FAQ Fischer
Des questions ?
Il y a beaucoup à dire, et vous aurez certainement des questions à poser. Voici les plus courantes. Si vous avez besoin de plus de réponses, contactez-nous. Nous nous ferons un plaisir de vous aider.
Vous trouverez également de nombreux tutoriels intéressants et d'autres informations utiles dans notre médiathèque.
FAQ Paramètres importants
Valeur moyenne
La façon la plus simple de calculer une valeur moyenne est d'additionner toutes les valeurs et de diviser cette somme par le nombre de valeurs. C'est ce qu'on appelle la moyenne arithmétique. Il existe d'autres façons de calculer une moyenne, mais elles sont rarement utilisées.
Gamme
L'étendue R indique la distance entre la plus petite et la plus grande valeur mesurée. Pour calculer l'étendue, la plus petite valeur mesurée est soustraite de la plus grande. L'étendue peut être fortement faussée par des valeurs aberrantes et n'est donc utile que si vous avez peu de valeurs mesurées. Pour de grandes quantités de données, l'écart-type est plus significatif.
Écart-type
L'écart-type σ indique l'importance de la dispersion des valeurs mesurées autour de la valeur moyenne. Un écart-type élevé indique que les valeurs mesurées sont très différentes les unes des autres. Si les valeurs sont toutes proches de la moyenne, l'écart-type est faible. La façon dont la moyenne et l'écart-type décrivent la réalité dépend, entre autres, du nombre de valeurs mesurées. Plus il y a de points de mesure, plus les ratios sont significatifs.
Coefficient de variation
L'importance de l'écart-type dépend non seulement de la dispersion des valeurs mesurées, mais aussi de l'ampleur des valeurs - une valeur moyenne plus élevée entraîne automatiquement un écart-type plus important. Pour résoudre ce problème, l'écart-type relatif, le coefficient de variation V, est souvent exprimé en pourcentage. Dans ce cas, l'écart-type est divisé par la moyenne arithmétique. Comme pour l'écart-type, des valeurs élevées indiquent également une grande dispersion des valeurs mesurées.
FAQ XRF
Qu'est-ce que la méthode XRF (fluorescence X) ?
L'analyse par fluorescence X dispersive en énergie (XRF) est une méthode de mesure non destructive qui peut être utilisée pour déterminer la composition élémentaire et l'épaisseur des couches. Cette méthode exploite l'émission de rayons X caractéristiques par des atomes qui ont été ionisés par un rayonnement primaire incident. Un algorithme approprié permet de tirer des conclusions sur la répartition quantitative et qualitative des éléments dans l'échantillon examiné.
Qu'est-ce qui peut être mesuré par la méthode XRF ?
Lesappareils de mesure XRF sont utilisés pour la détermination non destructive de l'épaisseur des revêtementset l'analyse des matériaux. En principe, les éléments allant du sodium (11) à l'uranium (92) peuvent être mesurés à l'aide de l'analyse XRF. Les épaisseurs de revêtement à mesurer vont de quelques nm à environ 100 µm. Cependant, les épaisseurs de couche qui peuvent être mesurées en pratique dépendent fortement du système de couche considéré et, en particulier dans le cas des éléments légers, des conditions environnementales. C'est là que la physique de la méthode de mesure fixe des limites. L'analyse élémentaire permet de mesurer des concentrations de l'ordre du pour mille. Ici aussi, la matrice de l'élément et d'autres facteurs d'influence jouent un rôle important dans la pratique.

Quelle est la taille du spot de mesure pour les mesures XRF ?
Le spot de mesure sur l'échantillon est défini par la taille du collimateur et la distance de mesure utilisée, ou, dans le cas d'optiques polycapillaires, par la taille du spot au foyer. Les valeurs typiques pour les collimateurs sont comprises entre 30 µm et 3 mm, et pour les dispositifs à optique polycapillaire entre 10 et 20 μm.
Qu'est-ce qu'un tube à rayons X ?
Le tube à rayons X génère le rayonnement X primaire, qui ionise les atomes de l'échantillon à examiner et constitue ainsi la condition préalable à l'analyse XRF et à la génération d'un rayonnement de fluorescence caractéristique dans l'échantillon. Le rayonnement X primaire est un spectre continu qui se compose principalement d'un rayonnement de fond Bremsstrahlung et d'un rayonnement X caractéristique provenant du matériau de l'anode utilisé dans le tube à rayons X (en bref : le spectre d'excitation). La forme exacte du spectre d'excitation est définie par la tension et le courant du tube utilisés, ainsi que par la taille du spot sur l'anode.
Qu'est-ce qu'un obturateur ?
L'obturateur est un élément de sécurité de nos appareils XRF. Il définit le temps de mesure exact en s'ouvrant pendant la mesure. Dans le cas contraire, l'obturateur reste fermé et bloque le rayonnement X primaire. Les interrupteurs de fin de course garantissent également que le couvercle de l'appareil est fermé et qu'un opérateur ne peut à aucun moment pénétrer dans le faisceau primaire pendant la mesure.
À quoi sert un filtre primaire ?
Le filtre primaire est utilisé pour modifier le rayonnement primaire. En fonction du filtre, les conditions d'excitation pour les tâches de mesure peuvent être modifiées.
Qu'est-ce qu'un collimateur ou une ouverture ?
Le collimateur limite la section transversale du faisceau primaire dans nos appareils de mesure XRF, garantissant qu'un point de mesure d'une taille définie est excité sur l'échantillon. Si la géométrie de l'échantillon exige un point de mesure relativement petit, nos appareils XRF offrent un choix de collimateurs différents. Pour les taches de mesure extrêmement petites dues à la géométrie de l'échantillon, des optiques polycapillaires sont utilisées à la place des collimateurs fabriqués mécaniquement. Cela permet de concentrer une quantité relativement importante du rayonnement d'excitation primaire dans un spot de mesure de l'ordre de 10 à 20 µm, en fonction de l'optique polycapillaire utilisée. Par conséquent, le temps de mesure est considérablement réduit.
Qu'est-ce que l'optique polycapillaire ?
Les optiques polycapillaires sont constituées de milliers de minces capillaires en verre qui exploitent l'effet de la réflexion externe totale pour focaliser les rayons X dans un spot mesurant seulement quelques µm. Les optiques polycapillaires développées et fabriquées en interne permettent d'obtenir des spots de mesure particulièrement petits de 10 ou 20 μm (FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ) ou 60 μm (optiques polycapillaires à longue distance dans le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD). L'effet de microfocalisation de l'optique polycapillaire augmente le faisceau de rayons X jusqu'à 10 000 fois par rapport à une optique à collimateur. Nos appareils de mesure avec lentilles polycapillaires sont donc capables de mesurer les plus petites structures avec des temps de mesure courts.
* Taille du spot : Largeur totale à mi-maximum (FWHM) pour Mo-Kα
Quels sont les détecteurs installés dans les appareils FISCHER XRF ?
- Tube compteur proportionnel : En raison de son angle solide de détection relativement important, ce détecteur convient parfaitement aux tâches de mesure simples, telles que la mesure de l'épaisseur de couches de composants à géométrie complexe nécessitant une grande distance de mesure, ou de couches relativement minces avec un petit point de mesure.
