FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
metodo brevettato DCM
alle normative di sicurezza
finestra di misura sul mercato
Automazione XRF per principianti.
Gli strumenti della serie FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® sono destinati alle misure per il controllo della qualità, l'ispezione in entrata e il monitoraggio della produzione. Sono strettamente correlati alla serie XULM®, con una differenza significativa: effettuano la misura dall'alto verso il basso! Ciò si traduce in una comoda analisi di pezzi diversi e nella possibilità di effettuare misure automatizzate.
Anche per campioni di grandi dimensioni.
Cappa con scanalatura a C
Costruito per durare.
Design robusto per misure su vari pezzi prodotti in serie.
Punti di misura multipli.
Anche con campioni di grandi dimensioni, le misure possono essere effettuate sull'intera superficie del campione.
Messa in funzione.
Estremamente veloce e semplice
A misura di cliente.
L'ampia gamma di modelli offre la soluzione ottimale per le vostre applicazioni
Misure rapide.
Il campione viene posizionato ed è pronto per la misura in pochi passaggi.
Caratteristiche
Tubo radiogeno standard
Collimatori: fissi
Filtri primari: fissiE' possibile misurare campioni con altezza fino a 140 mm
Punto di misura più piccolo ca: Ø 0,2 mm
Determinazione del contenuto di metallo nei bagni galvanici tramite i relativi accessori
Strumento conforme alle norme di sicurezza
Rilevatore a contatore proporzionale per tempi di misura rapidi
Esempi di applicazione
- Rivestimenti galvanici come zinco sul ferro come protezione dalla corrosione
- Test su pezzi prodotti in serie
- Rivestimenti decorativi di cromo, ad esempio Cr/Ni/Cu/ABS
- Tutti i rivestimenti di cromo tipici, come il Cr(VI) e quelli nuovi come il Cr(III)
- Misurazione di rivestimenti funzionali in oro su PCB come Au/Ni/Cu/PCB
- Rivestimenti di connettori e contatti nell'industria elettronica come Au/Ni/Cu e Sn/Ni/Cu
- Determinazione del contenuto metallico dei bagni galvanici
Avete altre applicazioni? Allora contattateci!
Note applicative
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MBVideo del prodotto
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