FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Caractéristiques
- Spectromètre de fluorescence universelle à rayons X pour les mesures automatiques des couches & lt; 0,0 5 um et pour l'analyse des matériaux dans la gamme des ppm selon la norme DIN ISO 3497 et ASTM B 568
- 3 options de détection différents ( diode Si-PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
- 3x changeant les filtres primaires
- 4x variable collimateurs
- Point de mesure le plus petit env. 0,15 mm
- Hauteurs d'exemples jusqu'à 14 cm
- Stade programmable XY avec positionnement de précision de 10 um
- Logement à fente pour la mesure sur de grandes plaques de circuits imprimés
- Dispositif de protection totale certifiée & nbsp;
Applications
- Analyse des matériaux de revêtements et alliages (également revêtements minces et faibles concentrations)
- Industrie électronique, ENIG, ENEPIG
- Connecteurs et contacts
- Industrie de l'or, de la joaillerie et de l'horlogerie
- Mesure de couches minces (quelques nanomètres) d'or et de palladium dans la fabrication de PCB
- Analyse des oligo-éléments
- Détermination du plomb (Pb) pour les applications à haute fiabilité (prévention des moustaches d'étain)
- Analyse des revêtements de matériaux durs
Analyse de fluorescence X pour des demandes sophistiquées
Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® est le meilleur instrument de mesure de fluorescence X de la série XDL . Comme ses « petits frères », il mesure de haut en bas, ce qui rend le test d'échantillons, même de forme étrange, facile et pratique. Afin d'optimiser les conditions de mesure pour votre tâche, le FISCHERSCOPE X-RAY XDAL est livré avec des collimateurs et des filtres interchangeables en équipement standard.
Plus la tâche de mesure est exigeante, plus le type de détecteur est important ! Le FISCHERSCOPE X-RAY XDAL propose donc 3 détecteurs à semi-conducteurs différents.
Le PIN diode au silicium est un détecteur de milieu de gamme et bien adapté à la mesure de plusieurs éléments sur une zone de mesure relativement grande. Lorsqu'il est équipé d'un PIN, le XDAL est souvent utilisé pour inspecter les revêtements de matériaux durs.
Le détecteur de dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie électronique : par exemple, la mesure de couches d'alliage minces ou l'analyse de matériaux d'éléments très similaires tels que l'or et le platine. C'est l'instrument XRF de confiance pour le contrôle qualité avec les applications ENIG et ENEPIG.
Pour les défis particulièrement difficiles, Fischer propose également un SDD avec une surface de détection extra-large. La force de ce détecteur réside dans sa capacité à mesurer de manière fiable des couches jusqu'à quelques nanomètres seulement et à effectuer des analyses de traces dans la plage du millième. Avec ces appareils XDAL, vous pouvez tester la teneur en plomb des soudures destinées aux applications de haute fiabilité afin d'éviter les moustaches d'étain.