- Diode PIN au silicium (PIN) : Comparé au compteur proportionnel, ce détecteur de milieu de gamme a une bien meilleure résolution énergétique, c'est pourquoi il est principalement utilisé pour mesurer des systèmes multicouches avec des épaisseurs de couche parfois très fines ou pour l'analyse des matériaux.
- Détecteur de dérive au silicium (SDD) : Les points forts de ce détecteur semi-conducteur moderne résident dans sa résolution énergétique supérieure et son angle solide de détection plus grand que celui de la diode PIN. Il est donc idéal pour l'analyse de traces ou la mesure d'éléments légers et de revêtements très fins jusqu'à l'échelle du nm.
Le détecteur absorbe le rayonnement (fluorescence X) de l'échantillon, ainsi que le spectre diffusé qui lui parvient, et le mesure de manière dispersive en énergie. Cela signifie que pendant le temps de mesure, il attribue une énergie spécifique à chaque photon incident et fournit ensuite un spectre de fluorescence sous la forme d'une intensité en fonction de l'énergie. Ce spectre constitue la base de l'analyse ultérieure de l'épaisseur de la couche et/ou du matériau. Nos appareils XRF sont équipés de l'un des trois types de détecteurs suivants. Ils se distinguent par leur mode de fonctionnement et leur domaine d'application principal :
Quels sont les avantages du processeur d'impulsions numérique (DPP) ?
Ce composant de haute technologie a été développé par FISCHER. Le processeur d'impulsions numérique (DPP) convertit les signaux analogiques en signaux numériques. La clé de la qualité d'un DPP est sa capacité à traiter autant d'événements que possible dans le temps le plus court, sans perte ni fusion de plusieurs événements en un seul.
Le DPP+ de FISCHER peut traiter jusqu'à 500 000 impulsions par seconde, contribuant ainsi de manière significative à l'optimisation du temps de mesure tout en maintenant les temps de mesure les plus courts possibles.

Quelle est la précision des résultats des mesures XRF ?
La précision fait référence à l'écart estimé entre le résultat de la mesure et la "vraie" valeur de l'échantillon.
Toutefois, il est important de faire la distinction entre l'erreur aléatoire, qui affecte la précision, et l'erreur systématique, qui affecte l'exactitude. La précision est influencée par des facteurs tels que la qualité du spectromètre, la distance de mesure, le temps de mesure, ainsi que les influences de l'opérateur et les conditions environnementales. La précision, quant à elle, est principalement affectée par des hypothèses incorrectes lors de l'étalonnage, telles que des incertitudes dans les étalons utilisés ou une composition incorrecte de l'échantillon.
Quels sont les facteurs qui influencent la répétabilité des mesures XRF ?
- la qualité du spectromètre
- la distance de mesure
- Collimateur / point de mesure
- l'épaisseur de la couche
- Conditions d'excitation
- Temps de mesure
La répétabilité est la dispersion des valeurs mesurées obtenues à partir d'un échantillon lorsqu'elles sont mesurées à l'aide d'un appareil dans des conditions identiques. Une mesure dans des conditions idéales signifie que l'échantillon reste inchangé entre plusieurs mesures et n'est pas déplacé. Les facteurs d'influence sont, entre autres, les suivants
Quels sont les facteurs qui influencent la reproductibilité des mesures XRF ?
- le positionnement (plan incliné, pièces cylindriques, ombrage)
- la focalisation de l'échantillon
- l'influence de l'opérateur
- Propriétés de l'échantillon
- l'épaisseur du matériau de base
- Plus d'arrière-plan (par exemple, PCB dû au rayonnement diffusé)
- Composition du matériau de base et du revêtement
- Rugosité
- Conditions environnementales
La reproductibilité est la dispersion des valeurs mesurées obtenues à partir d'un échantillon lorsqu'elles sont mesurées à l'aide d'un dispositif dans des conditions variables. Par conditions variables, on entend des mesures effectuées dans des positions multiples et/ou par des personnes différentes et/ou dans des conditions environnementales différentes. Les facteurs d'influence comprennent, entre autres
Quels sont les facteurs qui influencent la précision des mesures XRF ?
- la traçabilité
- l'incertitude de l'étalon
- l'incertitude de la mesure de l'étalon
- Erreurs dans la correction du matériau de base
- Densité et composition de la couche
- Différence entre l'échantillon et l'étalon
Quels sont les facteurs qui influencent la précision des mesures XRF ?
La précision est la valeur estimée de l'écart entre le résultat de la mesure et la valeur correcte (inconnue). Les facteurs d'influence sont les suivants
FAQ XRF - Logiciel et fonctionnement
Où puis-je télécharger la dernière version du logiciel de mon appareil XRF ?
Il est toujours fourni avec nos appareils XRF. Si vous avez d'autres questions, veuillez contacter votre représentant.
Que signifie le masque "Data Export" ?
La définition du masque d'exportation permet de déterminer les paramètres à exporter.
Dans le menu du logiciel WinFTM®, sous "Evaluation ► Exportation ► Paramètres d'exportation", définissez les données à exporter et leur format.
Vous pouvez spécifier si vos fichiers doivent être exportés en ligne, écrits sur une feuille Excel, ou transmis via une sortie S232 ou TCP-IP. Vous pouvez également (pré)définir un ou plusieurs masques d'exportation et choisir des options supplémentaires.Qu'est-ce qui est mesuré lorsque l'appareil XRF demande "Scatt" ?
Dans le logiciel WinFTM®, "Scatt" désigne un échantillon de diffusion composé de copolymère acrylonitrile-butadiène-styrène (ou ABS en abrégé). Cet échantillon et le spectre de diffusion correspondant sont calibrés en usine.
Toutefois, si vous vous trouvez dans une situation où le spectre de diffusion doit être mesuré à nouveau, vous pouvez le charger dans le logiciel via le point de menu "Général à Charger et évaluer".
Pourquoi ne puis-je pas créer de nouvelles tâches de mesure ?
La création de nouvelles tâches de mesure nécessite une licence logicielle spécifique, appelée "super logiciel". Si vous n'avez pas acheté cette licence, vous pouvez soit l'acquérir séparément, soit demander à nos collègues expérimentés du département des applications de réaliser cette tâche pour vous.
L'appareil XRF imprime toutes les valeurs mesurées sans y être invité.
L'option Fichier "Imprimer les valeurs individuelles" a probablement été activée dans le menu du logiciel WinFTM® . Dans ce cas, chaque valeur individuelle est envoyée dans la mémoire tampon de l'imprimante et, lorsqu'une page est pleine, elle est automatiquement imprimée. Désactivez l'option "Imprimer les valeurs individuelles" et supprimez le tampon de l'imprimante.
Des valeurs de mesure ont été supprimées accidentellement. Puis-je les restaurer ?
Si des valeurs individuelles ont été supprimées dans un bloc, un tiret apparaît dans la liste des valeurs mesurées. Dans le menu du logiciel WinFTM®, sous "Evaluation ► Restaurer la valeur mesurée", les valeurs mesurées individuelles d'un bloc sont à nouveau visibles. Toutefois, si des blocs ou des articles entiers ont été supprimés, les données ne peuvent pas être récupérées.
