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Analyse des traces d'éléments pour les bijoux et accessoires de mode

Parce que les éléments qui entrent en contact avec la peau humaine doivent être exempts de matériaux nocifs et de substances allergènes, de nouvelles réglementations pour la protection des consommateurs sont en cours d'élaboration pour limiter la teneur en plomb (Pb), cadmium (Cd) et autres éléments toxiques ou allergènes dans la mode, les bijoux, les composants de montres et accessoires, ainsi que dans les attaches et ornements métalliques sur sacs à main, portefeuilles ou vêtements. Ce défi analytique nécessite un équipement de mesure capable de détecter rapidement et facilement même les plus petites quantités de ces substances.

Dans le cadre de cette nouvelle réglementation, non seulement les substances organiques nocives mais aussi les métaux lourds, en particulier le Pb, le Cd et le Ni, doivent être sévèrement limités. Selon l'industrie et le pays, les seuils peuvent être extrêmement bas, souvent de l'ordre de 100 ppm.

Pour des raisons de coût, les pièces métalliques des bijoux fantaisie et des accessoires ne sont pas toujours constituées de matériaux solides. Les formes sous-jacentes sont constituées d'alliages faciles à travailler et peu coûteux qui sont ensuite plaqués avec des revêtements décoratifs. Les revêtements et les matériaux du substrat doivent être exempts de Pb et de Cd. Par conséquent, il est plus rapide et économique d'analyser des matériaux de base tels que le laiton et les alliages de zinc avant le façonnage et applicaton du revêtement.

Contrairement à l'énorme effort requis pour l'analyse chimique, il est simple et direct de tester les contaminants à l'aide de la fluorescence X (XRF). Leur force de détection élevée et leurs faibles limites de détection - indispensables dans toute méthode de mesure - font des systèmes XRF de FISCHER la solution idéale pour de tels criblages.

Valeurs typiques de la précision de la répétabilité (écart-type) dans les mesures de sonde, mesurées avec FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.

Matrice

Ecart Type Pb [ppm]

ABS

0,5

Al

2

Cu

13

Zn

20

Sn

0,6

Laiton, réel

10-30

SnBi2, réel

5 - 15

SnBi50 réel

50 - 100

L'écart type des mesures répétées est une indication directe des concentrations les plus faibles détectables par un instrument (limite de détection ~ 3 x écart-type). Les résultats impressionnants du tableau 1 montrent que la méthode XRF et le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD sont particulièrement bien adaptés pour l'analyse des traces - et donc, pour contrôler si les valeurs cibles légales ont été atteintes.

Dans le monde entier, les instruments FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD sont utilisés pour le criblage de matériaux utilisés dans la fabrication de bijoux et d'accessoires de mode. Ces instruments se caractérisent par leur manipulation aisée et leur excellente répétabilité et sont donc les mieux adaptés pour surveiller la conformité aux nouvelles réglementations. Votre contact FISCHER local se fera un plaisir de répondre à vos autres questions.

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