FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
de la performance grâce au DPP+
ouvertures modifiables
filtres interchangeables
¹ Amélioration significative de la déviation standard et donc de la capacité de mesure ou réduction significative du temps de mesure par rapport au DPP par rapport au DPP+.
Analyse par fluorescence X pour les exigences universelles les plus élevées.
Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des instruments de fluorescence X les plus puissants de la gamme Fischer. Ce modèle haut de gamme vous permet d'atteindre un nouveau niveau de performance : En combinaison avec le processeur d'impulsions numérique DPP+ développé en interne, il est désormais possible de traiter des taux de comptage encore plus élevés, ce qui permet de réduire les temps de mesure ou d'améliorer la répétabilité de vos résultats de mesure.
Construit pour durer.
Conception robuste pour des exigences particulièrement élevées
Entièrement automatisable.
Laissez votre appareil travailler pour vous en un seul clic.
Conception à mesure rapide.
En quelques étapes simples, l'échantillon est placé et prêt à être mesuré. Il est possible d'automatiser les mesures de nombreuses pièces
Rapide.
Grâce à des temps de mesure courts, vous gagnez un temps précieux
Analyse RoHS.
Détermination des polluants avec une grande précision de détection et des performances exceptionnelles
Processeur d'impulsions numérique DPP+.
Temps de mesure plus courts ou amélioration de l'écart-type*
*par rapport au DPP
Transmission, exploitation et exportation des données de mesure en temps réel avec WinFTM®, le logiciel d'application le plus puissant du marché.
Ouverture jusqu'à 3 mm : intensité maximale pour un temps de mesure réduit, même avec des échantillons difficiles.
Table de mesure programmable pour des mesures automatisées sur de petites structures.
Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des instruments de fluorescence X les plus puissants de la gamme Fischer.
Le détecteur de dérive au silicium haute résolution et haute performance permet de mesurer les couches les plus fines avec précision et de manière non destructive.
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène
Détecteur de dérive au silicium 50 mm² avec une surface effective extra-large de 50 mm².
Détermination de la teneur en métaux dans les bains galvaniques et accessoires correspondants
Point de mesure env : Ø 0,25 mm
Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.
Dispositif de protection totale homologué
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Ouverture quadruple et filtres sextuple
Exemples d'application
- Mesure de revêtements fonctionnels dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs, par exemple détermination de l'épaisseur des revêtements d'or jusqu'à 2 nm.
- Analyse de revêtements minces et très minces dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs, comme les couches d'or/palladium de ≤ 0,1 μm.
- Détermination de systèmes multicouches complexes
- Mesure de l'épaisseur des revêtements pour les applications photovoltaïques, les piles à combustible et les cellules de batterie.
- Analyses de traces de substances dangereuses telles que le plomb et le cadmium conformément aux directives RoHS, WEEE, CPSIA et autres pour l'électronique, l'emballage et les produits de consommation.
- Analyse et vérification de l'authenticité de l'or et d'autres métaux précieux et alliages de métaux précieux
- Détermination directe de la teneur en phosphore dans les couches fonctionnelles de NiP
- Détermination de la teneur en métaux des bains galvaniques
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Notes d'application
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Notes d'application
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