XDL / XDLM / XDAL

Grazie agli assi motorizzati (opzione) e alla direzione di misurazione dall'alto verso il basso, gli strumenti della serie XDL® consentono prove seriali automatizzate. Numerose versioni – che differiscono per la sorgente di raggi X, il filtro, l'Apertura e il rilevatore – consentono di selezionare l'apparecchio a raggi X configurato in modo ottimale per lo specifico compito di misurazione.

Serie XDL

Caratteristiche:

  • Strumenti a fluorescenza da raggi X per svariati compiti di misurazione grazie ai diversi componenti hardware
  • Data la distanza di misurazione variabile (fino a 80 mm), sono indicati anche per il controllo di circuiti stampati assemblati o parti con indentazioni
  • Controllo seriale automatizzato con tavola XY e asse Z programmabili (opzione)
  • Ideali per la misurazione di strati molto sottili tramite l'impiego di un rilevatore a deriva in silicio con elevata risoluzione energetica (apparecchio XDAL)

Applicazioni:

Misurazione dello spessore del rivestimento

  • Misurazione dei rivestimenti su schede di grandi dimensioni e circuiti stampati flessibili (PCB flex)
  • Sottili strati conduttivi e/o separatori su circuiti stampati
  • Rivestimenti su componenti tridimensionali
  • Rivestimenti in cromo, per esempio articoli in plastica con finitura decorativa in cromo

Analisi dei materiali

  • Analisi dei bagni di elettroplaccatura
  • Analisi dei rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori
  • Analisi dei rivestimenti in metallo duro, per esempio CrN, TiN o TiCN

Contatto con FISCHER

Contact

Helmut Fischer s.r.l. Tecnica di Misura
Via G. Di Vittorio 307/29
Sesto San Giovanni (MI)/Italia
Tel.: (+39) 02 255 26 26
E-mail: italy@helmutfischer.com
Modulo di contatto online

Informazione