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FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

Le produit peut varier en fonction du modèle ou des fonctionnalités

 

Mesure en ligne avec la plus haute précision pour les films minces.

Instrument XRF robuste pour la mesure et l'analyse de films minces et de systèmes de couches dans le processus en cours, avec connexion au système de contrôle de la production.

Performance augmentée jusqu'à
50% ¹ grâce au DPP+
Peu d'entretien et robuste,
grâce à des parties inamovibles
Mesurer sous vide ²
ou dans l'air
¹ ² Voir plus
Montrer moins

 

¹ Amélioration significative de la déviation standard et donc de la capacité de mesure ou réduction significative du temps de mesure du DPP+ par rapport au DPP.

² Uniquement FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.

 

Contrôle continu et intelligent de la qualité.

Conçue pour une disponibilité maximale, la série FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 convainc notamment par son haut degré de personnalisation et ses performances de mesure exceptionnelles - sans contact, non destructives et précises. Les appareils de cette série forment des unités modulaires, c'est pourquoi ils peuvent être facilement installés en tant que composants purs dans une usine existante.

Sur mesure.

Intégration facile, adaptation individuelle à votre application

Ne transpire pas.

Températures d'échantillon jusqu'à 250 °C (482 °F) grâce au refroidissement par eau.

Processeur d'impulsions numérique DPP+.

Temps de mesure plus courts ou amélioration de l'écart-type*

*par rapport au DPP

Robuste et fiable.

Pas de pièces mobiles

Conception compacte.

Tête de mesure avec tous les composants nécessaires en une seule unité

Compatible avec le vide.

Peut être monté sur des chambres à vide

  • Caractéristiques

      Tube microfoyer avec anode en tungstène ; anode en molybdène en option

      Ouverture fixe (configurable jusqu'à Ø 11 mm)

      Pour les mesures sous vide ou dans l'air

      En option, refroidissement à l'eau pour des températures d'échantillon allant jusqu'à 250 °C

      Détecteur de dérive au silicium 50 mm² pour une plus grande précision

      Filtre fixe (configurable)

      Refroidissement à effet Peltier

      Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.

      Toute position d'installation possible

      Contrôle à distance et exportation de données via l'interface TCP/IP

  • Exemples d'application

      • Mesure des couches minces et des faibles charges sur des produits et substrats de grande surface, tels que les piles à combustible, les panneaux de verre et les surfaces très chaudes
      • Contrôle de la composition et de l'épaisseur des couches dans les cellules photovoltaïques telles que le CIGS, le CIS, le CdTe et le CdS
      • Mesure de couches minces de quelques µm sur des bandes métalliques, des feuilles métalliques et des films plastiques
      • Surveillance du processus des équipements de pulvérisation et de galvanoplastie

      Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!

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