FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
circa. Ø 0,2 µm
3 filtri intercambiabili
per un'estrema accuratezza di rilevamento e un'elevata risoluzione
Analisi XRF dei PCB per i professionisti.
La combinazione di un potente rilevatore di deriva al silicio, di un multi-collimatore e di filtri intercambiabili rende gli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB destinati alla misura di piccole strutture su PCB.
Esperti di PCB.
Soluzioni di misura specifiche per i circuiti stampati, conformi agli standard IPC
Per affrontare tutte le sfide.
Risultati affidabili e veloci per compiti di misura ambiziosi
Completamente automatizzabile.
Lasciate che il vostro strumento lavori per voi
Accurato e preciso.
Posizionamento del punto di misura su piccole strutture grazie al riconoscimento automatico dell'immagine.
Messa in funzione.
Estremamente veloce e semplice
Trasmissione, valutazione ed esportazione dei dati di misura in tempo reale con WinFTM®, il software applicativo più potente del mercato.
Con la serie di strumenti intuitivi per PCB, Fischer offre soluzioni di misura specifiche per i PCB.
Strumento per la misura di piccole strutture, multistrati, rivestimenti funzionali e rivestimenti sottili < 0,1 μm.
Tutti gli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY sono caratterizzati da un'eccellente stabilità a lungo termine. Ciò riduce notevolmente il processo per la calibrazione e fa risparmiare tempo e denaro.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno
Tavolo di misura fisso, per PCB fino a 610 × 610 mm, con un tavolo opzionale di 1200 x 900 mm o in versione automatizzata, a seconda del modello
Punto di misura ca: Ø 0,2 mm
Collimatore a 4 posizioni e filtri a 3 posizioni
E' possibile misurare campioni con altezza fino a 10 mm
Rilevatore di deriva al silicio di grandi dimensioni per la massima precisione su strati sottili
Esempi di applicazione
- Misura dei componenti e delle strutture più piccole su PCB fino a 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Misura di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori
- Analisi di rivestimenti molto sottili ≤ 0,1 μm
- Determinazione del contenuto di piombo nelle saldature
- Determinazione di sistemi multistrato complessi
- Determinazione diretta del fosforo nei rivestimenti NiP
- Soddisfa i requisiti ENIG/ENEPIG
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