Preguntas frecuentes sobre Fischer
¿Alguna pregunta?
Hay mucho que contar, y seguro que usted también tiene preguntas. Aquí tiene las más comunes. Si necesita más respuestas, póngase en contacto con nosotros. Estaremos encantados de ayudarle.
También encontrará muchos tutoriales interesantes y otra información útil en nuestra mediateca.
FAQ Parámetros importantes
Valor medio
La forma más sencilla de calcular un valor medio es sumar todos los valores y dividir esta suma por el número de valores. Es la media aritmética. Hay otras formas de calcular una media, pero se utilizan muy poco.
Gama
El rango R muestra la distancia entre el valor medido más pequeño y el más grande. Para calcular el rango, el valor medido más bajo se resta del más alto. El rango puede estar fuertemente distorsionado por valores atípicos y, por lo tanto, sólo es útil si tiene pocos valores medidos. Para grandes cantidades de datos, la desviación estándar es más significativa.
Desviación típica
La desviación típica σ indica la dispersión de los valores medidos en torno al valor medio. Una desviación típica elevada indica que los valores medidos difieren mucho entre sí. Si todos los valores están próximos a la media, la desviación típica es pequeña. El grado en que la media y la desviación típica describen la realidad depende, entre otras cosas, del número de valores medidos. Cuantos más puntos de medición haya, más significativas serán las proporciones.
Coeficiente de variación
El tamaño de la desviación típica no sólo depende de la dispersión de los valores medidos, sino también de la magnitud de los valores: un valor medio más alto conlleva automáticamente una desviación típica más alta. Para resolver este problema, la desviación típica relativa, el coeficiente de variación V, suele expresarse en porcentaje. En este caso, la desviación típica se divide por la media aritmética. Al igual que en el caso de la desviación típica, los valores altos también indican una gran dispersión de los valores medidos.
FAQ FRX
¿Qué es el método XRF (fluorescencia de rayos X)?
El análisis de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (XRF ) es un método de medición no destructivo que puede utilizarse para determinar composiciones elementales y espesores de capas. Este método explota la emisión de rayos X característicos de átomos que han sido ionizados por radiación primaria incidente. Utilizando un algoritmo adecuado, pueden extraerse conclusiones sobre las distribuciones cuantitativas y cualitativas de elementos en la muestra examinada.
¿Qué se puede medir con el método XRF?
Los dispositivos de medición por FRX se utilizan para la determinación no destructiva del espesor de revestimientosy el análisis de materiales. En principio, pueden medirse elementos desde el sodio (11) hasta el uranio (92) mediante el análisis XRF. Los espesores de revestimiento que pueden medirse oscilan entre unos pocos nm y aproximadamente 100 µm. Sin embargo, los espesores de capa que pueden medirse en la práctica dependen en gran medida del sistema de capas considerado y, especialmente en el caso de los elementos ligeros, de las condiciones ambientales. Aquí es donde la física del método de medición establece los límites. En el análisis elemental, pueden medirse concentraciones en el rango por mil. También en este caso, la matriz del elemento y otros factores influyentes desempeñan un papel importante en la práctica.

¿Qué tamaño tiene el punto de medición para las mediciones por FRX?
El punto de medición en la muestra viene definido por el tamaño del colimador y la distancia de medición utilizada o, en el caso de las ópticas policapilares, por el tamaño del punto enfocado. Los valores típicos para colimadores son de 30 µm a 3 mm, y para dispositivos con óptica policapilar entre 10 y 20 μm.
¿Qué es un tubo de rayos X?
El tubo de rayos X genera la radiación de rayos X primaria, que ioniza los átomos de la muestra a examinar y proporciona así el requisito previo básico para el análisis XRF y la generación de la radiación de fluorescencia característica en la muestra. La radiación de rayos X primaria es un espectro continuo que consiste principalmente en un fondo de bremsstrahlung y radiación de rayos X característica del material del ánodo utilizado en el tubo de rayos X (en resumen: espectro de excitación). La forma exacta del espectro de excitación se define además por el voltaje y la corriente del tubo utilizados, así como por el tamaño del punto en el ánodo.
¿Qué es un obturador?
El obturador es un componente de seguridad de nuestros aparatos XRF y define el tiempo exacto de medición abriéndose durante la medición. De lo contrario, el obturador permanece cerrado y bloquea la radiación primaria de rayos X. Los interruptores de fin de carrera también garantizan que la cubierta del dispositivo esté cerrada y que un operador no pueda alcanzar el haz primario en ningún momento durante la medición.
¿Para qué sirve un filtro primario?
