Semiconduttori

Misurazione ad alta precisione dello spessore del rivestimento e analisi dei materiali di multistrati e microstrutture ultrasottili
Come è possibile misurare e analizzare in modo affidabile sistemi multistrato e microstrutture ultrasottili e complesse, mantenendo i più elevati standard di controllo della qualità nella produzione di semiconduttori?
Con i nostri strumenti XRF, vi offriamo soluzioni ad alte prestazioni per la misurazione precisa dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali dei vostri semiconduttori al silicio e composti. Che abbiate bisogno di un sistema completamente automatizzato o di uno strumento compatto da banco, vi forniamo la soluzione di misura giusta, anche per le applicazioni elettroniche!
Esigete il meglio. Fidatevi di FISCHER.
prestazioni di misurazione
soluzioni - su misura per le vostre esigenze
- intuitivo, efficiente, potente
dimensioni minime degli spot
Servizio clienti FISCHER
con parti originali FISCHER
Applicazioni
La nostra tecnologia di misura è apprezzata in tutto il mondo da numerosi clienti dell'industria dei semiconduttori e dell'elettronica. Affidabilità, efficienza e soprattutto prestazioni di misura leader di mercato rendono i nostri strumenti indispensabili. Scoprite l'ampia gamma di applicazioni, dal confezionamento dei wafer e dal packaging avanzato fino ai semiconduttori ad alta potenza e alle applicazioni elettroniche, in cui le nostre soluzioni offrono vantaggi reali e misurabili.

