Scoprite i nostri nuovi FISCHERSCOPE® XDAL® e XDV®, insieme al software all'avanguardia FISIQ® X.  Per saperne di più!

Semiconduttori

Misurazione ad alta precisione dello spessore del rivestimento e analisi dei materiali di multistrati e microstrutture ultrasottili

Come è possibile misurare e analizzare in modo affidabile sistemi multistrato e microstrutture ultrasottili e complesse, mantenendo i più elevati standard di controllo della qualità nella produzione di semiconduttori?

Con i nostri strumenti XRF, vi offriamo soluzioni ad alte prestazioni per la misurazione precisa dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali dei vostri semiconduttori al silicio e composti. Che abbiate bisogno di un sistema completamente automatizzato o di uno strumento compatto da banco, vi forniamo la soluzione di misura giusta, anche per le applicazioni elettroniche

Esigete il meglio. Fidatevi di FISCHER.

Leader di mercato in
prestazioni di misurazione
Completamente e parzialmente automatizzato
soluzioni - su misura per le vostre esigenze
Il miglior software della categoria
- intuitivo, efficiente, potente
Ottica policapillare per
dimensioni minime degli spot
Eccellente
Servizio clienti FISCHER
Fornitura affidabile di ricambi
con parti originali FISCHER

Applicazioni

La nostra tecnologia di misura è apprezzata in tutto il mondo da numerosi clienti dell'industria dei semiconduttori e dell'elettronica. Affidabilità, efficienza e soprattutto prestazioni di misura leader di mercato rendono i nostri strumenti indispensabili. Scoprite l'ampia gamma di applicazioni, dal confezionamento dei wafer e dal packaging avanzato fino ai semiconduttori ad alta potenza e alle applicazioni elettroniche, in cui le nostre soluzioni offrono vantaggi reali e misurabili.

Cornici di piombo

Componenti essenziali dei processi di confezionamento di base, i lead frame fungono da supporto meccanico e collegamento elettrico tra la matrice e le connessioni esterne di un alloggiamento. Spesso sono rivestiti con multistrati complessi. Questi includono strati di oro e palladio con spessori dell'ordine dei nanometri, mentre lo strato di nichel ha solitamente uno spessore di diversi micrometri. La struttura a filigrana di questo supporto di piombo rende le misure altamente soggette a errori e complica il controllo di qualità. Scoprite come potete affrontare questa sfida insieme a noi!

Piste di atterraggio

Nelle tecnologie di confezionamento dei semiconduttori, servono come punti di contatto di base su un chip, ad esempio per attaccare i fili durante il wire bonding o per saldare le protuberanze durante il confezionamento dei flip chip. Poiché le piazzole di atterraggio sono realizzate in metalli come l'alluminio, il rame o il nichel, di solito sono dotate di rivestimenti protettivi o di passivazione per prevenire la corrosione e la diffusione del metallo. Siete alla ricerca di una soluzione di misura rapida e affidabile?

BGA

I Ball Grid Array (BGA) sono un tipo di alloggiamento per circuiti integrati (IC) e microprocessori utilizzato per il montaggio su PCB. Offrono un'alta densità di connessioni, che sono disposte come una matrice microscopica di sfere di saldatura sotto l'alloggiamento. Scoprite come le nostre soluzioni di misura avanzate rendono il test dei BGA veloce e affidabile!

UBM

La metallizzazione sotto le protuberanze (UBM) di alta qualità è fondamentale per le prestazioni e l'affidabilità delle connessioni dei flip chip. Di solito viene applicata alle piazzole metalliche per garantire una migliore saldabilità e adesione delle bumps di saldatura in un secondo momento del processo. Inoltre, l'UBM forma uno strato barriera contro la diffusione del metallo, migliorando così la connessione tra chip e package. Siete pronti a scoprire come le nostre soluzioni vi supportano nella misurazione dell'UBM?

Urti a saldare

Nei processi di flip chip o di confezionamento avanzato, come le tecnologie di confezionamento a livello di wafer, 2,5D e 3D, per collegare i chip al substrato o ai wafer su substrato (CoWoS) si utilizzano bumps di saldatura, pillar bumps di rame e bumps di oro. Per una corretta funzionalità e per ragioni di costo, l'esatta composizione del materiale - in particolare la concentrazione di SnAg - dei diversi tipi di bumps e lo spessore del rivestimento giocano un ruolo fondamentale. Esplorate le nostre soluzioni di misura per questa sfida!

RDL

Gli strati di ridistribuzione (RDL) sono componenti critici del packaging a livello di wafer (WLP), soprattutto nelle tecnologie avanzate come il Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP). Vengono utilizzati per ridistribuire le posizioni di connessione di un chip in modo che si adattino a un layout standardizzato per diversi progetti di packaging. Poiché le tracce conduttive degli RDL sono per lo più in rame, vengono applicati anche sottili strati di titanio, cromo o nichel per evitare la diffusione del rame nei materiali isolanti e ottenere una migliore adesione. Volete scoprire come vi aiutano le nostre soluzioni di misura?

