FISCHERSCOPE X-RAY Serie PCB

La serie professionale per testare i circuiti stampati

I circuiti stampati di oggi hanno un gran numero di punti di contatto rivestiti. Per garantire l'affidabilità dei giunti saldati, la resistenza alla corrosione e la durata di conservazione, i rispettivi spessori dei vari materiali devono rigorose in relazione corretta. Per monitorare queste strette è la scelta ottimale, la fluorescenza a raggi X a dispersione di energia è il metodo di scelta.

Con la serie PCB, Helmut Fischer offre soluzioni di misurazione specializzate per i circuiti stampati. Gli specialisti della misurazione delle schede PCB forniscono risultati affidabili e veloci sia per compiti di misurazione semplici che ambiziosi e per la misurazione dello spessore degli strati fino all'ordine dei nanometri.

Sono disponibili diversi modelli a seconda delle vostre esigenze. Chiamateci! Siamo qui per voi.

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Per misurazioni semplici e controlli a campione, il FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB è lo strumento XRF ideale. Come robusto strumento entry-level, lo spettrometro XRF è dotato di un rilevatore a tubo contatore proporzionale, che consente di ottenere tempi di misurazione brevi.

Si tratta di uno spettrometro con tubo microfocale in tungsteno.
Tubo microfocale in tungsteno per applicazioni standard
Il più piccolo punto di misura Ø circa 0. 15 mm
Contatore a tubo proporzionale per l'analisi di elementi dal potassio (19) all'uranio (92)
Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
Piano porta campione ampio e fisso per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
Altezza massima del campione 90 mm
Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB è anche dotato di un tubo contatore proporzionale. Tuttavia, questo strumento XRF ha una varietà di collimatori e filtri in modo da poter creare le condizioni di misurazione ottimali per il vostro compito. Nella configurazione di base, ha uno stadio campione estraibile, che semplifica il posizionamento del PCB. Su richiesta, è disponibile anche uno stadio XY programmabile per misure automatizzate.

Tubo microfocale al tungsteno per applicazioni standard
Apertura variabile 4x opzionale per condizioni di misura ottimizzate
Filtro variabile 3x opzionale per migliori condizioni di eccitazione per compiti più complessi
Il più piccolo punto di misura Ø circa 0. 15 mm
Contatore a tubo proporzionale per l'analisi di elementi dal potassio (19) all'uranio (92)
Tavolo di misura estraibile manualmente o programmabile per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
Altezza massima del campione: 5 mm
Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

A differenza del XULM-PCB e XDLM-PCB, il FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB è dotato di un rilevatore di deriva al silicio (SDD) altamente sensibile, diverse aperture e filtri. Questo crea condizioni di misurazione ottimali anche per le prove dei rivestimenti ENIG ed ENEPIG. Nella sua configurazione di base, lo strumento ha un tavolo di campionamento a scomparsa che semplifica il posizionamento del PCB. Su richiesta, questo può essere equipaggiato con un'estensione del tavolo di campionamento per PCB di grandi dimensioni.

Tubo microfocale al tungsteno o al cromo
4x apertura variabile per condizioni di misura ottimizzate
3x filtro variabile per condizioni di eccitazione ottimali per compiti più complessi
Punto di misura più piccolo Ø circa 0. 15 mm
Rivelatore di deriva al silicio (SDD) per analisi di elementi dall'alluminio (13) all'uranio (92)
Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
Piano porta campione estraibile manualmente per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
Altezza massima del campione 10 mm
Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

Nelle applicazioni ad alta affidabilità, i circuiti stampati sono componenti critici per la qualità. In questi casi, vengono impiegati rivestimenti di fascia alta secondo i processi ENIG e ENEPIG. Poiché gli spessori degli strati più sottili in questi processi sono compresi tra 40 e 100 nm, la precisione dei tubi contatori proporzionali non è più sufficiente si rivela monitorare il processo. È qui che il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB è la scelta giusta. La combinazione di un rilevatore di deriva al silicio (SDD) altamente sensibile e di un'ottica policapillare permette di effettuare misure precise su strutture di dimensioni inferiori a 50 µm.

Soprattutto quando si ha a che fare con strutture molto piccole, selezionare individualmente ogni posizione di misurazione può richiedere molto tempo se si deve ispezionare un gran numero di campioni casuali. Ma con il software di riconoscimento delle immagini implementato da Fischer, potete risparmiarvi questo sforzo. Basta memorizzare una sezione dell'immagine. Il PCB XDV-µ cerca le strutture corrispondenti e le misura automaticamente.

Tubo Microfocus Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sui punti più piccoli con µ-XRF; anodo in molibdeno opzionale
4x apertura variabile per condizioni di misura ottimizzate
4x filtro variabile per condizioni di eccitazione ottimali per compiti più complessi
Ottica policapillare per punti di misura molto piccoli Ø ca. 20 o 10 µm
Rivelatore di deriva al silicio (SDD) per l'analisi di elementi dall'alluminio (13) all'uranio (92)
Tavolo di misura programmabile, opzionalmente con supporto a vuoto per FLEX PCB
Altezza massima del campione < 4-5 mm
Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione
Processore di impulsi digitale DPP+. Tempi di misura ancora più brevi con la stessa deviazione standard*
_{*Rispetto al DPP}

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