FISCHERSCOPE® XDV®
Nouveau
Le produit peut varier en fonction du modèle ou des caractéristiques
6x plus rapide ¹ ²
plus rapide ¹
10x plus élevée ¹
¹ En comparaison avec le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
² En fonction de la surface de l'échantillon.
La vitesse rencontre la précision.
Le FISCHERSCOPE® XDV® est un appareil de mesure de fluorescence X haut de gamme de Fischer, idéal pour les mesures automatisées sur des structures minuscules. L'appareil impressionne par sa facilité d'utilisation, sa vitesse maximale et sa précision. Le capot motorisé peut être ouvert et refermé de manière entièrement automatique - pour une utilisation sûre et confortable. Le logiciel moderne FISIQ® X XRF garantit des processus efficaces et fluides ainsi qu'un rendement accru dans votre processus de mesure.
Axe Z à grande vitesse.
Pour un positionnement rapide de vos échantillons
Autofocus en moins de 2 secondes.
Acquisition et mise au point rapides de l'objet à mesurer pour des processus de mesure encore plus efficaces.
Caméra d'observation haute résolution.
Gardez une meilleure vue d'ensemble grâce à des images plus nettes et plus détaillées.
Éclairage LED multizone.
Un éclairage parfait à tout moment, quelle que soit la surface.
Hotte de mesure automatisée.
Fonctionnement manuel ou automatisé pour une flexibilité maximale
Géométrie de mesure optimisée.
Précision de mesure inégalée grâce à l'espacement accru entre le tube à rayons X, l'échantillon et le détecteur.
Éclairage d'état intuitif.
Vérifier l'état de l'appareil en un coup d'œil
Illuminez chaque détail : Profitez de l'éclairage LED multizone et de la caméra d'observation haute résolution pour un éclairage parfait et une analyse des plus précises.
Fonctionnement sans effort, les mains libres : Flexibilité inégalée grâce à un capot motorisé. Il suffit d'appuyer sur un bouton ou d'utiliser un logiciel d'automatisation. Conçu pour des processus sans faille et ininterrompus.
Une distance optimisée entre le tube à rayons X, l'échantillon et le détecteur permet d'obtenir une intensité maximale et garantit une précision de mesure exceptionnelle - pour des résultats particulièrement fiables et de haute qualité.
La bande lumineuse LED indique l'état de l'appareil en un coup d'œil. La lumière bleue indique le mode veille, la lumière verte indique que l'appareil est prêt à effectuer une mesure et la lumière orange pulsée indique que la mesure est en cours.
FISIQ® X : Le premier logiciel XRF moderne avec mode spectre supporté par l'IA. Augmentez votre productivité grâce à des flux de travail simplifiés et efficaces.
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène, autres anodes disponibles sur demande
Capot de mesure automatisé
Détecteur de dérive au silicium 20 mm² ou 50 mm² pour une précision maximale sur les couches minces
Quatre ouvertures (collimateurs) et six filtres
Dispositif de protection totale homologué
Logiciel FISIQ® X avec mode spectre assisté par l'IA pour des processus de mesure plus intelligents
Distance de mesure en continu avec mesure du haut vers le bas
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Table de mesure programmable pour des mesures automatisées
Exemples d'application
- Analyse de revêtements très fins, par exemple des revêtements d'or/palladium de ≤ 50 nm (0,002 mils).
- Mesures de revêtements fonctionnels dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs, par exemple détermination de l'épaisseur des couches d'or jusqu'à 2 nm (0.00008 mils) pour les grilles de connexion.
- Mesure de revêtements ultraminces sur des tranches de silicium
- Détermination des revêtements d'éléments légers sur les plaquettes (Al, Ti, NiP)
- Feuilles pour piles à combustible et batteries : métaux (Pt, Ir, Ce ; Ni, Co, Mn) dans une matrice organique (carbone)
- Analyse de l'or avec les exigences les plus élevées
- Détermination de systèmes complexes à revêtements multiples
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
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