Metallizzazione posteriore

La metallizzazione posteriore è una fase di processo chiave nella produzione di semiconduttori e sensori ad alta potenza, ad esempio i sensori MEMS. Selezionando con cura gli strati e la loro sequenza di combinazione, la metallizzazione posteriore può essere adattata in modo ottimale ai requisiti specifici del rispettivo componente semiconduttore in termini di proprietà elettriche, meccaniche e termiche. Siete alla ricerca di una soluzione di misura per testare le vostre metallizzazioni posteriori?

Contatti a molla / Pogo pin

I pogo pin, o pin a molla, sono meccanismi di connessione elettrica collocati sui wafer per il test dei wafer mediante schede di sonda. Per ottenere risultati assolutamente affidabili in questo processo di test, i rivestimenti funzionali dei pogo pin devono essere di alta qualità. È qui che entrano in gioco i nostri dispositivi XRF. Scoprite come le nostre soluzioni di misura avanzate rendono il test dei pogo pin facile e preciso!

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Le nostre soluzioni per le vostre sfide

Applicazioni principali

Metallizzazione sul retro, landing pad, micro pad, schermatura RoHS

Le vostre sfide

  • Misurare leghe diverse e multistrati complessi
  • Misurazione di campioni di piccole e grandi dimensioni
  • Analisi di elementi in traccia con limiti di rilevazione molto bassi

I nostri prodotti principali

  • Collimatori di varie dimensioni fino a 3 mm e filtri per uso universale
  • Massima precisione e misure brevi grazie a componenti e geometria di misura ottimizzati
  • Tavolo di misura programmabile per misure automatizzate
  • Software leader di mercato con flussi di lavoro efficienti

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

Spot piccolissimi, massima precisione.

Per saperne di più

Applicazioni principali

Cornici di piombo, fili sottili, bumps di saldatura, micro pad, componenti SMD, pogo pin, BGA, UBM, RDL

Le vostre sfide

  • Misura su microstrutture
  • Misurazione di campioni piatti e multistrati ultrasottili

I punti salienti dei nostri prodotti

  • Varie opzioni di filtri, rivelatori e ottiche policapillari per punti di misura minimi e massima precisione
  • Alloggiamento con scanalatura a C per una facile gestione di campioni piatti e di grandi dimensioni
  • Software leader di mercato per compiti di misura impegnativi

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Spot piccolissimi, massima distanza di misurazione.

Per saperne di più

 

Applicazioni principali

PCB assemblati, connettori, pin pogo

Le vostre sfide

  • Gestione di campioni di dimensioni diverse e forme complesse
  • Misurare campioni con assemblaggi o livelli diversi
  • Misurazione di microstrutture
  • Misurazione di multistrati ultrasottili

I punti salienti dei nostri prodotti

  • Misura di caratteristiche minime su campioni di forma complessa grazie alla nostra esclusiva ottica policapillare da 35 µm con ampia distanza di misura, ad esempio per wafer con potenziale deformazione
  • Alloggiamento con scanalatura a C per una facile gestione di campioni piatti e di grandi dimensioni
  • Software leader di mercato per compiti di misura impegnativi

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER

Tecnologia all'avanguardia per applicazioni su wafer.

Per saperne di più

 

Applicazioni principali

Bumps a saldare, pillar bumps in rame, bumps in oro, piccole superfici di contatto, micro pads, UBMs, RDLs

Le vostre sfide

  • Misurare film sottili e microstrutture su wafer con diametri da 6'' a 12''.
  • Gestione di wafer con potenziale deformazione
  • Soddisfare i requisiti della camera bianca

I punti salienti dei nostri prodotti

  • Varie opzioni di rivelatori e ottiche policapillari per la massima precisione su strati sottili
  • Mandrino per wafer sotto vuoto o manipolazione personalizzata dei wafer con appiattimento meccanico
  • Ampie opzioni di automazione con software leader di mercato

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI

La prima scelta per la misurazione automatizzata dei wafer.

Per saperne di più

Applicazioni principali

Bumps a saldare, pillar bumps in rame, bumps in oro, piccole superfici di contatto, micro pads, UBMs, RDLs

Le vostre sfide

  • Automazione del processo di misura dei wafer
  • Gestire un'elevata produttività
  • Gestire wafer con potenziale deformazione
  • Soddisfare i requisiti della camera bianca

I nostri prodotti in evidenza

  • Sistema di misura completamente automatizzato con FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER integrato e sistema di movimentazione automatizzato dei wafer
  • Varie opzioni di rivelatori e ottiche policapillari per la massima precisione su strati sottili
  • Software leader di mercato per aumentare l'efficienza

SOLUZIONI PERSONALIZZATE

La soluzione giusta per il vostro compito di misura.

Costruzione di sistemi personalizzati su richiesta, completamente o semi-automatizzati. Su misura per la vostra applicazione, implementiamo fasi di processo aggiuntive, come l'appiattimento meccanico dei wafer. Grazie alla collaborazione con i partner locali di integrazione, evitiamo i lunghi tempi di consegna.

Offriamo anche altri metodi di misura oltre all'XRF. Per ulteriori informazioni, contattateci direttamente.