Strumenti di misura da banco

Gli strumenti da banco Fischer per la misurazione dello spessore di rivestimento – che utilizzano la fluorescenza da raggi X o la tecnologia di misurazione tattile con svariate sonde – offrono un livello di prestazioni e di flessibilità imbattibile. Data l'ampia gamma di tecniche di misurazione applicate, questi strumenti offrono la soluzione giusta per qualsiasi tipo di compito. Gli strumenti da banco possono essere facilmente integrati nei sistemi produttivi e di gestione qualità tramite interfacce software e hardware.

XAN500

Uno strumento, tre utilizzi di lavoro: il versatile strumento XAN®500 è un dispositivo XRF portatile, ma si converte in un'unità desktop e può essere integrato nelle linee di produzione.

MMS PC2

Sistema modulare per molteplici tecniche di misurazione: ideale per compiti variabili legati alla misurazione dello spessore di rivestimento e alla prova dei materiali.

BETASCOPE

Misurazione dello spessore di rivestimento tramite il metodo a retrodiffusione beta: per strati sottili, anche inferiori a 3 µm, così come per strati morbidi o rivestimenti in materiale plastico.

CMS2

Strumento da banco per la misurazione dello spessore di pressoché tutti i rivestimenti metallici, inclusi i multistrati, su substrati metallici o non metallici.

GOLDSCOPE

Gli strumenti a fluorescenza da raggi X della serie GOLDSCOPE sono progettati appositamente per analizzare l'Oro e altri metalli preziosi

XAN

Strumenti di misura per l'analisi rapida ed economicamente vantaggiosa di gioielli in oro e altri metalli preziosi.

XUL / XULM

Robusti strumenti di misura basati sulla fluorescenza da raggi X per una misurazione rapida ed economicamente vantaggiosa dello spessore di rivestimento, in particolare nell'industria dell'elettroplaccatura.

XDL / XDLM / XDAL

Gli strumenti XDL sono dei veri tuttofare: grazie ad ampie opzioni di configurazione sono ideali per le misurazioni manuali o il controllo seriale degli spessori di rivestimento e delle composizioni di materiale.

XDV-SDD

The FISCHERSCOPE® XDV-SDD was designed to meet the highest demands in coating thickness measurement and material analysis.

XDV-µ

Strumenti a fluorescenza da raggi-X ad elevate prestazioni, inclusi modelli adattati in particolare alle esigenze dell'industria elettronica e dei semiconduttori

XUV

Strumenti a fluorescenza da raggi X con camera a depressione per l'analisi degli elementi luminosi.

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Helmut Fischer s.r.l. Tecnica di Misura
Sesto San Giovanni (MI)/Italia

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