Quelles sont les caractéristiques du logiciel qui rendent uniques les mesures effectuées avec les appareils FISCHER ?
Notre logiciel WinFTM® est le plus puissant du marché pour la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux par fluorescence X. Il permet d'évaluer et de gérer efficacement les données de mesure. Il évalue et gère efficacement les données de mesure et permet des mesures précises et sans normes.
FAQ XRF - Application
Pour quelles industries la XRF est-elle adaptée ?
- Électronique et semi-conducteurs
- Placage électrolytique
- Automobile
- Analyse de l'or, des métaux précieux et des bijoux
- Peintures et vernis
- Technologie de fixation
- Fer et acier
- Articles ménagers et accessoires
- Aérospatiale
- Construction et infrastructure
- Et bien d'autres choses encore
L'analyse XRF est utilisée dans un grand nombre de secteurs industriels. Quel que soit votre secteur d'activité, nous connaissons vos exigences et vos défis, et nous trouverons la solution de mesure sur mesure qui convient le mieux à votre application. Les industries qui nous font confiance, entre autres :
En savoir plus sur nos secteurs d'activité.
Quels sont les avantages de la XRF par rapport à d'autres méthodes de mesure ?
- Non destructif : l'échantillon n'est pas endommagé par la fluorescence X, ce qui en fait un outil idéal pour les inspections à l'entrée et à la sortie ou pendant le processus de fabrication.
- Préparation minimale de l'échantillon : dans la plupart des cas, aucune préparation de l'échantillon n'est nécessaire pour effectuer des mesures à l'aide de l'analyse par fluorescence X.
- Temps de mesure courts : la plupart des applications peuvent être mesurées en quelques secondes.
- Analyse multi-éléments : plusieurs éléments et épaisseurs de couche peuvent être déterminés simultanément en une seule mesure.
- Large éventail d'applications : L'analyse par fluorescence X permet de mesurer des concentrations d'éléments de l'ordre du pour mille ou des niveaux de pureté allant jusqu'à 100 %, ainsi que des épaisseurs de couche allant de quelques nm à plusieurs 10 µm.
Pourquoi devrais-je choisir un instrument XRF de FISCHER ?
- FISCHER = leader du marché dans le domaine de la mesure de l'épaisseur des revêtements
- Gamme étendue de produits XRF, depuis les appareils portatifs jusqu'aux systèmes haut de gamme entièrement intégrés, en passant par les systèmes de table.
- Fabriqué en Allemagne, la plus haute qualité de fabrication
- Précision et fiabilité de mesure inégalées
- De nombreuses configurations individuelles pour répondre à vos besoins : Différents détecteurs, tubes à rayons X et optiques (collimateurs et optiques polycapillaires), direction de mesure, configurations de table, etc.
- Analyse simultanée de jusqu'à 24 éléments
- Normes certifiées et personnalisées
- Logiciel puissant pour la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux (WinFTM®, FISIQ® X)
- Un service clientèle de premier ordre et des conseils en matière d'application avec des décennies d'expertise
Il y a de nombreuses raisons à cela, voyez par vous-même :
Où puis-je trouver des informations pertinentes sur mon appareil FISCHER XRF ?
Lorsque vous achetez votre appareil de mesure FISCHER, vous recevrez toutes les informations complémentaires par le biais d'un code QR.
FAQ Tactile
Quels sont les facteurs qui jouent un rôle dans la précision de mesure des jauges d'épaisseur de revêtement Fischer ?
La précision de mesure des jauges d'épaisseur de revêtement dépend de facteurs tels que l'épaisseur du revêtement, l'état de surface, la sonde utilisée, etc. Des informations sur la précision et la répétabilité dans des conditions idéales figurent dans les fiches techniques des sondes.
Méthode des courants de Foucault sensibles à la phase : Quelles combinaisons de couches et de matériaux de base puis-je mesurer ?
Il existe plusieurs possibilités de mesure : Par exemple, je peux utiliser la méthode des courants de Foucault sensibles à la phase pour mesurer un métal non magnétisable sur un métal magnétisable. Le zinc sur le fer en est un exemple. Mais un métal non magnétisable sur un plastique électriquement non conducteur serait également concevable, comme le cuivre sur l'Iso. Un autre exemple de mesure est le nickel sur le cuivre (métal magnétisable sur métal non magnétisable).
Méthode des courants de Foucault sensibles à l'amplitude : Quelles combinaisons de couches et de matériaux de base puis-je mesurer ?
La méthode des courants de Foucault sensibles à l'amplitude est utilisée pour mesurer les revêtements non conducteurs sur des matériaux de base conducteurs et non magnétisables, tels que l'anodisation ou la peinture sur l'aluminium, la peinture sur le cuivre ou la céramique sur le titane.
Méthode de l'induction magnétique : Quelles sont les combinaisons couche-matériau de base que je peux mesurer ?
Avec la méthode de l'induction magnétique, vous mesurez les revêtements non magnétiques sur des matériaux de base faciles à magnétiser, tels que le zinc sur le fer ou la peinture sur le fer.
De quoi dois-je tenir compte lorsque je mesure des couches de nickel avec des sondes à courants de Foucault sensibles à la phase ainsi qu'avec des sondes magnétiques inductives ?
Dans chaque cas, il doit être étalonné avec des pièces nickelées réelles dont l'épaisseur du revêtement est connue. Le magnétisme des revêtements de nickel peut varier considérablement, de sorte qu'il peut être très différent sur les pièces à mesurer et sur les pièces d'étalonnage. Cela peut entraîner des erreurs de mesure, ce qui peut poser un problème, notamment lors du contrôle des marchandises entrantes.
Un message d'erreur inconnu est affiché par l'appareil de mesure ou le programme Fischer. Comment procéder ?
Vérifiez d'abord dans le mode d'emploi si l'erreur et sa correction y sont décrites. Si ce n'est pas le cas, veuillez nous envoyer le numéro de série, la désignation exacte de l'appareil de mesure, la sonde de mesure, le numéro de version du programme Fischer, le numéro d'erreur (code d'erreur), le libellé exact du message d'erreur et les circonstances qui ont conduit à l'erreur. Vous trouverez ici vos interlocuteurs.
Quelle méthode le SIGMASCOPE® utilise-t-il pour mesurer la conductivité électrique spécifique ?
Avec la méthode des courants de Foucault sensibles à la phase (voir projet de norme DIN 50994 et norme DIN EN 2004-1).
Que signifie l'unité de mesure MS/m pour SIGMASCOPE® ?
MS/m signifie Mega-Siemens par m, ce qui correspond à 1.000.000 Siemens/m. Cette unité est la réciproque (inverse) de l'unité de mesure de la résistivité électrique spécifique Ohm x mm²/m. 1 Siemens correspond donc à 1/Ohm.
Que signifie l'unité de mesure %IACS pour SIGMASCOPE® ?
