FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Il tuttofare di fascia alta
XDV®-SDD è uno dei più potenti analizzatori di fluorescenza da raggi X proposti da Fischer. Questo spettrometro XRF è dotato di un rilevatore Silicon Drift Detector (SDD) particolarmente sensibile. Ciò consente di misurare in modo non distruttivo anche gli strati più sottili, ad es. rivestimenti dorati spessi circa 2 nm su cornici di piombo .;
Allo stesso tempo, XDV-SDD è perfetto per l'analisi non distruttiva dei materiali. Ad esempio, la sua sensibilità di rilevamento per tracce di piombo in plastica è di circa 2 ppm - ordini di grandezza decisamente inferiori ai valori richiesti da RoHS o CPSIA.
Per poter creare le condizioni ideali per ogni misurazione, XDV-SDD è dotato di collimatori e filtri primari intercambiabili consentendo l'esecuzione del compito a livello scientifico. Il dispositivo estremamente solido è comunque facile da usare ed è progettato appositamente per i test in serie nell' uso industriale. Funzionalità come la fase di misurazione ad estensione automatica e l'immagine dal vivo del sito di misurazione semplificano l'attività quotidiana.
Caratteristiche
- Analizzatore di fluorescenza da raggi X universale premium per misure automatizzate di rivestimenti molto sottili (; 0,05 μm) e per analisi di materiali sottili nella gamma sub per mil secondo gli standard ISO 3497 e ASTM B 568
- Rivelatore di deriva al silicio estremamente potente di Fischer con superficie di efficacia extra-large (SDD 50 mm²)
- 6 filtri primari intercambiabili e 4x collimatori intercambiabili per ottimizzare le condizioni di misurazione
- Analisi degli elementi luminosi come alluminio, silicio e fosforo
- Altezze dei campioni fino a 14 cm
- Stadio XY programmabile ad alta precisione con precisione di posizionamento di 5 µm per misure automatizzate su piccole strutture;
- Struttura estremamente resistente per test seriali, con elevata stabilità a lungo termine
- Dispositivo di protezione certificato
Applicazioni
- Test di rivestimenti molto sottili nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad es. strati di oro e palladio di spessore inferiore a 50 nm;
- Misurazioni dei rivestimenti di materiali duri nella produzione automobilistica
- Misurazione dello spessore di rivestimento nell'industria fotovoltaica
- Analisi di tracce di sostanze pericolose come piombo e cadmio secondo RoHS, RAEE, CPSIA e altre direttive previste per l'elettronica, l'imballaggio e i beni di consumo
- Analisi e prove di autenticità dell'oro e di altri metalli preziosi e delle loro leghe
- Determinazione diretta del contenuto di fosforo nei rivestimenti funzionali NiP
Casi di studio
