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Caratteristiche

  • Misurazione simultanea di un massimo di 24 elementi, da Al (13) a U (92), XDV-μ LD: S (16) -U (92)
  • Ottica policapillare avanzata che focalizza il fascio di raggi X fino a 10 μm (FWHM) per la misura su microstrutture
  • Riconoscimento programmabile di XY e pattern per misurazioni automatiche su più campioni
  • Estensione della fase del campione per un facile posizionamento del campione
  • Processo di calibrazione guidato
  • Design robusto per un uso a lungo termine
  • Microscopio ottico (ingrandimento 270x) con video, puntatore laser per visualizzare l'esatto punto di misura
  • Analisi dei parametri fondamentali per misurazioni senza calibrazione
  • Conforme a IPC-4552A, 4553A, 4554 e 4556, ASTM B568, ISO 3497
  • Gli standard certificati Fischer si basano su unità di base riconosciute a livello internazionale

Applicazioni

  • Rivestimenti Au/Pd/Ni/CuFe e Sn/Ni nella gamma di micro e nanometri
  • Schede di circuiti assemblati e non assemblati
  • Test degli strati di metallizzazione di base ( metallizzazione under-bump, UBM) nella gamma dei nanometri
  • Misurazione di elementi luminosi, ad es. determinazione del contenuto di fosforo (in ENEPIG ed ENIG) in Au e Pd
  • Tappi per saldatura senza piombo su pilastri in rame
  • Test della composizione elementare C4, di piccoli rilievi di saldatura e piccole superfici di contatto nell'industria dei semiconduttori

Rilievi di saldatura? PCB? Quadri conduttori? Misura tutto questo e molto altro con un solo strumento!

Gli spettrometri FISCHERSCOPE® XDV®-μ sono la serie di fluorescenza a raggi X di fascia alta di Fischer, dedicata alla misura precisa dello spessore dello strato e all'analisi del materiale su strutture più piccole. Tutte le unità sono dotate di ottica policapillare che focalizza il raggio radiografico su 10μm (FWHM). L'ottica policapillare produce un'alta intensità di radiazione, che rispetto all'ottica con collimatore riduce drasticamente il tempo di misurazione;

Tutti gli strumenti Fischer XRF sono forniti con il software versatile WinFTM, che consente di misurare un'ampia gamma di applicazioni con livello di precisione superiore. WinFTM dispone inoltre di uno strumento di generazione di report integrato che con un solo clic ti consente di creare singoli report. I software WinFTM offre anche la calibrazione guidata;

gli strumenti XDV-μ funzionano tramite una serie di filtri e le impostazioni di tensione e corrente, che consentono di creare le condizioni di eccitazione migliori per applicazioni complesse per un massimo di 24 elementi. Inoltre, XDV-μ dispone di un software programmabile XY per il riconoscimento di fasi e pattern per semplificare al massimo l'automatizzazione delle misure su più campioni

Nella versione standard, XDV-μ è dotato di un tubo a raggi X al tungsteno per un'elevata precisione nelle applicazioni generiche. Sono inoltre disponibili le varianti per molibdeno e cromo .;

Gli strumenti XDV-μ sono dotati di un rilevatore di deriva in silicone di grandi dimensioni (superficie di efficacia di 50 mm²) e del nuovo processore digitale di impulsi (DPP +). Insieme, questi componenti consentono tassi di conteggio molto elevati, che servono a ridurre al minimo i tempi di misurazione ottimizzando la ripetibilità.

Strumenti specializzati per applicazioni speciali

La serie XDV-μ offre dispositivi specializzati nelle misurazioni per applicazioni specifiche nei settori dell'elettronica e dei semiconduttori. Ad esempio, XDV-μ LD è adattato per le misure su PCB assemblati, XDV-μ Wafer ha un mandrino automatizzato per wafer mentre XDV-μ LEAD FRAME è ottimizzato per la misura dei rivestimenti dei quadri conduttori.

Vuoi saperne di più? Inviaci il tuo campione oppure richiedi subito una dimostrazione gratuita della serie XDV-μ!

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