FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Il prodotto può variare in base al modello o alle caratteristiche

 

Punto di misura più piccolo, massima distanza di misura.

Con i policapillari si possono affrontare compiti di misura impegnativi: Strumento di misura XRF di alta gamma con ottiche policapillari a raggi X per la misura dei componenti più piccoli con il punto di misura più piccolo e la distanza di misura più grande.

Prestazioni migliorate fino al 50% ¹
grazie al DPP+
60 µm
dimensione del punto più piccolo
12 mm
La distanza di misura più ampia - la migliore della categoria!
¹ Mostra di più
Mostra meno

¹ Deviazione standard significativamente migliorata e quindi capacità di misura o tempo di misurazione significativamente ridotto rispetto a DPP e DPP+.

Prestazioni al massimo.

Il non plus ultra per i pezzi di forma complessa e di piccole dimensioni. L'impareggiabile distanza di misura, combinata con il più piccolo spot di misurazione e il tubo microfocale Ultra per prestazioni più elevate con spot di misura minimi, rendono il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD lo strumento XRF leader del settore.

Per affrontare tutte le sfide.

Risultati affidabili e veloci per misure ambiziose

Le ottiche policapillari più avanzate del mercato.

Le nostre ottiche policapillari prodotte internamente forniscono risultati di misura eccezionali con tempi di misura ridotti.

Accurato e preciso.

Posizionamento del punto di misura su strutture di piccole dimensioni grazie al riconoscimento automatico dell'immagine

Completamente automatizzabile.

Lasciate che il vostro strumento lavori per voi con un semplice clic.

Processore di impulsi digitali DPP+.

Tempi di misura più brevi o miglioramento della deviazione standard*.

*Rispetto al DPP

  • Caratteristiche

      Tubo microfocale Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sui punti più piccoli; anodo di molibdeno opzionale

      Filtro intercambiabile

      Tassi di conteggio più elevati e tempi di misura significativamente ridotti grazie a DPP+

      Le ottiche policapillari consentono di ottenere punti di misura particolarmente piccoli con tempi di misurazione brevi e ad alta intensità

      Punto di misura ca: Ø 60 µm

      Determinazione del contenuto di metallo nei bagni galvanici con gli appositi accessori

      Rilevatore di deriva al silicio con area attiva di 20 o 50 mm² per la massima precisione su strati sottili

      E' possibile misurare campioni con altezza fino a 135 mm

  • Esempi di applicazione

      • Misura di componenti e strutture di dimensioni ridotte come PCB assemblati e di forma complessa, contatti a spina, aree di incollaggio, componenti SMD o fili sottili
      • Misura di strati funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori
      • Determinazione di sistemi multistrato complessi
      • Misura automatizzata, ad esempio nel controllo qualità

      Avete altre applicazioni? Allora contattateci!

Note applicative
Video del prodotto
Tutorial
Webinar
Cataloghi
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

Fischer Insights.

Metodo di misurazione.

Imparate e scoprite come funziona l'analisi di fluorescenza a raggi X.

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