FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
méthode DCM brevetée
intégrale homologué
automatisable
L'analyse par fluorescence X pour des exigences plus élevées.
Mince, plus mince, XDAL® : Grâce au tube microfoyer et aux différents détecteurs à semi-conducteurs, la série FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® est idéale pour les applications dans le domaine des revêtements minces et très minces < 0,05 μm ainsi que pour l'analyse des matériaux dans la plage des ppm. La version de l'instrument avec le détecteur de dérive au silicium de 50 mm² est en outre adaptée aux mesures RoHS. Le XDAL® est flexible et, grâce aux différentes options de configuration (table, ouverture, filtre et détecteur), universel, il mesure de manière fiable, précise et garantit une sécurité à 100 %.
Mise en service.
Extrêmement rapide et simple
Un seul appareil, de nombreuses possibilités.
Mesure de l'épaisseur du revêtement, analyse du matériau et analyse des traces
Essai de points de mesure multiples.
Même avec des échantillons de grande taille, il est possible d'effectuer des mesures sur toute la surface de l'échantillon.
Egalement pour les grands échantillons.
Capot avec fente en C
Entièrement automatisable.
Laissez votre instrument travailler pour vous en un seul clic
Conception compacte.
Très bon compromis entre performance et encombrement
Transmission, exploitation et exportation des données de mesure en temps réel avec WinFTM®, le logiciel d'application le plus puissant du marché.
Minimisez les risques lors de l'inspection des marchandises entrantes : éliminez les différents lots de soudure grâce à la table de mesure programmable et au détecteur à semi-conducteurs.
Il n'y a rien de plus pratique : Mesure en continu de la distance avec une mesure par le haut et un étalonnage à la sortie de l'usine.
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène
Point de mesure env : Ø 0,15 mm
Détecteur PIN et de dérive au silicium pour une très bonne précision de détection et une haute résolution
Trois filtres interchangeables
Dispositif de protection totale homologué
Détermination de la teneur en métaux dans les bains galvaniques et accessoires correspondants
Ouvertures quadruples modifiables
Jusqu'à 140 mm de hauteur possible pour les échantillons
Différentes options de tables de mesure
Exemples d'application
- Analyse des revêtements minces et très minces de ≤ 0,05 μm.
- Mesure de revêtements fonctionnels dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs, par exemple sur les lead frames, les contacts de fiches ou les circuits imprimés.
- Détermination de systèmes multicouches complexes.
- Mesures automatisées, par exemple dans le cadre du contrôle de la qualité
- Détermination de la teneur en plomb dans les soudures
- Avec la version SDD (20 mm² ou 50 mm²) :
- Détermination de la teneur en phosphore dans les couches de NiP
- Répond aux exigences ENIG/ENEPIG
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!
Notes d'application
Vidéos sur les produits
Tutoriels
Webinaires
Brochures
Articles techniques
Notes d'application
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVidéos sur les produits
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: IntroductionTutoriels
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Webinaires
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationBrochures
Articles techniques
Fischer Insights.
Découvrez d'autres produits.