El filtro primario sirve para modificar la radiación primaria. En función del filtro, pueden modificarse las condiciones de excitación para las tareas de medición.
¿Qué es un colimador o un diafragma?
El colimador limita la sección transversal del haz primario en nuestros dispositivos de medición XRF, garantizando que se excite sobre la muestra un punto de medición de un tamaño definido. Si la geometría de la muestra requiere un punto de medición relativamente pequeño, nuestros dispositivos XRF ofrecen la posibilidad de elegir entre distintos colimadores. Para tamaños de punto de medición extremadamente pequeños debido a la geometría de la muestra, se utilizan las denominadas ópticas policapilares en lugar de colimadores fabricados mecánicamente. Esto permite concentrar una cantidad comparativamente grande de la radiación de excitación primaria en un punto de medición del orden de 10 - 20 µm, dependiendo de la óptica policapilar utilizada. Como resultado, el tiempo de medición se reduce considerablemente.
¿Qué es la óptica policapilar?
Las ópticas policapilares están formadas por miles de finos capilares de vidrio que aprovechan el efecto de la reflexión total externa para enfocar los rayos X en un punto que mide tan solo unas pocas µm. Las ópticas policapilares desarrolladas y fabricadas internamente permiten puntos de medición especialmente pequeños de 10 o 20 μm (FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ) o 60 μm (óptica policapilar de larga distancia en el FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD). El efecto de microenfoque de la óptica policapilar aumenta el haz de rayos X hasta 10.000 veces en comparación con la óptica de colimador. Nuestros dispositivos de medición con lentes policapilares son, por tanto, capaces de medir las estructuras más pequeñas con tiempos de medición cortos.
* Tamaño del punto: Anchura completa a la mitad del máximo (FWHM) para Mo-Kα
¿Qué detectores se instalan en los aparatos XRF de FISCHER?
- Tubo contador proporcional: Debido a su ángulo sólido de detección comparativamente grande, este detector es ideal para tareas de medición sencillas, como la medición del grosor de capas de componentes con geometrías complejas que requieren una gran distancia de medición, o para capas comparativamente finas con un punto de medición pequeño.
- Diodo PIN de silicio (PIN): En comparación con el contador proporcional, este detector de rango medio tiene una resolución de energía mucho mejor, por lo que se utiliza principalmente para medir sistemas multicapa con espesores de capa a veces muy finos o para el análisis de materiales.
- Detector de deriva de silicio (SDD): Los puntos fuertes de este moderno detector semiconductor residen en su superior resolución energética y su mayor ángulo sólido de detección en comparación con el diodo PIN. Esto lo hace ideal para el análisis de trazas o la medición de elementos ligeros y capas muy finas hasta el rango de los nm.
El detector absorbe la radiación (fluorescencia de rayos X) de la muestra, así como el espectro disperso que le llega, y lo mide de forma dispersiva en energía. Esto significa que, durante el tiempo de medición, asigna una energía específica a cada fotón incidente y, posteriormente, proporciona un espectro de fluorescencia en forma de intensidad frente a energía. Este espectro constituye la base para el posterior análisis del espesor de la capa y/o del material. En nuestros dispositivos XRF se instala uno de los tres tipos de detectores siguientes. Se diferencian por su modo de funcionamiento, así como por su campo de aplicación principal:
¿Qué ventajas ofrece el procesador digital de impulsos (DPP)?
Este componente de alta tecnología ha sido desarrollado por FISCHER. El procesador digital de impulsos (DPP) convierte las señales analógicas en señales digitales. La clave de la calidad de un DPP es su capacidad para procesar el mayor número posible de eventos en el menor tiempo posible sin pérdidas ni fusión de varios eventos en uno solo.
El DPP+ de FISCHER puede procesar hasta 500.000 impulsos por segundo, contribuyendo así significativamente a la optimización del tiempo de medición manteniendo los tiempos de medición más cortos posibles.

¿Cuál es la precisión de los resultados de las mediciones por FRX?
La precisión se refiere a la desviación estimada entre el resultado de la medición y el valor "verdadero" de la muestra.
Sin embargo, es importante distinguir entre el error aleatorio, que afecta a la precisión, y el error sistemático, que afecta a la exactitud. En la precisión influyen factores como la calidad del espectrómetro, la distancia de medición, el tiempo de medición, así como las influencias del operador y las condiciones ambientales. La exactitud, por su parte, se ve afectada principalmente por suposiciones incorrectas en la calibración, como incertidumbres en los patrones utilizados o una composición de la muestra asumida incorrectamente.
¿Qué factores influyen en la repetibilidad de las mediciones por FRX?
