FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®
Fixe ou manuel
Détermination fiable des substances dangereuses
détermination du point de mesure optimal
L'appareil XRF adapté à chaque application.
Qu'il s'agisse d'un détecteur PIN, d'un détecteur de dérive au silicium, d'un support d'échantillon fixe ou d'une table XY à commande manuelle : Le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® offre des applications polyvalentes et s'adapte à vos besoins. Il permet l'analyse précise des matériaux des métaux précieux et des alliages d'or, la mesure de l'épaisseur des revêtements ou l'analyse des traces. La version de l'instrument avec le détecteur de dérive au silicium de 50 mm² est également adaptée aux mesures RoHS.
Polyvalent.
Pour les applications commerciales, industrielles et de laboratoire
Conception à mesure rapide.
L'échantillon est placé et prêt à être mesuré en quelques étapes seulement.
Mise en service.
Extrêmement rapide et simple
Analyse RoHS.
Détermination fiable des substances dangereuses
Processeur d'impulsions numériques*.
Temps de mesure encore plus courts avec la même déviation standard**
*pas avec le FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**par rapport au DPP
Caractéristiques
Tube microfoyer avec anode en tungstène
Les détecteurs PIN et de dérive au silicium offrent une très bonne précision de détection et une haute résolution.
Taux de comptage plus élevés et temps de mesure considérablement réduits grâce au DPP+.
Capot plus grand : De 90 à 170 mm de hauteur possible des échantillons, en fonction du dispositif.
Ouverture : fixe ou quadruple*
Filtres primaires : fixe ou sextuple*
*selon le dispositifDispositif de protection totale homologué
Plus petit point de mesure env : Ø 0,3 mm
Détermination de la teneur en métaux dans les bains galvaniques avec accessoires correspondants
Exemples d'application
- Analyse non destructive des alliages dentaires
- Revêtements multicouches
- Analyse des couches fonctionnelles de 10 nm dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs
- Analyses de traces pour la protection des consommateurs, telles que la teneur en plomb des jouets
- Détermination des alliages métalliques avec les exigences de précision les plus élevées dans l'industrie de la bijouterie et les raffineries
Vous avez d'autres applications ? N'hésitez pas à nous contacter!
Notes d'application
AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN024 Analysis of tarnish-resistant silver alloys 0.49 MB AN026 Determination of the silver content of silver plated or blanched silver alloys 0.55 MB AN028 Using X-ray fluorescence for fast, reliable gold analysis in the gold-buying industry 0.51 MB AN029 Precious metal analysis via X-ray fluorescence for assaying offices and precious metals refineries 0.55 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MBVidéos sur les produits
Tutoriels
Webinaires
Brochures