FISCHERSCOPE® XDAL®
Nouveau
6x plus rapide ¹ ²
plus rapide ¹
10x plus élevée ¹
¹ En comparaison avec le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
² En fonction de la surface de l'échantillon.
Manipulation aisée, vitesse et précision maximales.
Le FISCHERSCOPE® XDAL® est idéal pour les applications dans le domaine des revêtements minces et très minces < 0,05 μm et pour l'analyse des matériaux dans la gamme des ppm. Cette version de l'appareil est équipée de la dernière génération de détecteurs puissants, un détecteur de dérive au silicium de 50 mm². L'éclairage d'état intuitif, le capot automatique, ainsi que le logiciel moderne FISIQ® X XRF, garantissent un processus de mesure fluide - pour plus de commodité, de sécurité et un rendement maximal.
Axe Z à grande vitesse.
Pour un positionnement rapide de vos échantillons
Autofocus en moins de 2 secondes.
Acquisition et mise au point rapides de l'objet à mesurer pour des processus de mesure encore plus efficaces.
Caméra d'observation haute résolution.
Gardez une meilleure vue d'ensemble grâce à des images plus nettes et plus détaillées.
Éclairage LED multizone.
Un éclairage parfait à tout moment, quelle que soit la surface.
Porte automatique.
Fonctionnement manuel ou automatique pour une flexibilité maximale
Géométrie de mesure optimisée.
Précision de mesure inégalée grâce à l'espacement accru entre le tube à rayons X, l'échantillon et le détecteur.
Éclairage d'état intuitif.
Vérifier l'état de l'appareil en un coup d'œil
Caméra de détail avec éclairage LED multizone : éclairage optimal de toutes les surfaces de l'échantillon (mates, brillantes, réfléchissantes).
Capot motorisé qui peut être ouvert et fermé en appuyant sur un bouton ou contrôlé par un logiciel. Pour des processus fluides et efficaces.
Une meilleure distance entre le tube à rayons X, l'échantillon et le détecteur assure une intensité maximale et garantit une précision de mesure inégalée - pour des résultats fiables et de haute qualité.
La bande lumineuse LED indique l'état de l'appareil en un coup d'œil. La lumière bleue indique le mode veille, la lumière verte indique que l'appareil est prêt à effectuer une mesure et la lumière orange pulsée indique que la mesure est en cours.
FISIQ® X : Le premier logiciel XRF moderne avec mode spectre supporté par l'IA. Augmentez votre productivité grâce à des flux de travail simplifiés et efficaces.
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène, autres anodes disponibles sur demande
Boîtier à fente en C pour des mesures automatisées sur des échantillons plus grands
Détecteur de dérive au silicium 20 mm² ou 50 mm² pour une précision maximale sur les couches minces
Quatre ouvertures (collimateurs) et six filtres
Dispositif de protection totale homologué
Logiciel FISIQ® X avec mode spectre assisté par l'IA pour des processus de mesure plus intelligents
Distance de mesure en continu avec mesure du haut vers le bas
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Table de mesure programmable pour des mesures automatisées
Exemples d'application
- Analyse de revêtements très fins de ≤ 0,1 μm (0,004 mils).
- Mesures de revêtements fonctionnels dans les industries de l'électronique et des semi-conducteurs, par exemple sur les grilles de connexion, les connecteurs ou les cartes de circuits imprimés.
- Détermination de systèmes complexes à revêtements multiples
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
- Détermination de la teneur en plomb dans les soudures
- Détermination de la teneur en phosphore dans les revêtements NiP
- Détermination des finitions des circuits imprimés
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