Découvrez nos nouveaux FISCHERSCOPE® XDAL® et XDV®, ainsi que le logiciel de pointe FISIQ® X. En savoir plus!

WinFTM®

Ordinateur portable avec WinFTM

Le cœur mathématique de nos instruments FISCHERSCOPE® X-RAY.

Le logiciel le plus puissant du marché pour la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux par fluorescence X.

Interface utilisateur
intégralement configurable
Séquences de mesure
automatisées
Contrôle statistique
des processus

Gérer et évaluer efficacement les données de mesure.

Qu'il s'agisse de contrôle à la réception, de contrôle de qualité ou de laboratoire de recherche, les exigences relatives à un bon logiciel de technique de mesure sont aussi différentes que le spectre d'application des instruments FISCHERSCOPE® X-RAY. Pour répondre à toutes ces exigences, WinFTM® offre exactement les caractéristiques et les fonctions nécessaires pour une mesure rapide, une évaluation efficace et une documentation professionnelle des données de mesure.

Résultats de mesure traçables.

Flux de travail d'étalonnage simple et guidé et étalons Fischer avec certificat DAkkS

Mesures précises même sans étalons.

Mesure de l'épaisseur du revêtement et de la composition du matériau sur la base d'algorithmes de paramètres fondamentaux développés en permanence.

Automatisation.

Programmation et exécution automatique de séquences de mesure récurrentes

Évaluation pratique.

Evaluations statistiques étendues, y compris le contrôle statistique des processus (CSP).

Exportation directe des données.

Exportation aisée des données vers diverses interfaces, telles que les systèmes de gestion de la qualité.

Création facile de rapports de données.

Rapports entièrement personnalisables et création de protocoles de mesure individuels, en un seul clic.

Fonctionnalités

Ces caractéristiques et bien d'autres font de WinFTM® le logiciel XRF le plus complet pour le contrôle de la qualité :

 

  • Reconnaissance automatique des formes

      WinFTM® dispose d'une technologie avancée de reconnaissance d'images et de formes qui lui permet d'identifier automatiquement des structures prédéfinies. Cela permet de compenser les écarts de positionnement lors de la mesure de plusieurs pièces d'essai (comme le contrôle de pièces dans la fabrication).

  • Reconnaissance automatique du matériau (classes de substances)

      Grâce à la reconnaissance intelligente des matériaux, différentes pièces d'essai ayant des compositions et des épaisseurs de couche différentes peuvent être classées dans des catégories de substances prédéfinies. WinFTM® peut alors charger automatiquement les paramètres d'étalonnage et de mesure appropriés pour chaque pièce d'essai.

  • Processus de mesure automatisés

      WinFTM® permet la programmation et l'exécution automatique de séquences de mesure récurrentes. Même les processus de mesure complexes peuvent ainsi être exécutés facilement et de manière fiable par un simple clic ou une simple touche. Les instructions destinées à l'opérateur peuvent être affichées clairement à l'écran, ce qui facilite encore l'utilisation de l'appareil.

  • Des mesures traçables en toute simplicité

      Grâce aux fonctions d'étalonnage intuitives de WinFTM® et à notre vaste gamme d'étalons de calibration Fischer, vous obtenez des résultats de mesure fiables et traçables. WinFTM® prend en charge l'étalonnage basé sur les étalons avec jusqu'à 64 étalons de calibration par tâche de mesure.

  • Surveillance de l'équipement de mesure

      WinFTM® vous offre des fonctions intégrées et entièrement automatisables pour la surveillance des appareils de mesure. Avec notre kit de surveillance des appareils de mesure disponible en option, votre appareil de mesure se contrôle lui-même à intervalles définis et documente les résultats de manière fiable.

  • Mesure libre standard

      Grâce à nos algorithmes de paramètres fondamentaux, qui ont été développés et optimisés au fil des ans, notre système permet de déterminer l'épaisseur du revêtement et d'analyser les matériaux même sans étalonnage avec des normes d'étalonnage. Cela permet de gagner du temps et d'accroître la flexibilité des mesures.

  • Fonctions statistiques, y compris le contrôle statistique des processus (CSP)

      WinFTM® propose des évaluations statistiques complètes telles que des histogrammes, des réseaux de probabilité, ainsi que des diagrammes SPC comprenant le calcul Cp/Cpk. Cela vous permet d'analyser efficacement les données de mesure et de détecter les variations du processus.

  • Fonctions du rapport

      Notre logiciel vous permet de créer facilement des protocoles avec un en-tête de protocole modifiable, des données de mesure, des résultats statistiques, etc. Vous pouvez imprimer les rapports ou exporter les résultats des mesures dans différents formats.

  • Protocoles de mesure personnalisés

      Obtenez les rapports de mesure en quelques clics ! Grâce à des modèles entièrement configurables, vous pouvez exporter les résultats des mesures en quelques secondes dans le format approprié.

Applications

Mesure de l'épaisseur du revêtement
Analyse des matériaux
Analyse qualitative des éléments
Analyse de la solution
  • Jusqu'à 24 variables mesurées simultanément (une variable mesurée peut être l'épaisseur d'une couche ou la concentration d'un élément)
  • L'épaisseur de la couche et la composition peuvent être mesurées en parallèle.
  • Mode de mesure de surface
  • Mesure simultanée de 24 éléments
  • Analyse de l'or avec indication des résultats en % ou en carat
  • Analyse des oligo-éléments pour le contrôle de la directive RoHS
    • Identification automatique des matériaux
    • Affichage simple des feux de signalisation pour les conformes/non conformes
  • Analyse de matériaux en vrac inconnus
  • Identification automatique des éléments incluse
  • Mesure simultanée d'un maximum de 24 éléments
  • Conversion automatique des fractions de masse en concentrations de solutions
  • Mesure de l'épaisseur du revêtement

      • Jusqu'à 24 variables mesurées simultanément (une variable mesurée peut être l'épaisseur d'une couche ou la concentration d'un élément)
      • L'épaisseur de la couche et la composition peuvent être mesurées en parallèle.
      • Mode de mesure de surface
  • Analyse des matériaux

      • Mesure simultanée de 24 éléments
      • Analyse de l'or avec indication des résultats en % ou en carat
      • Analyse des oligo-éléments pour le contrôle de la directive RoHS
        • Identification automatique des matériaux
        • Affichage simple des feux de signalisation pour les conformes/non conformes
  • Analyse qualitative des éléments

      • Analyse de matériaux en vrac inconnus
      • Identification automatique des éléments incluse
  • Analyse de la solution

      • Mesure simultanée d'un maximum de 24 éléments
      • Conversion automatique des fractions de masse en concentrations de solutions
Notes d'application
Tutoriels
Webinaires
Brochures
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Report documentation

Fischer Insights.

Méthode de mesure.

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