IACS signifie "International Annealed Copper Standard". Cette unité de mesure est souvent utilisée dans les pays anglo-américains. La règle suivante s'applique : La conductivité électrique spécifique de 100 %IACS correspond à 58 MS/m. Cette relation permet de convertir n'importe quelle valeur de conductivité électrique d'une unité de mesure à l'autre.
Pourquoi dois-je tenir compte de la température des objets à mesurer lors de la mesure de la conductivité électrique avec le SIGMASCOPE® ?
- Soit l'instrument doit être calibré à la même température que celle qui prévaut lors de la mesure.
- Soit la température de l'objet à mesurer doit être enregistrée à l'aide d'un capteur de température (interne/externe) pendant la mesure et l'étalonnage.
La conductivité électrique spécifique dépend directement de la température. Plus la température est élevée, plus la conductivité est faible. Pour que les valeurs mesurées soient comparables, la conductivité est toujours spécifiée par rapport à 20°C. C'est pourquoi les étalons de conductivité de Fischer donnent également des valeurs pour 20°C.
Pour que le SIGMASCOPE® puisse convertir une valeur mesurée de la conductivité physiquement réelle en 20°C, les conditions suivantes doivent être remplies :
Si ces conditions ne sont pas remplies, des erreurs de mesure systématiques peuvent se produire.
Quelles sondes peuvent être utilisées pour mesurer les épaisseurs de revêtement des systèmes de revêtement duplex "peinture sur zinc à chaud sur acier" dans le cadre de la protection contre la corrosion lourde ?
Avec les sondes de mesure duplex FDX10 et FDX13H. Ces sondes nécessitent une épaisseur minimale de revêtement de 70 µm pour le zinc à chaud afin de pouvoir effectuer des mesures correctes.
Quelles sondes peuvent être utilisées pour mesurer les épaisseurs de revêtement pour le système de revêtement duplex "peinture sur acier faiblement galvanisé" ?
Pour les couches minces de zinc, les sondes ESG2 et ESG20 sont utilisées. Ces sondes ne peuvent être utilisées que s'il n'y a pas de couche de diffusion entre le zinc et l'acier. C'est généralement le cas de la galvanisation et des couches de zinc très minces appliquées à chaud (comme dans l'ingénierie automobile). Les revêtements de zinc par immersion à chaud dans la protection contre la corrosion lourde, qui ont souvent une épaisseur supérieure à 70 µm, forment généralement une couche de diffusion distincte entre l'acier et le zinc. Dans ce cas, les sondes ESG2 et ESG20 ne peuvent pas être utilisées.
Quelles sont les combinaisons couche-matériau de base qui peuvent être mesurées avec la méthode coulométrique ?
Couches métalliques conductrices d'électricité sur des métaux, des plastiques ou des céramiques .
Quelles sont les exigences en matière de mesure coulométrique ?
Les conditions suivantes doivent être remplies : une surface de revêtement propre, un bon contact entre la pince et l'objet à mesurer. En outre, il faut choisir une vitesse de détachement correspondant à l'épaisseur du revêtement. En outre, il faut utiliser l'électrolyte approprié. En savoir plus
Quels sont les facteurs qui jouent un rôle dans la précision de la méthode de mesure coulométrique ?
Les facteurs sont : l'épaisseur du revêtement, l'état de surface, le joint de cellule de mesure utilisé, la vitesse de détachement et la pureté du revêtement.
Que dois-je faire pour transférer des données sur mon ordinateur ?
Connectez le câble de transfert à l'ordinateur et à l'appareil de mesure. Installez le logiciel pilote approprié sur votre ordinateur. Sélectionnez l'interface correcte à laquelle un appareil est connecté dans le programme d'évaluation que vous utilisez. Pour séparer les groupes de valeurs mesurées, veuillez définir un séparateur de groupe dans l'appareil de mesure.
Pourquoi la transmission de mes données ne fonctionne-t-elle pas ?
La raison peut en être la suivante : Le pilote correct a-t-il été chargé avec des droits d'administrateur ? L'interface correcte a-t-elle été sélectionnée dans le logiciel de l'ordinateur (voir aussi Gestionnaire de périphériques) ?
Où puis-je télécharger la dernière version du logiciel de mon appareil tactile ?
Pour nos appareils tactiles, vous trouverez la dernière version de notre logiciel dans la médiathèque.
Où puis-je trouver des informations sur mon appareil tactile FISCHER ?
Lorsque vous achetez votre appareil de mesure FISCHER, vous recevrez toutes les informations complémentaires par le biais d'un code QR.
FAQ Nanoindentation
Mes relevés varient considérablement. Quelle peut en être la raison ?
Le point zéro ne peut pas toujours être déterminé de manière fiable pour les surfaces rugueuses. C'est pourquoi il convient, si possible, de polir la surface. Les courants d'air et les vibrations externes peuvent également entraîner des fluctuations importantes des valeurs mesurées, voire des mesures erronées. C'est pourquoi les instruments doivent être installés dans un endroit protégé. Lors de mesures effectuées avec des forces très faibles, des boîtes de mesure fermées et des tables d'amortissement permettent d'éviter les influences extérieures.
Mes valeurs mesurées sont erronées. Quelle en est la raison ?
Il est possible que l'indenteur soit sale ou usé. Le WIN-HCU® propose une procédure de nettoyage qui doit être effectuée régulièrement. Vérifiez également si vous avez sélectionné le bon régime force-temps pour votre application. Des paramètres d'essai différents peuvent entraîner des écarts.
Si ces mesures ne suffisent pas, une correction de forme peut également être effectuée si le pénétrateur est usé. La correction de forme ne doit être effectuée que par des experts de Fischer.
Après la mesure, aucune empreinte d'Indentor n'est visible sur la surface. Pourquoi ?
Il est possible que le mauvais objectif soit placé sur le microscope. Essayez un autre objectif et assurez-vous que vous avez sélectionné le bon objectif dans le logiciel WIN-HCU® pour les instruments sans reconnaissance automatique de l'objectif.
Si l'empreinte n'est toujours pas visible, il se peut que vous ayez sélectionné une force d'inspection trop faible. Dans ce cas, l'empreinte peut être observée avec un microscope à force atomique (AFM), par exemple. Une autre raison peut être un décalage trop important entre la position du microscope et la position de mesure réelle. Les paramètres de décalage réglés peuvent être trouvés sous Table de mesure ► Paramètres du microscope.
Lorsque vous mesurez des revêtements en coupe transversale, il est recommandé d'utiliser un porte-échantillon approprié de Fischer. Si des mesures sont effectuées sur des sections transversales sans support approprié, il y aura un décalage systématique entre la position de mesure et la position du microscope pour chaque mesure en raison du processus de montage.
Pourquoi n'ai-je pas de valeurs mesurées pour la dureté et le module d'indentation ?
La courbe de déchargement n'a probablement pas été enregistrée. Veuillez vérifier vos paramètres. En outre, les échantillons très mous peuvent continuer à se déformer sous charge (fluage), c'est pourquoi la dureté de pénétration ne peut pas être déterminée dans tous les cas. Utilisez le réglage du fluage pour déterminer le fluage de l'indentation(CIT). Utilisez Edit ► Application settings ► Parameters ► Straight, pour déterminer le module d'indentation EIT et la dureté d'indentation HIT selon ISO 14577.
