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Analisi delle tracce di elementi nei gioielli e negli accessori moda

Dal momento che gli oggetti che vengono a contatto con la pelle umana dovrebbero essere privi di materiali nocivi e sostanze allergeniche, è in corso la predisposizione di nuove normative per la protezione dei consumatori al fine di limitare il contenuto di piombo (Pb), cadmio (Cd) e altri elementi tossici o allergenici nella bigiotteria, nei componenti degli orologi e degli accessori, nelle chiusure in metallo e negli ornamenti apposti su borse, portafogli o indumenti. Questa sfida analitica richiede strumenti di misura in grado di rilevare rapidamente e facilmente anche le quantità minime di queste sostanze.

In base a questo nuovo regolamento, occorre limitare in maniera drastica non solo le sostanze organiche nocive ma anche i metalli pesanti, in particolare Pb, Cd e Ni. A seconda del settore e del paese, le soglie possono essere estremamente basse, spesso si trovano nell'intervallo di 100 ppm.

Ai fini della riduzione dei costi, le componenti metalliche di bigiotteria e accessori spesso non sono realizzate con materiali solidi. I materiali sottostanti sono realizzati con leghe poco costose e facilmente lavorabili che vengono successivamente placcati con rivestimenti decorativi. Sia i rivestimenti che i materiali di substrato devono essere privi di Pb e Cd. Pertanto, in termini di tempo e costi prima della formatura e del rivestimento è molto più conveniente analizzare materiali di base come l'ottone e le leghe di zinco.

In contrasto con l'enorme sforzo richiesto nell'analisi chimica, eseguire il test delle sostanze contaminanti utilizzando sistemi di fluorescenza da raggi X (XRF) risulta semplice e immediato. L'elevata forza di rilevamento e i ridotti limiti di rilevamento, indispensabili in qualsiasi metodo di misurazione, rendono i sistemi XRF di FISCHER la scelta ideale in questo ambito.

Valori tipici di precisione di ripetibilità (Dev. Std.) nelle misurazioni del piombo eseguite con FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
Matrix Std. dev. Pb [ppm]
ABS 0.5
Al 2
Cu 13
Zn 20
Sn 0.6
Ottone, attuale 10 - 30
SnBi2, attuale 5 - 15
SnBi50 attuale 50 - 100

La deviazione standard delle misure ripetute è un'indicazione diretta delle concentrazioni minori rilevabili da uno strumento (limite di rilevamento ~ 3 x dev. std.). Gli impressionanti risultati mostrati nella Tabella 1 indicano che i metodi XRF e FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD sono perfetti per l'analisi di tracce e, quindi, per il controllo del raggiungimento dei valori di target.

In tutto il mondo, gli strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD vengono utilizzati per lo screening dei materiali utilizzati nella produzione di gioielli e accessori moda. Questi strumenti si contraddistinguono per la loro maneggevolezza e la loro eccellente precisione di ripetibilità e sono quindi più adatti a controllare la conformità alle nuove normative. Il tuo agente FISCHER locale è a tua disposizione per rispondere alle tue domande.

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