Se si utilizzano metodi comuni per la deposizione chimica o elettrolitica del nichel è prevista l'integrazione del fosforo, la cui concentrazione influenza in modo significativo le proprietà meccaniche e magnetiche di un rivestimento. La misura del contenuto di fosforo è quindi un problema sin da quando per le applicazioni tecniche è stato introdotto il Ni senza elettrolisi.
Fino ad ora, l'analisi della fluorescenza da raggi X - ampiamente utilizzata nel settore della galvanica per la misura dello spessore del rivestimento e l'analisi del rivestimento - era in grado di determinare la concentrazione di fosforo esclusivamente in maniera diretta attraverso la valutazione del segnale del materiale del substrato, limitando l'applicabilità della tecnica ai sistemi con supporti costituiti da un solo elemento pesante. Inoltre, era richiesto uno spessore minimo del rivestimento di circa 4 µm.
Tuttavia, utilizzando FISCHERSCOPE® X-RAY con il rilevatore Silicon Drift Detector (SDD) ad alta risoluzione, il segnale di fluorescenza del fosforo può essere misurato in maniera diretta, purché siano selezionate correttamente le condizioni di eccitazione.
Gli approfondimenti sono molto superficiali: La radiazione di fluorescenza proveniente dal solo punto superiore 1 µm rientra nella valutazione degli spettri; pertanto, l'interferenza può essere ampiamente esclusa dal riflesso di diffrazione. L'incertezza di misurazione del contenuto di fosforo è di circa lo 0,5 percento in massa.
Dal momento che la misura dello spessore di un rivestimento NiP viene eseguita in condizioni di eccitazione diverse rispetto alla determinazione della concentrazione di P, queste due applicazioni di misura si completano a vicenda. Utilizzando i rispettivi standard di calibrazione (con Fe, Cu, Al e PCB come materiali di substrato) di FISCHER è possibile garantire la tracciabilità.
La combinazione tra tecnologia di rilevamento all'avanguardia come SDD, eccitazioni multiple in diverse modalità e il potente software di analisi, WinFTM®, consente misure affidabili e accurate dello spessore del rivestimento e del contenuto di fosforo dei rivestimenti in nichel chimico su un'ampia varietà di materiali di substrato. FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD riunisce tutte queste caratteristiche in un unico strumento.