- Calidad del espectrómetro
- Distancia de medición
- Colimador / punto de medición
- Grosor de la capa
- Condiciones de excitación
- Tiempo de medición
La repetibilidad es la dispersión de los valores medidos obtenidos de una muestra cuando se mide con un dispositivo en condiciones idénticas. Una medición en condiciones ideales significa que la muestra permanece inalterada entre varias mediciones y no se mueve. Los factores que influyen son, entre otros
¿Qué factores influyen en la reproducibilidad de las mediciones por FRX?
- Posicionamiento (plano inclinado, piezas cilíndricas, sombreado)
- Enfoque de la muestra
- Influencia del operador
- Propiedades de la muestra
- Grosor del material de base
- Más fondo (por ejemplo, PCB debido a la radiación dispersa)
- Composición del material de base y del revestimiento
- Rugosidad
- Condiciones ambientales
La reproducibilidad es la dispersión de los valores medidos obtenidos de una muestra cuando se miden con un dispositivo en condiciones variables. Por condiciones variables se entiende la medición en múltiples posiciones y/o por diferentes personas y/o en diferentes condiciones ambientales. Los factores que influyen son, entre otros
¿Qué factores influyen en la precisión de las mediciones por FRX?
- Trazabilidad
- Incertidumbre del patrón
- Incertidumbre en la medición del patrón
- Errores en la corrección del material base
- Densidad y composición de la capa
- Diferencia entre la muestra y el patrón de calibración
¿Qué factores influyen en la precisión de las mediciones por FRX?
La precisión es el valor estimado de la desviación entre el resultado de la medición y el valor correcto (desconocido). Entre los factores que influyen se incluyen:
FAQ XRF - Software y funcionamiento
¿Dónde puedo descargar la última versión de software para mi instrumento XRF?
Siempre se suministra con nuestros dispositivos XRF. Si tiene más preguntas, póngase en contacto con su representante.
¿Qué significa la máscara "Exportación de datos"?
La definición de la máscara de exportación permite determinar qué parámetros deben exportarse.
Vaya a "Evaluación ► Exportación ► Ajustes de exportación" en el menú del software WinFTM® y defina qué datos deben exportarse y en qué formato.
Puede especificar si sus archivos deben exportarse en línea, escribirse en una hoja Excel o reenviarse a través de la salida S232 o TCP-IP. También puede (pre)definir una o varias máscaras de exportación y elegir entre opciones adicionales.¿Qué se mide cuando el aparato XRF pide "Scatt"?
En el software WinFTM®, "Scatt" hace referencia a una muestra de dispersión compuesta por copolímero de acrilonitrilo butadieno estireno (abreviado ABS). Esta muestra y el espectro de dispersión correspondiente vienen calibrados de fábrica.
Sin embargo, si se encuentra en una situación en la que necesita volver a medir el espectro de dispersión, puede cargarlo en el software a través de la opción de menú "General à Cargar y evaluar".
¿Por qué no puedo crear nuevas tareas de medición?
La creación de nuevas tareas de medición requiere una licencia de software específica, conocida como "supersoftware". Si no ha adquirido esta licencia, puede adquirirla por separado o pedir a nuestros experimentados compañeros del departamento de aplicaciones que realicen esta tarea por usted.
El aparato XRF imprime todos los valores medidos sin que se le solicite.
Probablemente se ha activado la opción Archivo "Imprimir valores individuales" en el menú del software WinFTM® . En este caso, cada valor individual se envía a la memoria intermedia de la impresora y, cuando una página está llena, se imprime automáticamente. Desactive "Imprimir valores individuales" y borre la memoria intermedia de la impresora.
Los valores de medición se han borrado accidentalmente. ¿Puedo restaurarlos?
Si se han borrado valores individuales dentro de un bloque, aparece un guión en la lista de valores medidos. Vaya a "Evaluación ► Restaurar valor medido" en el menú del software WinFTM® para que los valores medidos individuales de un bloque vuelvan a ser visibles. Sin embargo, si se han borrado bloques o artículos enteros, los datos no se pueden recuperar.
¿Qué características del software hacen que la medición con dispositivos FISCHER sea única?
Nuestro software WinFTM® es el más potente del mercado para la medición del espesor de revestimientos y el análisis de materiales mediante el análisis de fluorescencia de rayos X. Evalúa y gestiona eficazmente los datos de medición y permite realizar mediciones precisas y sin estándares.
FAQ XRF - Aplicación
¿Para qué industrias es adecuado el FRX?
