FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB

Il prodotto può variare in base al modello o alle caratteristiche

 

Il tuttofare di fascia alta.

Strumento per misure su piccole strutture, rivestimenti multistrato, rivestimenti funzionali e rivestimenti sottili < 0,1 µm.

Punto di misura più piccolo
circa. Ø 0,2 µm
4 collimatori intercambiabili
3 filtri intercambiabili
Grande Rilevatore di deriva del silicio
per un'estrema accuratezza di rilevamento e un'elevata risoluzione

Analisi XRF dei PCB per i professionisti.

La combinazione di un potente rilevatore di deriva al silicio, di un multi-collimatore e di filtri intercambiabili rende gli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB destinati alla misura di piccole strutture su PCB.

Esperti di PCB.

Soluzioni di misura specifiche per i circuiti stampati, conformi agli standard IPC

Per affrontare tutte le sfide.

Risultati affidabili e veloci per compiti di misura ambiziosi

Completamente automatizzabile.

Lasciate che il vostro strumento lavori per voi

Accurato e preciso.

Posizionamento del punto di misura su piccole strutture grazie al riconoscimento automatico dell'immagine.

Messa in funzione.

Estremamente veloce e semplice

  • Caratteristiche

      Tubo microfocale con anodo di tungsteno

      Tavolo di misura fisso, per PCB fino a 610 × 610 mm, con un tavolo opzionale di 1200 x 900 mm o in versione automatizzata, a seconda del modello

      Punto di misura ca: Ø 0,2 mm

      Collimatore a 4 posizioni e filtri a 3 posizioni

      E' possibile misurare campioni con altezza fino a 10 mm

      Rilevatore di deriva al silicio di grandi dimensioni per la massima precisione su strati sottili

  • Esempi di applicazione

      • Misura dei componenti e delle strutture più piccole su PCB fino a 610 x 610 mm (24 x 24 in)
      • Misura di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori
      • Analisi di rivestimenti molto sottili ≤ 0,1 μm
      • Determinazione del contenuto di piombo nelle saldature
      • Determinazione di sistemi multistrato complessi
      • Determinazione diretta del fosforo nei rivestimenti NiP
      • Soddisfa i requisiti ENIG/ENEPIG

      Avete altre applicazioni? Allora contattateci!

Note applicative
Tutorial
Webinar
Cataloghi
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

Fischer Insights.

Metodo di misurazione.

Imparate e scoprite come funziona l'analisi di fluorescenza a raggi X.

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