FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
méthode DCM brevetée
intégrale homologué
fenêtre de mesure sur le marché
Automatisation XRF pour les débutants.
Les instruments de la série FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® sont prédestinés aux mesures dans le cadre de l'assurance qualité, de l'inspection à la réception et du contrôle de la production. Ils sont étroitement liés à la série XULM®, avec une différence significative : la direction de mesure du haut vers le bas ! Cela signifie que l'analyse d'échantillons irréguliers est plus aisée et qu'il est possible d'automatiser les mesures.
Egalement pour les grands échantillons.
Capot avec fente en C
Construit pour durer.
Conception robuste pour les mesures sur les pièces produites en série
Essai de points de mesure multiples.
Même pour les échantillons de grande taille, il est possible d'effectuer des mesures sur toute la surface de l'échantillon.
Mise en service.
Extrêmement rapide et simple
Sur mesure.
Différents modèles offrent la solution optimale pour votre application
Conception à mesure rapide.
L'échantillon est placé et prêt à être mesuré en quelques étapes seulement.
Equipé de WinFTM®, le logiciel le plus puissant du marché pour la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux par fluorescence X.
Le capot avec fente en C permet en outre de mesurer des échantillons plats et de grande taille.
Du support d'échantillon plat à la table XY programmable : La série XDL® ne laisse rien à désirer.
Sur les modèles dotés d'une table XY, un pointeur laser servant d'aide au positionnement permet d'aligner rapidement l'échantillon à mesurer.
Le vidéomicroscope intégré avec zoom et réticule facilite l'alignement rapide de l'échantillon et la définition précise du point de mesure.
Caractéristiques
Tube à rayons X standard
Ouverture : fixe
Filtres primaires : fixe
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Plus petit point de mesure env : Ø 0,2 mm
Détermination de la teneur en métaux dans les bains de galvanoplastie avec les accessoires correspondants
Dispositif de protection totale homologué
Détecteur proportionnel à contre-tube pour des temps de mesure courts
Exemples d'application
- Revêtements électrolytiques tels que le zinc sur le fer comme protection contre la corrosion
- Essais en série de pièces produites en masse
- Revêtements de chrome décoratifs, par exemple Cr/Ni/Cu/ABS
- Tous les revêtements de chrome typiques, tels que le Cr(VI) et les nouveaux comme le Cr(III)
- Mesure des revêtements d'or fonctionnels sur les circuits imprimés, tels que Au/Ni/Cu/PCB
- Revêtements de connecteurs et de contacts dans l'industrie électronique tels que Au/Ni/Cu et Sn/Ni/Cu
- Détermination de la teneur en métaux des bains galvaniques
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!
Notes d'application
Vidéos sur les produits
Tutoriels
Webinaires
Brochures
Notes d'application
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MBVidéos sur les produits
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: IntroductionTutoriels
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: With DCM: Easy measurement of complex shaped samplesWebinaires
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationBrochures
Fischer Insights.
Découvrez d'autres produits.