Les courbes de chargement et de déchargement sont respectivement "déformées" et "fortement courbées". Quelle en est la raison ?
L'échantillon a cédé sous la charge pendant la mesure. Vérifiez si l'échantillon est bien fixé. En fonction de la géométrie du composant, utilisez nos accessoires appropriés : les pinces universelles pour éprouvettes HM ou le dispositif de serrage de feuilles HM de Fischer.
La courbe de chargement présente un coude. Quelle en est la raison ?
La charge d'essai sélectionnée est trop élevée pour l'épaisseur du revêtement. Le matériau du substrat influe donc sur la mesure.
Pourquoi ne puis-je pas activer le "mode de mesure dynamique" ?
Vous ne pouvez activer le mode de mesure dynamique qu'en tant qu'administrateur. Si l'activation n'est pas possible malgré les droits d'administrateur, cela est généralement dû à un logiciel de sécurité spécifique au client qui l'empêche. L'une des possibilités consiste à utiliser un ordinateur dont les mesures de sécurité liées au logiciel sont moindres.
Pourquoi l'élément de menu "Correction de la forme" est-il grisé et non sélectionnable ?
La correction de la forme nécessite des droits d'administrateur. Veuillez vous connecter à WIN-HCU® en conséquence. La correction de forme ne doit être effectuée que par des experts Fischer ou du personnel qualifié. La mesure a été interrompue et aucune nouvelle mesure ne peut être lancée. De plus, la position de l'indenteur est à une valeur supérieure à 400 µm.
Pourquoi est-ce que j'obtiens un message d'erreur lorsque je clique sur 'Evaluation' ► 'Exportation personnalisée' ?
Vous devez d'abord définir l'exportation définie par l'utilisateur sous Paramétrage ► Options ► Exportation définie par l'utilisateur, avant de pouvoir exécuter l'exportation.
Où puis-je trouver le numéro de série et d'autres informations importantes concernant mon appareil de mesure ?
Sélectionnez ? ► Info sur WIN-HCU. Vous y trouverez, par exemple, le numéro de série de l'appareil de mesure et la version de WIN-HCU®.
FAQ Méthodes de mesure
Méthode XRF / analyse par fluorescence X dispersive en énergie (XRF)
L'analyse par fluorescence X dispersive en énergie (XRF) est une méthode de mesure non destructive qui peut être utilisée pour déterminer la composition élémentaire et l'épaisseur des couches. Lorsqu'un matériau est excité par des rayons X, les atomes émettent un signal de fluorescence caractéristique. Le spectre du rayonnement émis permet de tirer des conclusions sur la nature de l'échantillon. Le spectre de fluorescence peut être utilisé pour déterminer la distribution quantitative et qualitative des éléments et les épaisseurs de couche correspondantes d'un échantillon.
Méthode de mesure magnétique
La méthode magnétique utilise l'effet Hall pour déterminer l'épaisseur des couches magnétiques sur des matériaux non magnétiques (et vice versa) en mesurant la variation de la tension de Hall.
Méthode des courants de Foucault sensibles à l'amplitude
La méthode des courants de Foucault sensibles à l'amplitude permet de mesurer l'épaisseur de la couche sur des métaux non ferreux conducteurs d'électricité mais non magnétiques en détectant l'atténuation d'un champ magnétique alternatif généré par une bobine en raison des courants de Foucault induits dans le métal.
Méthode des courants de Foucault sensibles à la phase
La méthode des courants de Foucault sensibles à la phase permet de mesurer l'épaisseur des revêtements conducteurs sur différents substrats en détectant l'angle de phase du changement d'impédance généré par les courants de Foucault et en l'utilisant pour calculer l'épaisseur du revêtement.
Revêtements duplex
Pour mesurer les revêtements duplex, par exemple dans l'ingénierie automobile, les méthodes magnétiques inductives et les méthodes de courants de Foucault sensibles à la phase sont combinées pour mesurer avec précision les couches de zinc et de peinture, quelle que soit leur épaisseur.
Méthode magnétique-inductive
La méthode de mesure magnétique-inductive utilise les propriétés magnétiques du matériau de base pour mesurer de manière non destructive l'épaisseur du revêtement en détectant l'amplification d'un champ magnétique alternatif.
Teneur en ferrite
La méthode magnétique inductive permet de déterminer de manière non destructive la teneur en ferrite de l'acier en mesurant l'amplification d'un champ magnétique à basse fréquence par les grains de ferrite.
Conductivité électrique
La méthode de conductivité mesure de manière non destructive la conductivité électrique des métaux à l'aide de sondes à courants de Foucault sensibles à la phase afin de déterminer les propriétés des matériaux telles que la composition et la microstructure.
Méthode de micro-résistance
La méthode de la micro-résistance permet de mesurer avec précision l'épaisseur des couches conductrices d'électricité sur des substrats isolants en faisant passer un courant à travers la couche à l'aide d'une sonde et en enregistrant la chute de tension entre deux aiguilles de mesure, qui dépend de l'épaisseur de la couche.
Méthode de rétrodiffusion bêta
La méthode de rétrodiffusion bêta permet de mesurer de manière non destructive l'épaisseur des couches organiques et inorganiques sur une grande variété de substrats en utilisant le rayonnement d'atomes radioactifs.
Méthode de mesure des térahertz
La méthode de mesure térahertz utilise des ondes térahertz de courte durée qui pénètrent sans contact dans les systèmes multicouches pour mesurer le temps de transit des signaux réfléchis, ce qui permet de déterminer avec précision l'épaisseur des couches et d'autres propriétés des matériaux.
Méthode de mesure coulométrique
La méthode de mesure coulométrique dissout les couches métalliques et calcule l'épaisseur sur la durée requise en se basant sur la loi de Faraday. Elle convient à de nombreuses couches métalliques sur n'importe quel matériau de base et constitue une alternative économique à la fluorescence X, en particulier pour les systèmes multicouches.
FAQ Calibrage Tactile
Quelles sont les valeurs statistiques caractéristiques à utiliser au minimum lors de l'utilisation de valeurs mesurées ?
Pour la comparaison des valeurs mesurées, il convient d'utiliser au moins les valeurs caractéristiques suivantes : Moyenne arithmétique, écart-type et nombre de valeurs individuelles mesurées. Sans l'écart type et le nombre de valeurs mesurées correspondants, les valeurs moyennes ne peuvent pas être comparées entre elles de manière significative et sérieuse.
Pourquoi dois-je calibrer mon appareil de mesure ?
Selon la norme DIN EN ISO 9001, les équipements de mesure doivent être calibrés si la traçabilité est requise. Chaque méthode de mesure physique est influencée par les propriétés du revêtement et du matériau de base. Ces propriétés sont, par exemple, la géométrie de la pièce, la conductivité électrique, le magnétisme, la densité du revêtement ou même la surface de mesure. Par conséquent, chaque fois que les propriétés de la couche ou du matériau de base changent, il est très probablement nécessaire de recalibrer l'équipement de mesure.
