FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
grazie al DPP+
intercambiabili
intercambiabili
¹ Deviazione standard significativamente migliorata e quindi capacità di misurazione o tempo di misura significativamente ridotto rispetto ai DPP e DPP+.
Analisi di fluorescenza a raggi X per esigenze estremamente elevate.
Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD è uno degli strumenti a fluorescenza a raggi X più potenti della gamma Fischer. Con questo modello premium, le prestazioni di misura raggiungono un nuovo livello: in combinazione con il processore di impulsi digitali DPP+, sviluppato internamente, è ora possibile elaborare frequenze di conteggio ancora più elevate, con conseguente riduzione dei tempi di misura o miglioramento della ripetibilità dei risultati di misura.
Costruito per durare.
Design compatto per requisiti particolarmente elevati
Completamente automatizzabile.
Lasciate che il vostro strumento lavori per voi con un solo clic.
Design a misura rapida.
Con pochi semplici passaggi, il campione viene posizionato ed è pronto per la misurazione. È possibile eseguire misure automatizzate di molte pezzi
Veloce.
Grazie ai brevi tempi di misura, si risparmia tempo prezioso.
Analisi RoHS.
Determinazione degli inquinanti con elevata accuratezza di rilevamento e prestazioni eccezionali.
Processore di impulsi digitali DPP+.
Tempi di misura più brevi o miglioramento della deviazione standard*.
*Rispetto al DPP
Trasmissione, valutazione ed esportazione dei dati di misura in tempo reale con WinFTM®, il software applicativo più potente del mercato.
Apertura fino a 3 mm: massima intensità per un tempo di misura minimo anche con campioni complessi.
Tavolo di misura programmabile per misure automatizzate su piccole strutture.
Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD è uno degli strumenti di fluorescenza a raggi X più potenti della gamma Fischer.
Il rilevatore di deriva del silicio ad alta risoluzione e ad alte prestazioni consente di misurare gli strati più sottili in modo preciso e non distruttivo.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno
Rivelatore di deriva al silicio 50 mm² con area efficace extra-large di 50 mm²
Determinazione del contenuto di metallo nei bagni galvanici con i relativi accessori
Punto di misura ca: Ø 0,25 mm
Tassi di conteggio più elevati e tempi di misurazione significativamente ridotti grazie a DPP+
Strumento conforme alle norme di sicurezza
E' possibile misurare campioni con altezza fino a 140 mm
Collimatori intercambiabili (4) e filtri intercambiabili (6)
Esempi di applicazione
- Misura di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio determinazione dello spessore di rivestimenti d'oro fino a 2 nm
- Analisi di rivestimenti sottili e molto sottili nell'industria elettronica e dei semiconduttori, come strati di oro/palladio di ≤ 0,1 μm
- Determinazione di sistemi multistrato complessi
- Misura dello spessore del rivestimento per applicazioni fotovoltaiche, celle a combustibile e celle a batteria
- Analisi di tracce di sostanze pericolose come piombo e cadmio secondo le direttive RoHS, WEEE, CPSIA e altre direttive per elettronica, imballaggi e prodotti di consumo
- Analisi e controllo dell'autenticità di oro e altri metalli preziosi e leghe di metalli preziosi
- Determinazione diretta del contenuto di fosforo negli strati funzionali di NiP
- Determinazione del contenuto di metalli nei bagni galvanici
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Note applicative
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Cataloghi
Note applicative
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVideo del prodotto
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