FISCHERSCOPE® XDAL®
Nouveau
Le produit peut varier en fonction du modèle ou des caractéristiques
avec une géométrie de mesure optimisée
ultra-rapide
guidage utilisateur avec le logiciel FISIQ® X
Manipulation aisée, vitesse et précision maximales.
Lorsque la précision repousse les limites, notre FISCHERSCOPE® XDAL® redéfinit le champ des possibles. Successeur innovant de notre FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, il est idéal pour les applications dans le domaine des revêtements fins et très fins (< 0.05 μm) ainsi que pour l’analyse des matériaux dans la plage ppm. Vous pouvez choisir entre nos modèles XDAL® 650, équipé de notre puissant détecteur à dérive de silicium de 50 mm², et XDAL® 620, équipé d’un détecteur à dérive de silicium de 20 mm². Associée à notre logiciel XRF de pointe FISIQ® X, cette solution haut de gamme garantit un processus de mesure fluide pour davantage de confort, de sécurité et un débit maximal.
Positionnement ultra-rapide des échantillons.
Axe Z haute vitesse : 6 fois plus rapide*
Capture rapide des échantillons.
Mise au point automatique en moins de 2 secondes – 14 fois plus rapide*
Fonctionnement automatisé.
Capot automatique ou manuel pour une flexibilité maximale
Éclairage optimal des échantillons et capture d’image.
Résolution de caméra 10 fois supérieure* et éclairage LED multizone
* Comparé au FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Une précision exceptionnelle et des résultats reproductibles.
Géométrie de mesure optimisée
État de l’appareil toujours visible.
Voyant d’état intuitif à 180°
Utilisation et assistance utilisateur améliorées.
Nouveau logiciel FISIQ® X
Grandes pièces.
La fente en C permet la mesure de grandes pièces
Caméra de détail avec éclairage LED multizone : éclairage optimal de toutes les surfaces de l'échantillon (mates, brillantes, réfléchissantes).
Mesurez à votre façon – automatiquement ou manuellement – avec un capot motorisé pour une flexibilité maximale.
Une meilleure distance entre le tube à rayons X, l'échantillon et le détecteur assure une intensité maximale et garantit une précision de mesure inégalée - pour des résultats fiables et de haute qualité.
La bande lumineuse LED indique l'état de l'appareil en un coup d'œil. La lumière bleue indique le mode veille, la lumière verte indique que l'appareil est prêt à effectuer une mesure et la lumière orange pulsée indique que la mesure est en cours.
FISIQ® X : Le premier logiciel XRF moderne avec mode spectre supporté par l'IA. Augmentez votre productivité grâce à des flux de travail simplifiés et efficaces.
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène, autres anodes disponibles sur demande
Boîtier à fente en C pour mesurer des échantillons plus grands
Détecteur de dérive au silicium 20 mm² ou 50 mm² pour une précision maximale sur les couches minces
Quatre ouvertures (collimateurs) et six filtres
Approbation individuelle en tant qu'instrument entièrement protégé
Logiciel FISIQ® X avec mode spectre assisté par IA pour des processus de mesure plus intelligents
Distance de mesure en continu avec mesure du haut vers le bas
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Hotte automatisée et table de mesure programmable pour des mesures automatisées
Exemples d'application
- Analyse de revêtements très fins de ≤ 0,1 μm (0,004 mils).
- Mesures de revêtements fonctionnels dans les industries de l'électronique et des semi-conducteurs, par exemple sur les grilles de connexion, les connecteurs ou les cartes de circuits imprimés.
- Mesure de systèmes multicouches complexes
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
- Détermination de la teneur en plomb dans les soudures
- Détermination de la teneur en phosphore dans les revêtements NiP
- Détermination des finitions des circuits imprimés
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!
Vidéos sur les produits
Brochures
Vidéos sur les produits
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Brochures
FISCHER insights
Découvrez d'autres produits