J'étalonne mon appareil de mesure magnétique inductif ou à courants de Foucault sur une tôle plane et je souhaite maintenant effectuer des mesures sur une pièce tournée d'un petit diamètre, par exemple. Est-il possible de le faire sans un autre étalonnage
Non. L'étalonnage sur la feuille plate crée une erreur de mesure systématique sur la surface courbe. Par conséquent, les valeurs mesurées seront trop élevées. En effet, l'appareil de mesure évalue les signaux provenant de l'objet incurvé comme s'ils provenaient d'une pièce plate. C'est pourquoi des étalonnages réguliers sont nécessaires lorsque la forme ou la géométrie des pièces ou de la surface de mesure change.
Deux personnes obtiennent des résultats de mesure différents. Quelle en est la raison et que peut-on faire pour y remédier ?
Les causes possibles peuvent être l'utilisation de deux appareils de mesure avec des étalonnages différents (courbes caractéristiques) ou des mesures effectuées avec le même appareil de mesure mais sur des surfaces de mesure différentes. L'exactitude des valeurs mesurées obtenues avec des appareils de mesure est toujours garantie par des normes d'étalonnage. Dans le cas des appareils de mesure de l'induction magnétique et des courants de Foucault, l'étalonnage doit être effectué sur la surface de mesure des objets réels non revêtus à mesurer, sur lesquels l'épaisseur du revêtement doit également être mesurée pour les pièces revêtues. En outre, il faut veiller à ce que les mesures soient effectuées au même endroit ou sur la même surface de mesure et à ce qu'un nombre suffisant de valeurs mesurées soit enregistré pour obtenir une valeur moyenne et un écart-type significatifs. Ce n'est qu'ainsi que l'on peut obtenir des résultats de mesure comparables.
Comment vérifier l'étalonnage des jauges tactiles d'épaisseur de revêtement ?
On mesure une feuille d'étalonnage sur la pièce non revêtue avec plusieurs valeurs mesurées (généralement 5 à 10) et ce, à l'endroit où les mesures seront prises ultérieurement. Les plaques d'étalonnage de la base Fischer ne sont pas utiles pour cet étalonnage. Ensuite, l'utilisateur doit décider quels écarts par rapport à la valeur de consigne du film et à la valeur moyenne mesurée il autorise, de sorte que l'appareil de mesure soit encore considéré comme suffisamment bien étalonné. L'évaluation de l'étalonnage d'un appareil de mesure dans le contexte des statistiques et en ce qui concerne l'incertitude de l'épaisseur de film mesurée est fournie, par exemple, par les normes DIN EN ISO 2178 : 2016 "Revêtements non magnétiques sur métaux de base magnétiques - Mesure de l'épaisseur de film - Méthode magnétique" (chapitre 8) et DIN EN ISO 2360:2017 "Revêtements non conducteurs sur matériaux de base métalliques non magnétiques - Mesure de l'épaisseur de film - Méthode des courants de Foucault" (chapitre 8).
Que faut-il prendre en compte lors de l'étalonnage des sondes duplex FDX10 et FDX13H ?
Ces sondes duplex ont deux canaux de mesure. Le canal magnétique inductif mesure l'épaisseur totale du revêtement de peinture et de zinc. Le canal à courants de Foucault sensible à l'amplitude mesure l'épaisseur de la couche de peinture sur le zinc. Pour l'étalonnage, il faut une pièce en acier entièrement non revêtue correspondant à la pièce d'origine et une pièce galvanisée avec au moins 70 µm de zinc. Le canal magnétique inductif des sondes est étalonné sur la pièce d'acier non revêtue. Les feuilles d'étalonnage utilisées doivent encadrer la plage d'épaisseur totale du revêtement (peinture et zinc). La partie galvanisée est utilisée pour étalonner le canal des courants de Foucault sensibles à l'amplitude. Les feuilles d'étalonnage utilisées doivent encadrer la plage d'épaisseur attendue de la couche de peinture.
Quels sont les éléments à prendre en compte lors de l'étalonnage des sondes duplex ESG2 et ESG20 ?
Ces sondes duplex ont deux canaux de mesure. Le canal magnétique inductif mesure l'épaisseur totale du revêtement de peinture et de zinc. Le canal à courants de Foucault sensible à la phase mesure l'épaisseur du revêtement de zinc sous la peinture. Pour l'étalonnage, une pièce en acier sans revêtement correspondant à la pièce d'origine et une pièce galvanisée avec un revêtement de zinc typique sont nécessaires. Le canal magnétique inductif des sondes est étalonné sur la pièce d'acier non revêtue. Les feuilles d'étalonnage utilisées doivent encadrer la plage d'épaisseur totale du revêtement (peinture et zinc). Sur la pièce galvanisée, le canal à courants de Foucault sensible à la phase des sondes est étalonné. Aucune feuille d'étalonnage ne doit être utilisée ici, car la couche de zinc elle-même est la couche d'étalonnage. Il est uniquement nécessaire de mesurer la partie galvanisée au cours de cette étape de l'étalonnage. Il n'est pas nécessaire de mesurer l'épaisseur de la couche de zinc comme épaisseur de référence avant l'étalonnage. La valeur de référence d'étalonnage de la couche de zinc est fournie par le canal magnétique inductif étalonné lors de la première étape.
La densité du revêtement joue-t-elle un rôle dans l'étalonnage ?
Oui, c'est le cas. Par exemple, si l'appareil de mesure a été étalonné avec une pièce dont le revêtement a une densité de 2 g/cm³, et que les mesures doivent maintenant être effectuées sur une pièce dont la densité est de 1 g/cm³, par exemple, des erreurs de mesure systématiques se produiront. Les valeurs mesurées sont alors trop faibles. Cela est dû au fait que l'appareil de mesure évalue les signaux du nouvel objet comme si sa couche avait également une densité de 2 g/cm³.
FAQ Étalonnage des appareils XRF
Qu'entend-on par normalisation dans un appareil FISCHER XRF ?
En technique de mesure, la normalisation désigne l'adaptation de la tâche de mesure aux réglages actuels ou à de nouveaux matériaux de base. Cette opération doit être effectuée lorsque l'on change le filtre primaire, le courant anodique, le collimateur ou lorsque l'on utilise un nouvel alliage de matériaux de base. Elle permet d'obtenir des résultats de mesure cohérents et précis.
Mon appareil FISCHER XRF me donne des valeurs invraisemblables. Comment puis-je être sûr que mes mesures sont toujours correctes ?
Le contrôle de l'équipement de mesure vous permet de vérifier si votre appareil XRF fonctionne correctement et d'évaluer si vos résultats de mesure reflètent véritablement l'échantillon ou si un défaut de l'appareil en est la cause. Dans le cadre de la surveillance de l'équipement de mesure, un échantillon de référence spécifique (standard FISCHER ou pièce de référence du client) est mesuré à intervalles réguliers dans les mêmes conditions. Si la mesure se situe dans les limites de tolérance et d'intervention préalablement fixées en fonction de l'application, on peut supposer que l'appareil XRF fonctionne correctement.
Qu'est-ce qu'une mesure de référence sur un appareil FISCHER XRF ?