Cornici di piombo
Componenti essenziali dei processi di confezionamento di base, i lead frame fungono da supporto meccanico e collegamento elettrico tra la matrice e le connessioni esterne di un alloggiamento. Spesso sono rivestiti con multistrati complessi. Questi includono strati di oro e palladio con spessori dell'ordine dei nanometri, mentre lo strato di nichel ha solitamente uno spessore di diversi micrometri. La struttura a filigrana di questo supporto di piombo rende le misure altamente soggette a errori e complica il controllo di qualità. Scoprite come potete affrontare questa sfida insieme a noi!
Risolvete il problema con FISCHER!
I nostri dispositivi XRF policapillari, come il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, sono perfettamente adatti a misurare lo spessore del rivestimento sui singoli conduttori dei lead frame.
Applicazioni principali: misurazione dello spessore del rivestimento di Au/Pd/NiP/CuFe e di altri comuni multistrati.
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Piste di atterraggio
Nelle tecnologie di confezionamento dei semiconduttori, servono come punti di contatto di base su un chip, ad esempio per attaccare i fili durante il wire bonding o per saldare le protuberanze durante il confezionamento dei flip chip. Poiché le piazzole di atterraggio sono realizzate in metalli come l'alluminio, il rame o il nichel, di solito sono dotate di rivestimenti protettivi o di passivazione per prevenire la corrosione e la diffusione del metallo. Siete alla ricerca di una soluzione di misura rapida e affidabile?
Risolvete il problema con FISCHER!
Il nostro innovativo FISCHERSCOPE® XDV® e il nostro collaudato strumento per esperti FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD sono particolarmente affermati per l'ispezione affidabile della qualità delle piste di atterraggio. Naturalmente, anche gli altri nostri strumenti XRF, come il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ o il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, sono perfettamente adatti a questa applicazione.
Applicazioni principali: misurazione dello spessore del rivestimento di substrati Au/Pd/NiP/Cu/wafer, analisi dei materiali.
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BGA
I Ball Grid Array (BGA) sono un tipo di alloggiamento per circuiti integrati (IC) e microprocessori utilizzato per il montaggio su PCB. Offrono un'alta densità di connessioni, che sono disposte come una matrice microscopica di sfere di saldatura sotto l'alloggiamento. Scoprite come le nostre soluzioni di misura avanzate rendono il test dei BGA veloce e affidabile!
Risolvete il problema con FISCHER!
Scoprite cosa significa ispezione di qualità ad alta precisione con il nostro FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ! Analizzate la composizione dei materiali delle vostre leghe BGA, compresa la verifica del loro stato di assenza di piombo, in modo rapido, accurato e affidabile.
Principali applicazioni: analisi dei materiali di SnPb, SnAgCu
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UBM
La metallizzazione sotto le protuberanze (UBM) di alta qualità è fondamentale per le prestazioni e l'affidabilità delle connessioni dei flip chip. Di solito viene applicata alle piazzole metalliche per garantire una migliore saldabilità e adesione delle bumps di saldatura in un secondo momento del processo. Inoltre, l'UBM forma uno strato barriera contro la diffusione del metallo, migliorando così la connessione tra chip e package. Siete pronti a scoprire come le nostre soluzioni vi supportano nella misurazione dell'UBM?
Risolvete il problema con FISCHER!
Per la misurazione affidabile di sistemi multistrato estremamente sottili e complessi come UBM, offriamo i nostri strumenti da banco semi-automatici FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ e FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, nonché il nostro sistema high-end completamente automatizzato FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI. Con i nostri strumenti XRF è possibile rispettare le tolleranze più ristrette e garantire le massime prestazioni dei dispositivi elettronici.
Applicazioni principali: misurazione dello spessore del rivestimento e analisi dei materiali di Au/Ni/Ti/supporto metallico pad/wafer, Au/Ni/Cu/Ti/supporto metallico pad/wafer, Pd/Ni/Cu/supporto metallico pad/wafer.
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Urti a saldare
Nei processi di flip chip o di confezionamento avanzato, come le tecnologie di confezionamento a livello di wafer, 2,5D e 3D, per collegare i chip al substrato o ai wafer su substrato (CoWoS) si utilizzano bumps di saldatura, pillar bumps di rame e bumps di oro. Per una corretta funzionalità e per ragioni di costo, l'esatta composizione del materiale - in particolare la concentrazione di SnAg - dei diversi tipi di bumps e lo spessore del rivestimento giocano un ruolo fondamentale. Esplorate le nostre soluzioni di misura per questa sfida!
Risolvete il problema con FISCHER!
Con i nostri strumenti XRF di fascia alta, come FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER e FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI, potete misurare con precisione la composizione del materiale, l'altezza e lo spessore del rivestimento delle vostre protuberanze.
Principali applicazioni: analisi del materiale e misurazione dell'altezza delle protuberanze di saldature e colonne di rame con composizioni come Sn/Ag o SnAg/Cu con Ag tra l'1 e il 3 %, misurazione dello spessore del rivestimento di protuberanze d'oro come Au/Ni/Cu/UBM/pad metallico/substrato del wafer.
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RDL
Gli strati di ridistribuzione (RDL) sono componenti critici del packaging a livello di wafer (WLP), soprattutto nelle tecnologie avanzate come il Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP). Vengono utilizzati per ridistribuire le posizioni di connessione di un chip in modo che si adattino a un layout standardizzato per diversi progetti di packaging. Poiché le tracce conduttive degli RDL sono per lo più in rame, vengono applicati anche sottili strati di titanio, cromo o nichel per evitare la diffusione del rame nei materiali isolanti e ottenere una migliore adesione. Volete scoprire come vi aiutano le nostre soluzioni di misura?
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Misurate i vostri RDL con elevata precisione e affidabilità utilizzando i nostri FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI.
Principali applicazioni: analisi dei materiali e misurazione dello spessore del rivestimento di RDL, ad esempio Ti/Cu.
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Metallizzazione posteriore
La metallizzazione posteriore è una fase di processo chiave nella produzione di semiconduttori e sensori ad alta potenza, ad esempio i sensori MEMS. Selezionando con cura gli strati e la loro sequenza di combinazione, la metallizzazione posteriore può essere adattata in modo ottimale ai requisiti specifici del rispettivo componente semiconduttore in termini di proprietà elettriche, meccaniche e termiche. Siete alla ricerca di una soluzione di misura per testare le vostre metallizzazioni posteriori?
Risolvete il problema con FISCHER!
Con il nostro innovativo successore da banco FISCHERSCOPE® XDV® o con il nostro esperto FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, potete misurare con precisione lo spessore e la composizione delle vostre metallizzazioni posteriori e garantire la qualità del vostro processo di rivestimento. Perfettamente adatti al vostro compito di misurazione e personalizzati in base alle vostre esigenze, offriamo anche soluzioni personalizzate, ad esempio i nostri mandrini per wafer per misurare strati metallici più spessi.
Principali applicazioni: misura dello spessore del rivestimento e analisi del materiale di sistemi multistrato comuni, ad esempio Ag/Ni/Ti/Al/substrato wafer.
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Contatti a molla / Pogo pin
I pogo pin, o pin a molla, sono meccanismi di connessione elettrica collocati sui wafer per il test dei wafer mediante schede di sonda. Per ottenere risultati assolutamente affidabili in questo processo di test, i rivestimenti funzionali dei pogo pin devono essere di alta qualità. È qui che entrano in gioco i nostri dispositivi XRF. Scoprite come le nostre soluzioni di misura avanzate rendono il test dei pogo pin facile e preciso!
Risolvete il problema con FISCHER!
Misurate i vostri pogo pin con i nostri FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD per contatti a molla di forma complessa.
Principali applicazioni: misurazione dello spessore del rivestimento, ad esempio della lega Au/Ni/Cu.
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Le nostre soluzioni per le vostre sfide

