FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
































































Il prodotto può variare in base al modello o alle caratteristiche
Punto di misura più piccolo, massima distanza di misura.
Con i policapillari si possono affrontare compiti di misura impegnativi: Strumento di misura XRF di alta gamma con ottiche policapillari a raggi X per la misura dei componenti più piccoli con il punto di misura più piccolo e la distanza di misura più grande.
grazie al DPP+
dimensione del punto più piccolo
La distanza di misura più ampia - la migliore della categoria!
¹ Deviazione standard significativamente migliorata e quindi capacità di misura o tempo di misurazione significativamente ridotto rispetto a DPP e DPP+.
Prestazioni al massimo.
Il non plus ultra per i pezzi di forma complessa e di piccole dimensioni. L'impareggiabile distanza di misura, combinata con il più piccolo spot di misurazione e il tubo microfocale Ultra per prestazioni più elevate con spot di misura minimi, rendono il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD lo strumento XRF leader del settore.
Per affrontare tutte le sfide.
Risultati affidabili e veloci per misure ambiziose
Le ottiche policapillari più avanzate del mercato.
Le nostre ottiche policapillari prodotte internamente forniscono risultati di misura eccezionali con tempi di misura ridotti.
Accurato e preciso.
Posizionamento del punto di misura su strutture di piccole dimensioni grazie al riconoscimento automatico dell'immagine
Completamente automatizzabile.
Lasciate che il vostro strumento lavori per voi con un semplice clic.
Processore di impulsi digitali DPP+.
Tempi di misura più brevi o miglioramento della deviazione standard*.
*Rispetto al DPP
Caratteristiche
Tubo microfocale Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sui punti più piccoli; anodo di molibdeno opzionale
Filtro intercambiabile
Tassi di conteggio più elevati e tempi di misura significativamente ridotti grazie a DPP+
Le ottiche policapillari consentono di ottenere punti di misura particolarmente piccoli con tempi di misurazione brevi e ad alta intensità
Punto di misura ca: Ø 60 µm
Determinazione del contenuto di metallo nei bagni galvanici con gli appositi accessori
Rilevatore di deriva al silicio con area attiva di 20 o 50 mm² per la massima precisione su strati sottili
E' possibile misurare campioni con altezza fino a 135 mm
Esempi di applicazione
- Misura di componenti e strutture di dimensioni ridotte come PCB assemblati e di forma complessa, contatti a spina, aree di incollaggio, componenti SMD o fili sottili
- Misura di strati funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori
- Determinazione di sistemi multistrato complessi
- Misura automatizzata, ad esempio nel controllo qualità
Avete altre applicazioni? Allora contattateci!