La mesure de référence est utilisée pour calibrer l'axe énergétique. Cette opération peut être effectuée rapidement et facilement par l'opérateur. La mesure de référence est particulièrement utile pour les appareils XRF équipés de compteurs proportionnels, pour lesquels des mesures de référence sont recommandées à intervalles réguliers. Elle corrige les appareils XRF à compteur proportionnel des influences de la température.
Comment vérifier l'étalonnage d'un appareil XRF ?
Les étalons de calibration peuvent être mesurés dans le logiciel WinFTM® sous le point de menu "Items ► Calibration Standards". Cela permet de s'assurer que l'étalonnage précédent est correct, que l'appareil est toujours en parfait état ou qu'un nouvel étalonnage est nécessaire.
À quelle fréquence les normes d'étalonnage des rayons X doivent-elles être recertifiées ?
Les intervalles de recertification dépendent de l'utilisation et peuvent être déterminés par l'utilisateur. Des intervalles d'environ 1 à 3 ans sont courants pour garantir une grande précision des mesures.
Les films d'étalonnage des rayons X peuvent-ils être empilés pendant le processus d'étalonnage ?
En principe, les feuilles d'étalonnage Fischer peuvent être empilées. En règle générale, 2 à 3 feuilles peuvent être utilisées pour les compteurs proportionnels et une feuille pour les appareils de mesure avec des détecteurs de dérive PIN ou silicium.
Faut-il recertifier la plaque des éléments purs pour les appareils XRF ?
Non, ce n'est pas nécessaire. La plaque d'éléments purs contient des éléments purs pour l'épaisseur de saturation XRF, qui restent stables lorsqu'ils sont utilisés avec soin et peuvent être utilisés pendant de très longues périodes.
La seule chose à éviter est l'endommagement mécanique et la contamination.Que faire si l'appareil XRF demande le "jeu d'étalonnage du matériau de base" et "l'objet de mesure du matériau de base" lors de la nomination ou de l'étalonnage ?
Le logiciel WinFTM® permet de mesurer des systèmes d'échantillons dont les compositions des matériaux de base sont similaires, mais qui présentent néanmoins des différences significatives. C'est souvent le cas des alliages de cuivre, par exemple. Dans ce cas, le processus de normalisation ou d'étalonnage demande le jeu d'étalonnage du matériau de base et le matériau de base de l'objet à mesurer. Le premier fait référence au matériau de base dont la composition est connue et qui est utilisé pour l'étalonnage ultérieur, tandis que le second fait référence au matériau de base de la pièce du client qui est mesurée. Il convient de veiller à éviter toute confusion, faute de quoi une erreur systématique sera étalonnée.
Quelle est la différence entre un certificat d'usine et un certificat ISO 17025 pour les normes d'étalonnage ?
Les étalons certifiés ISO 17025 sont mesurés selon une procédure spécifiée par les organismes d'accréditation et ont une incertitude plus faible que les étalons certifiés en usine.
Normes FAQ
Que sont les normes d'étalonnage et pourquoi sont-elles importantes ?
Lesétalons de calibration sont des matériaux dont la composition est connue et vérifiée et qui sont utilisés pour ajuster et vérifier les appareils XRF. Ils garantissent la précision et la reproductibilité des résultats des mesures.
Comment sélectionner l'étalon de calibration adapté à mes mesures ?
L'étalon de calibrage doit être aussi proche que possible du matériau à mesurer et de la composition du revêtement. Cela permet de garantir que l'étalonnage fournit des résultats réalistes et précis.
Quels types de normes d'étalonnage FISCHER propose-t-il ?
FISCHER propose une gamme très étendue de plus de 500 normes certifiées. Celles-ci comprennent
- des étalons solides pour les couches simples et multiples, les couches d'alliage, les éléments purs et les alliages
- des étalons de film pour les couches simples et multiples et les couches d'alliage, ou des ensembles préfabriqués pour des industries et des applications spécifiques.
Quels sont les principaux avantages des normes d'étalonnage FISCHER ?
- Traçabilité mondialement reconnue
- Plus de 500 normes certifiées
- Précision maximale grâce à la certification DAkkS, Lien : www.helmut-fischer.com/why-fischer/dakks-calibration-laboratory
- Propres laboratoires d'étalonnage accrédités dans le monde entier
- Possibilité d'établir des normes personnalisées pour les clients
- Conseils d'experts complets
Puis-je encore utiliser mon standard s'il est froissé, déchiré ou endommagé ?
Non, si votre étalon est froissé, déchiré ou autrement endommagé, il ne doit pas être utilisé. Manipulez vos feuilles d'étalonnage avec le plus grand soin, car leurs fines couches les rendent particulièrement susceptibles de se déchirer ou de se déformer. Si vous constatez des dommages, nous vous recommandons de nous envoyer l'étalon pour vérification. N'hésitez pas à nous contacter directement.




Cu foil, torned
not okAu foil, crinkled
not okFeuille de Nb, déchirée
pas okAu foil
okQuelle partie de la norme est certifiée pour la mesure ?
Pour les étalons à rayons X, une zone centrale de 2 x 2 mm est spécifiée dans le certificat. Si une autre zone de mesure est certifiée, cela sera explicitement indiqué dans le certificat. Pour les feuilles tactiles, la zone de mesure certifiée est marquée d'un cercle directement sur la feuille.

La zone de mesure certifiée est marquée en rouge. À quelle fréquence dois-je envoyer mon étalon pour l'entretien ou l'inspection ?
Chez Fischer, nous ne spécifions pas d'intervalle de maintenance particulier. La nécessité de renvoyer vos étalons pour réétalonnage peut être fortement influencée par les conditions d'utilisation, les facteurs environnementaux et de stockage, ainsi que par la dépendance de votre entreprise à l'égard de normes spécifiques et/ou d'exigences internes en matière d'équipement d'inspection. Par conséquent, vous ou votre équipe de surveillance des équipements d'inspection êtes les mieux placés pour évaluer et déterminer l'intervalle approprié pour l'envoi de vos étalons. En règle générale, cet intervalle est d'environ 1 à 3 ans.
Vous avez besoin d'une consultation individuelle ? N'hésitez pas à nous contacter.
Le certificat a-t-il une date d'expiration ?
Non, le certificat n'a pas de date d'expiration fixe. La nécessité d'envoyer vos étalons pour réétalonnage peut être fortement influencée par les conditions d'utilisation, les facteurs environnementaux et de stockage, ainsi que par la dépendance de votre entreprise à l'égard de normes spécifiques et/ou d'exigences internes en matière d'équipement d'inspection. Par conséquent, c'est vous ou votre équipe de surveillance de l'équipement d'inspection qui êtes les mieux placés pour évaluer et déterminer quand un réétalonnage est nécessaire.
Vous avez besoin d'une consultation individuelle ? N'hésitez pas à nous contacter.
J'ai des exigences qui ne sont pas couvertes par le catalogue d'étalons Fischer. Proposez-vous également des solutions personnalisées ?
Oui, nous proposons des solutions spéciales personnalisées. D'une part, nous pouvons combiner des épaisseurs de couches de notre catalogue pour répondre à vos besoins spécifiques, à condition que cela soit techniquement possible. D'autre part, si cela est techniquement possible, nous pouvons créer un standard à partir de votre propre matériau. N'hésitez pas à discuter de vos besoins avec votre représentant personnel Fischer.
