FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
metodo brevettato DCM
alle norme di sicurezza
automatizzabile
Analisi di fluorescenza a raggi X per clienti esigenti.
Sottile, più sottile, XDAL®: grazie al tubo microfocale e ai vari rilevatori a semiconduttore, la serie FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® è ideale per applicazioni nel campo dei rivestimenti sottili e sottilissimi < 0,05 μm e per l'analisi dei materiali nell'intervallo dei ppm. La versione dello strumento con rilevatore di deriva al silicio da 50 mm² è inoltre adatta alle misure RoHS. L'XDAL®, flessibile e universale, grazie alle varie opzioni di configurazione (tavolo, collimatore, filtro e rilevatore), misura in modo affidabile e preciso ed è sinonimo di sicurezza al 100%.
Messa in funzione.
Estremamente veloce e semplice
Un solo strumento, molte possibilità.
Misura dello spessore del rivestimento, analisi dei materiale e analisi delle tracce
Possibiltà di misurare in diversi punti.
Anche con campioni di grandi dimensioni, si possono efettuare le misure sull'intera superficie del pezzo.
Anche per campioni di grandi dimensioni.
Cappa con scanalatura a C
Completamente automatizzabile.
Lasciate che il vostro strumento lavori per voi con un semplice clic.
Design compatto.
Ottimo compromesso tra prestazioni ed ingombro
Trasmissione, valutazione ed esportazione dei dati di misura in tempo reale con WinFTM®, il software applicativo più potente del mercato.
Ridurre al minimo il rischio nell'ispezione delle merci in entrata: eliminare i diversi lotti di saldatura grazie al tavolo di misura programmabile e al rilevatore di semiconduttori.
Non potrebbe essere più comodo: distanza di misura continua con una misura dall'alto e una calibrazione ex-novo.
Caratteristiche
Tubo microfocale con anodo di tungsteno
Punto di misura ca: Ø 0,15 mm
PIN al silicio e rilevatore di deriva al silicio per un'ottima precisione ed un'elevata risoluzione
Filtri intercambiabili (3)
Strumento conforme alle norme di sicurezza
Determinazione del contenuto di metallo nei bagni galvanici con i relativi accessori
Collimatori intercambiabili (4)
E' possibile misurare campioni con altezza fino a 140 mm
Varie opzioni di tavoli di misura
Esempi di applicazione
- Analisi di rivestimenti sottili e molto sottili ≤ 0,05 μm
- Misura di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio su telai di piombo, contatti di spine o PCB
- Determinazione di sistemi multistrato complessi
- Misure automatizzate, ad esempio nel controllo qualità
- Determinazione del contenuto di piombo nelle saldature
- Con la versione SDD (20 mm² o 50 mm²):
- Determinazione del contenuto di fosforo negli strati di NiP
- Soddisfa i requisiti ENIG/ENEPIG
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