento XRF misura con un punto di misura estremamente piccolo a un'intensità molto elevata. Ciò consente di determinare in modo affidabile anche gli strati più sottili. Gli strumenti soddisfano anche i requisiti IPC 4552 e 4556 per ENIG ed ENEPIG, nonché 4553A (argento) e 4554 (stagno).
Per affrontare tutte le sfide.
Risultati affidabili e veloci per applicazioni di misura ambiziose
Completamente automatizzabile.
Lasciate che il vostro strumento lavori per voi
Esperti di PCB.
Soluzioni di misura specializzate per circuiti stampati, conformi agli standard IPC.
Le ottiche policapillari più avanzate del mercato.
Le ottiche policapillari da noi prodotte forniscono risultati di misura eccezionali in tempi di misura ridotti.
Accurato e preciso.
Posizionamento del punto di misura su piccole strutture grazie al riconoscimento automatico dell'immagine.
Messa in funzione.
Estremamente veloce e semplice
Processore di impulsi digitali DPP+.
Tempi di misura più brevi o miglioramento della deviazione standard*.
*rispetto al DPP
Caratteristiche
Tubo microfocale Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sui punti più piccoli; anodo di molibdeno opzionale
Filtri intercambiabili (4)
E' possibile misurare campioni con altezza fino a 10 mm
Le ottiche policapillari consentono di ottenere punti di misura particolarmente piccoli con tempi di misura brevi ad alta intensità
Punto di misura ca: Ø 10 o 20 µm (FWHM)
Tavolo di misura programmabile ad alta precisione per PCB fino a 610 x 610 mm, in opzione con fissaggio a vuoto
Rilevatore di deriva al silicio con 20 o 50 mm² per la massima precisione sui film sottili
DPP+ per la massima precisione anche con tempi di misura ridotti
Esempi di applicazione
- Misura dei componenti e delle strutture piane più piccole su PCB fino a 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Analisi di rivestimenti molto sottili, come strati di oro/palladio di ≤ 3 nm o 10 nm
- Misura automatizzata, ad esempio nel controllo qualità
- Con l'opzione 10 μm: misura con il punto di misura più piccolo in combinazione con un grande rilevatore di deriva al silicio
- Con l'opzione tavolo sottovuoto: misura su PCB flessibili
- Piena conformità agli standard IPC 4552 e 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Argento) e 4554 (Stagno)
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Note applicative
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MBTutorial
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