XUV

La camera di misurazione a depressione degli apparecchi della serie XUV® consente di verificare la presenza di materiali luminosi dal sodio in avanti tramite l'analisi a fluorescenza da raggi X (RFA). Date le proprietà di assorbimento delle radiazioni dell'aria ambiente, di norma non è possibile utilizzare questo metodo. Per questo motivo lo strumento è ideale per compiti molto esigenti di misurazione dello spessore di rivestimento e di analisi dei materiali.

XUV

Caratteristiche:

  • Particolarmente indicati nell'ambito della ricerca e sviluppo grazie ai loro bassi limiti di rilevamento, la precisione ripetibile e le possibilità di misurazione migliorabili a livello universale
  • Camera a depressione e rilevatore a deriva in silicio ad alte prestazioni per misurazioni precise, persino di elementi luminosi
  • Controllo seriale automatizzato con asse X, Y e Z programmabili
  • Possibilità di adattamento alle esigenze dei vari materiali e alle condizioni di misurazione tramite aperture e filtri intercambiabili

Applicazioni:

Misurazione dello spessore del rivestimento

  • Strati di elementi luminosi dal sodio in avanti in scala nm
  • Strati di alluminio e silicio

Analisi dei materiali

  • Determinazione dell'autenticità e della provenienza delle pietre preziose
  • Analisi generale dei materiali e scienza forense
  • Analisi di tracce ad alta risoluzione

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