FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
































































Le produit peut varier en fonction du modèle ou des fonctionnalités
de la performance grâce au DPP+
Produit en interne et développé en permanence²
optique polycapillaire adaptée³
¹ Amélioration significative de la déviation standard et donc de la capacité de mesure ou réduction significative du temps de mesure par rapport au DPP par rapport au DPP+.
² Optique polycapillaire en constante évolution. Optiques capillaires haut de gamme fabriquées par Fischer - le seul fabricant au monde d'instruments de mesure de la fluorescence X à posséder sa propre production de polycapillaires.
Trois différents polycapillaires haut de gamme sont disponibles - la bonne solution pour chacune de vos applications : 10 µm sans halo, 20 µm sans halo ou 20 µm avec halo.
Pour les exigences les plus élevées jusqu'au plus petit µ.
Les instruments FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ font partie des appareils de mesure de fluorescence X haut de gamme de Fischer et sont idéaux pour mesurer des structures minuscules. Ils sont équipés de la dernière génération de puissants détecteurs de dérive au silicium, de tubes microfocus Ultra et d'optiques polycapillaires produites en interne. Grâce à l'intensité élevée du rayonnement, les temps de mesure sont considérablement réduits et il est possible d'effectuer des mesures très précises sur les points de mesure les plus petits.
Relever tous les défis.
Des résultats fiables et rapides pour des tâches de mesure ambitieuses
Les optiques polycapillaires les plus avancées du marché.
Nos optiques polycapillaires fabriquées en interne fournissent des résultats de mesure exceptionnels avec des temps de mesure courts.
Programmable.
Mesures automatisées sur des structures prédéfinies grâce à une technologie avancée de reconnaissance de formes
Entièrement automatisable.
Laissez votre instrument travailler pour vous en un seul clic
Processeur d'impulsions numérique DPP+.
Temps de mesure plus courts ou amélioration de l'écart-type*
*par rapport au DPP
Caractéristiques
Tube microfoyer Ultra avec anode en tungstène pour des performances encore plus élevées sur les plus petits spots ; anode en molybdène en option
Filtres interchangeables
Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.
L'optique polycapillaire permet d'obtenir des points de mesure particulièrement petits, des temps de mesure courts et une intensité élevée.
Point de mesure env : Ø 10 ou 20 µm
Détecteur de dérive au silicium avec une surface active de 20 ou 50 mm² pour une précision maximale
Hauteur possible des échantillons jusqu'à 135 mm
Exemples d'application
- Mesure sur les plus petits composants plats et les structures telles que les traces, les contacts ou les lead frames
- Mesure des couches fonctionnelles dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs
- Détermination de systèmes multicouches complexes
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
- Mesure d'éléments légers, par exemple détermination de la teneur en phosphore dans le nickel chimique sous or et palladium (ENIG/ENEPIG)
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!
Notes d'application
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs 0.56 MB AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry 0.57 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level 1.46 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVidéos sur les produits
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