Gli apparecchi di fascia alta a tutto tondo.
Applicazioni principali
Metallizzazione sul retro, landing pad, micro pad, schermatura RoHS
Le vostre sfide
- Misurare leghe diverse e multistrati complessi
- Misurazione di campioni di piccole e grandi dimensioni
- Analisi di elementi in traccia con limiti di rilevazione molto bassi
I nostri prodotti principali
- Collimatori di varie dimensioni fino a 3 mm e filtri per uso universale
- Massima precisione e misure brevi grazie a componenti e geometria di misura ottimizzati
- Tavolo di misura programmabile per misure automatizzate
- Software leader di mercato con flussi di lavoro efficienti

Applicazioni principali
Cornici di piombo, fili sottili, bumps di saldatura, micro pad, componenti SMD, pogo pin, BGA, UBM, RDL
Le vostre sfide
- Misura su microstrutture
- Misurazione di campioni piatti e multistrati ultrasottili
I punti salienti dei nostri prodotti
- Varie opzioni di filtri, rivelatori e ottiche policapillari per punti di misura minimi e massima precisione
- Alloggiamento con scanalatura a C per una facile gestione di campioni piatti e di grandi dimensioni
- Software leader di mercato per compiti di misura impegnativi

Applicazioni principali
PCB assemblati, connettori, pin pogo
Le vostre sfide
- Gestione di campioni di dimensioni diverse e forme complesse
- Misurare campioni con assemblaggi o livelli diversi
- Misurazione di microstrutture
- Misurazione di multistrati ultrasottili
I punti salienti dei nostri prodotti
- Misura di caratteristiche minime su campioni di forma complessa grazie alla nostra esclusiva ottica policapillare da 35 µm con ampia distanza di misura, ad esempio per wafer con potenziale deformazione
- Alloggiamento con scanalatura a C per una facile gestione di campioni piatti e di grandi dimensioni
- Software leader di mercato per compiti di misura impegnativi

Applicazioni principali
Bumps a saldare, pillar bumps in rame, bumps in oro, piccole superfici di contatto, micro pads, UBMs, RDLs
Le vostre sfide
- Misurare film sottili e microstrutture su wafer con diametri da 6'' a 12''.
- Gestione di wafer con potenziale deformazione
- Soddisfare i requisiti della camera bianca
I punti salienti dei nostri prodotti
- Varie opzioni di rivelatori e ottiche policapillari per la massima precisione su strati sottili
- Mandrino per wafer sotto vuoto o manipolazione personalizzata dei wafer con appiattimento meccanico
- Ampie opzioni di automazione con software leader di mercato

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI
La prima scelta per la misurazione automatizzata dei wafer.
Applicazioni principali
Bumps a saldare, pillar bumps in rame, bumps in oro, piccole superfici di contatto, micro pads, UBMs, RDLs
Le vostre sfide
- Automazione del processo di misura dei wafer
- Gestire un'elevata produttività
- Gestire wafer con potenziale deformazione
- Soddisfare i requisiti della camera bianca
I nostri prodotti in evidenza
- Sistema di misura completamente automatizzato con FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER integrato e sistema di movimentazione automatizzato dei wafer
- Varie opzioni di rivelatori e ottiche policapillari per la massima precisione su strati sottili
- Software leader di mercato per aumentare l'efficienza
La soluzione giusta per il vostro compito di misura.
Costruzione di sistemi personalizzati su richiesta, completamente o semi-automatizzati. Su misura per la vostra applicazione, implementiamo fasi di processo aggiuntive, come l'appiattimento meccanico dei wafer. Grazie alla collaborazione con i partner locali di integrazione, evitiamo i lunghi tempi di consegna.
Offriamo anche altri metodi di misura oltre all'XRF. Per ulteriori informazioni, contattateci direttamente.