FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

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Le produit peut varier en fonction du modèle ou des fonctionnalités

 

Le système pour une large gamme d'applications.

Instrument universel pour l'analyse des métaux et des métaux précieux ainsi que pour la mesure de l'épaisseur du revêtement sur des échantillons de forme simple et le contrôle RoHS.

Différentes options de tables de mesure :
Fixe ou manuel
Analyse RoHS :
Détermination fiable des substances dangereuses
Vidéo microscope pour plus de commodité
détermination du point de mesure optimal

L'appareil XRF adapté à chaque application.

Qu'il s'agisse d'un détecteur PIN, d'un détecteur de dérive au silicium, d'un support d'échantillon fixe ou d'une table XY à commande manuelle : Le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® offre des applications polyvalentes et s'adapte à vos besoins. Il permet l'analyse précise des matériaux des métaux précieux et des alliages d'or, la mesure de l'épaisseur des revêtements ou l'analyse des traces. La version de l'instrument avec le détecteur de dérive au silicium de 50 mm² est également adaptée aux mesures RoHS.

Polyvalent.

Pour les applications commerciales, industrielles et de laboratoire

Conception à mesure rapide.

L'échantillon est placé et prêt à être mesuré en quelques étapes seulement.

Mise en service.

Extrêmement rapide et simple

Analyse RoHS.

Détermination fiable des substances dangereuses

Processeur d'impulsions numériques*.

Temps de mesure encore plus courts avec la même déviation standard**

*pas avec le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**par rapport au DPP

  • Caractéristiques

      Tube microfoyer avec anode en tungstène

      Les détecteurs PIN et de dérive au silicium offrent une très bonne précision de détection et une haute résolution.

      Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.

      Capot plus grand : De 90 à 170 mm de hauteur possible des échantillons, en fonction du dispositif.

      Ouverture : fixe ou quadruple*
      Filtres primaires : fixe ou sextuple*
      *selon le dispositif

      Dispositif de protection totale homologué

      Plus petit point de mesure env : Ø 0,3 mm

      Détermination de la teneur en métaux dans les bains galvaniques avec accessoires correspondants

  • Exemples d'application

      • Analyse non destructive des alliages dentaires
      • Revêtements multicouches
      • Analyse des couches fonctionnelles de 10 nm dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs
      • Analyses de traces pour la protection des consommateurs, telles que la teneur en plomb des jouets
      • Détermination des alliages métalliques avec les exigences de précision les plus élevées dans l'industrie de la bijouterie et les raffineries

      Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!

Notes d'application
Vidéos sur les produits
Tutoriels
Webinaires
Brochures
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Fischer Insights.

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