FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
































































Le produit peut varier en fonction du modèle ou des fonctionnalités
Plus petit point de mesure, la plus grande distance de mesure.
Maîtriser les tâches de mesure exigeantes avec les polycapillaires : Appareil de mesure XRF haut de gamme avec optique à rayons X polycapillaire pour les mesures sur les composants les plus petits avec le plus petit spot de mesure et la plus grande distance de mesure.
de la performance¹ grâce au DPP+
la plus petite taille de spot
la meilleure de sa catégorie !
¹ Amélioration significative de la déviation standard et donc de la capacité de mesure ou réduction significative du temps de mesure par rapport au DPP par rapport au DPP+.
La performance à son plus haut niveau
Le meilleur pour les petites pièces de forme complexe. La distance de mesure inégalée combinée au plus petit spot de mesure et au tube microfokus Ultra pour des performances plus élevées avec les plus petits spots de mesure font du FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD l'instrument XRF leader de l'industrie.
Relever tous les défis.
Des résultats fiables et rapides pour des tâches de mesure ambitieuses
Les optiques polycapillaires les plus avancées du marché.
Nos optiques polycapillaires fabriquées en interne fournissent des résultats de mesure exceptionnels avec des temps de mesure courts.
Programmable.
Mesures automatisées sur des structures prédéfinies grâce à une technologie avancée de reconnaissance de formes
Entièrement automatisable.
Laissez votre instrument travailler pour vous en un seul clic
Processeur d'impulsions numérique DPP+.
Temps de mesure plus courts ou amélioration de l'écart-type*
*par rapport au DPP
Caractéristiques
Tube microfoyer Ultra avec anode en tungstène pour des performances encore plus élevées sur les plus petits spots ; anode en molybdène en option
Filtres interchangeables
Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.
L'optique polycapillaire permet d'obtenir des points de mesure particulièrement petits, des temps de mesure courts et une intensité élevée.
Point de mesure env : Ø 60 µm
Détermination de la teneur en métaux dans les bains galvaniques et accessoires correspondants
Détecteur de dérive au silicium avec une surface active de 20 ou 50 mm² pour une précision maximale avec les couches minces
Hauteur possible des échantillons jusqu'à 135 mm
Exemples d'application
- Mesure des plus petits composants et structures tels que les circuits imprimés assemblés et de forme complexe, les contacts enfichables, les zones de collage, les composants SMD ou les fils minces
- Mesure des couches fonctionnelles dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs
- Détermination de systèmes multicouches complexes
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!




