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Mesure en ligne de modules photovoltaïques à couches minces

Energy Generation Measurement Technology

Lors de la fabrication de panneaux ou de films solaires à couche mince (par exemple CIS/CIGS, CdTe), il est essentiel de maintenir exactement les limites d'épaisseur et de composition spécifiées, car cela affecte directement l'efficacité du panneau. Ce n'est qu'avec un système de mesure en ligne précis, rapide et fiable que les paramètres de production peuvent être surveillés en permanence et, par conséquent, la qualité des processus de revêtement peut-être garantie.

Un système photovoltaïque (PV) à couche mince typique est composé d'un empilement assez complexe de couches revêtues sur des substrats tels que du verre ou des feuilles. Alors que les fabricants s'efforcent de développer des produits CdTe/CIS/CIGS fiables et à moindre coût, certains de leurs problèmes les plus critiques sont:

  • efficacité des modules toujours plus élevée
  • couches absorbantes toujours plus minces, de moins de 1 µm
  • stoechiométrie constante du film absorbant et uniformité sur de grandes surfaces

C'est là que la technologie de mesure non destructive, telle que la fluorescence X (XRF), contribue à améliorer l'uniformité et la stoechiométrie - et donc, l'efficacité des cellules et le rendement de production. Le FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 permet une mesure précise et juste des épaisseurs et de la composition des couches dans des systèmes complexes CIS/CIGS/CdTe, pour un contrôle qualité continu en ligne à différentes étapes de la production.

Étant donné que les têtes de mesure à rayons X sont montées via des interfaces standard refroidies dans le système de chambre à vide, elles peuvent même être utilisées dans des machines de production dans des conditions dans lesquelles les températures du substrat approchent 500°C.

Le mouvement et le bombement du produit peuvent se produire pendant le processus de production, ce qui fait fluctuer la distance entre l'échantillon et la tête de mesure. Pour éviter les effets de falsification, le logiciel WinFTM® de FISCHER utilise les informations déjà contenues dans les spectres XRF mesurés, réalisant une compensation de distance fiable sans aucune pièce mobile et évitant ainsi le besoin de capteurs de distance secondaires.

FISCHERSCOPE X-RAY 5000
ProduitFISCHERSCOPE X-RAY 5000FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Lorsque la fonction de compensation de distance est activée, la distance de mesure peut être modifiée jusqu'à +/- 5 mm sans affecter de manière significative les lectures de mesure.

La qualité de production des cellules solaires à couche mince peut être surveillée avec précision et justesse à l'aide de la technologie XRF. Tête de mesure à rayons X en ligne spécialement conçue par FISCHER, FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, répond aussi à toutes les exigences de robustesse des environnements de production en direct. Pour plus d'informations, veuillez contacter votre représentant FISCHER local.

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