La surface de mon étalon est décolorée. Puis-je ou dois-je nettoyer mon étalon ?
Les étalons ne doivent jamais être nettoyés mécaniquement ou chimiquement ! Cela peut entraîner des dommages, des inhomogénéités et/ou une réduction de l'épaisseur de la couche, ce qui peut altérer les résultats de l'étalonnage.
Décoloration de Al, Cu, Ag : pour ces métaux, l'oxydation de la surface métallique forme une couche d'oxyde qui protège le métal sous-jacent de toute réaction ultérieure avec l'oxygène (passivation). Selon le métal, cela peut entraîner une décoloration typique, qui n'affecte toutefois pas négativement les résultats de la mesure.
Important : ne nettoyez pas vos étalons ! L'élimination de la couche d'oxyde par abrasion peut fausser les résultats de l'étalonnage.
Décoloration de Fe, Zn, Zn/Fe : En cas d'oxydation du fer (rouille) ou du zinc (rouille blanche), la corrosion a un effet destructeur sur l'étalon. En cas de corrosion, ces étalons doivent être renvoyés pour être remplacés. Étant donné qu'un environnement corrosif accélère le processus de corrosion, veuillez toujours accorder une attention particulière à la manipulation et au stockage corrects de vos étalons (voir également la question suivante).
Étalons COULOSCOPE® dans un cas exceptionnel : Nos étalons COULOSCOPE® sont une exception en matière de nettoyage. Ils sont livrés avec une "gomme" qui permet de réactiver la couche d'oxyde de nickel.
Comment dois-je conserver mes normes ?
Ne stockez pas vos étalons dans des atmosphères condensantes ou corrosives. Une humidité excessive peut endommager les couches.
Puis-je retirer les étiquettes DAkkS de mon étui standard ?
Non, veuillez ne pas retirer les marques DAkkS des boîtiers. Le certificat DAkkS n'est valable qu'en liaison avec les marques DAkkS correspondantes sur les boîtiers.
Je ne trouve pas mon certificat DAkkS. Où et comment puis-je en obtenir un nouveau ?
Sur demande, nous pouvons réémettre des certificats DAkkS. Toutefois, veuillez noter que cela implique un long délai et des coûts supplémentaires. Pour ce faire, veuillez contacter directement votre représentant personnel Fischer qui se fera un plaisir de vous faire une offre individuelle.
Le certificat DAkkS est-il également disponible sous forme numérique ?
Pas encore, malheureusement, mais nous y travaillons.
Où puis-je trouver les conditions générales ?
Vous trouverez ici les conditions générales d'utilisation.
Est-il possible de mesurer des étalons de Fischer avec mon appareil FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ?
Oui, mais cela dépend de l'optique polycapillaire installée dans votre appareil. En fonction de l'optique polycapillaire, vous pouvez mesurer des points de mesure dans une plage d'environ 10-50 µm. Ces très petits points de mesure permettent de visualiser des inhomogénéités localisées, telles que des "trous d'épingle", ou des différences d'épaisseur sur des surfaces à forte rugosité. Les mesures en un seul point de nos étalons peuvent donc (en fonction du matériau) entraîner une plus grande dispersion des mesures ou une falsification des résultats de l'étalonnage. Pour les étalons mesurés avec nos appareilsFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ , vous devez donc toujours utiliser le mode balayage.
Où puis-je trouver la déclaration de conformité ?
Les normes étant individuelles et non soumises à la normalisation, nous ne pouvons pas délivrer de déclaration de conformité. En outre, nous fournissons également des normes pour les mesures RoHS et les revêtements spéciaux, dont certains nécessitent l'utilisation de matériaux qui ne sont pas conformes à la directive RoHS.
La valeur nominale de l'étalon livré diffère de la valeur indiquée dans l'offre. Quelle en est la raison ?
Nos normes sont sujettes à des variations liées à la fabrication de ±20 % de l'épaisseur de revêtement spécifiée. Il ne s'agit pas d'un défaut, mais d'une tolérance admissible. Nous vous fournissons toujours des étalons qui sont aussi proches que possible de la valeur de l'offre spécifiée.
Quelle valeur s'applique : celle de la norme ou celle du certificat ? Pourquoi ces valeurs sont-elles parfois différentes ?
Toutes les valeurs mesurées sont sujettes à un certain degré de variation. Par conséquent, les valeurs indiquées dans le certificat après recertification peuvent différer de la valeur étiquetée, tant qu'elles restent dans les limites de l'incertitude de mesure spécifiée. Pour les feuilles tactiles certifiées conformément à la norme DIN EN ISO/IEC 17025:2017, les valeurs imprimées sur la feuille peuvent également différer de celles indiquées dans le certificat en raison de facteurs liés au système. La valeur en vigueur est toujours celle indiquée dans le certificat.
Les normes tactiles sont-elles également exposées au risque d'usure ?
Oui, les étalons tactiles sont généralement soumis à une usure naturelle due à la mesure tactile. Dès que des dommages tels que des bosses ou des fissures sont visibles sur la surface de mesure marquée, nous recommandons de remplacer l'étalon.
Pourquoi les feuilles tactiles ne sont-elles pas recertifiées ?
Les feuilles destinées aux dispositifs de mesure tactile sont sujettes à l'usure due à l'utilisation et ne peuvent donc pas être recertifiées.
Les valeurs mesurées lors de la certification par un tiers des feuilles plastiques pour les appareils de mesure tactile sont plus élevées que les valeurs fournies par Helmut Fischer. Quelle en est la raison ?
L'écart dans l'épaisseur de la feuille est probablement dû à la configuration de la mesure. Nous supposons que les feuilles ont été mesurées à l'aide d'un tampon plat. Avec cette méthode, il n'y a pratiquement pas d'empreinte dans la feuille lors de la mesure de l'épaisseur de la feuille. C'est donc l'épaisseur réelle de la feuille qui est mesurée. L'épaisseur de la feuille mesurée à l'aide de cette méthode est généralement légèrement supérieure à l'épaisseur de la feuille spécifiée par Fischer.
Les feuilles d'étalonnage que nous mesurons sont utilisées pour étalonner nos appareils avec les sondes de mesure correspondantes.
Les sondes de mesure de Fischer ont une petite pointe sphérique qui est placée sur la feuille d'étalonnage ou sur la surface à mesurer. Lorsque la sonde est placée sur la feuille plastique, cette pointe sphérique crée une petite marque de pression qui dépend, entre autres, de l'épaisseur de la feuille d'étalonnage. Cette empreinte est prise en compte lors de la mesure de nos feuilles d'étalonnage. Par conséquent, la valeur nominale des feuilles d'étalonnage fabriquées par Helmut Fischer sera toujours légèrement inférieure à l'épaisseur réelle de la feuille d'étalonnage. Si cette marque de pression sur les feuilles de calibrage n'était pas prise en compte, vous mesureriez des épaisseurs de couche incorrectes sur les pièces réelles après avoir calibré nos appareils de mesure avec ces feuilles.