- Electrónica y semiconductores
- Galvanoplastia
- Automoción
- Oro, análisis de metales preciosos y joyería
- Pinturas y barnices
- Tecnología de fijación
- Hierro y acero
- Hogar y grifería
- Aeroespacial
- Construcción e infraestructuras
- Y mucho más
El análisis XRF se utiliza en una amplia variedad de sectores industriales. Independientemente de la industria en la que se encuentre, conocemos sus requisitos y retos, por lo que encontraremos la solución de medición a medida más adecuada para su aplicación. Industrias en las que confiamos, entre otras
Más información sobre nuestros sectores.
¿Qué ventajas ofrece el FRX sobre otros métodos de medición?
- No destructivo: la muestra no es dañada por la fluorescencia de rayos X, por lo que es ideal para inspecciones de entrada y salida o durante el proceso de fabricación.
- Mínima preparación de la muestra: en la mayoría de los casos, no se requiere preparación de la muestra para la medición mediante análisis de fluorescencia de rayos X.
- Tiempos de medición cortos: la mayoría de las aplicaciones se pueden medir en pocos segundos.
- Análisis multielemento: varios elementos y espesores de capa pueden determinarse simultáneamente en una sola medición.
- Amplia gama de aplicaciones: El análisis de fluorescencia de rayos X puede medir concentraciones de elementos en el rango por mil o niveles de pureza de hasta el 100 %, así como espesores de capa que van desde unos pocos nm hasta varios 10 µm.
¿Por qué debería elegir un instrumento XRF de FISCHER?
- FISCHER = líder del mercado en el campo de la medición del espesor de recubrimientos
- Amplia cartera de productos XRF, desde dispositivos portátiles y sistemas de sobremesa hasta sistemas de gama alta totalmente integrados
- Fabricado en Alemania, máxima calidad de fabricación
- Precisión de medición y fiabilidad sin precedentes
- Numerosas configuraciones individuales que se adaptan a sus necesidades Diferentes detectores, tubos de rayos X y ópticas (colimadores y ópticas policapilares), dirección de medición, configuraciones de mesa y mucho más
- Análisis de hasta 24 elementos simultáneamente
- Estándares certificados y personalizados
- Potente software para la medición del espesor de recubrimientos y el análisis de materiales (WinFTM®, FISIQ® X)
- Servicio de atención al cliente y consultoría de aplicaciones de primera clase con décadas de experiencia
Hay muchas razones, compruébelo usted mismo:
¿Dónde puedo encontrar información relevante sobre mi aparato XRF de FISCHER?
Cuando compre su aparato de medición FISCHER, recibirá toda la información adicional cómodamente a través de un código QR.
FAQ Táctil
¿Qué factores influyen en la precisión de medición de los medidores de espesor de revestimiento Fischer?
La precisión de medición de los medidores de espesor de revestimiento depende de factores como el espesor del revestimiento, el estado de la superficie, la sonda utilizada, etc. Encontrará información sobre la precisión y la repetibilidad en condiciones ideales en las fichas técnicas de las sondas.
Método de corrientes de Foucault sensibles a la fase: ¿Qué combinaciones de capa y material base puedo medir?
Existen varias opciones de medición: Por ejemplo, puedo utilizar el método de corrientes de Foucault sensibles a la fase para medir metal no magnetizable sobre metal magnetizable. Por ejemplo, zinc sobre hierro. Pero también sería concebible un metal no magnetizable sobre plástico no conductor de la electricidad, como cobre sobre Iso. Otro ejemplo de medición es el níquel sobre cobre (metal magnetizable sobre metal no magnetizable).
Método de corrientes de Foucault sensibles a la amplitud: ¿Qué combinaciones de capa y material base puedo medir?
El método de corrientes de Foucault sensibles a la amplitud se utiliza para medir revestimientos eléctricamente no conductores sobre materiales de base eléctricamente conductores y no magnetizables, como el anodizado o la pintura sobre aluminio, la pintura sobre cobre o la cerámica sobre titanio.
Método de inducción magnética: ¿Qué combinaciones de capa y material base puedo medir?
Con el método de inducción magnética, se miden los revestimientos no magnéticos sobre materiales base fáciles de magnetizar, como el zinc sobre hierro o la pintura sobre hierro.
¿Qué debo tener en cuenta al medir capas de níquel con sondas de corrientes de Foucault sensibles a la fase, así como con sondas magnéticas inductivas?
En cada caso, debe calibrarse con piezas niqueladas reales y su espesor de recubrimiento conocido. El magnetismo de los recubrimientos de níquel puede variar mucho, por lo que puede ser muy diferente en las piezas que se van a medir que en las piezas de calibración. Esto puede dar lugar a errores de medición, lo que puede suponer un problema, especialmente en la inspección de entrada de mercancías.
El aparato de medición o el programa Fischer muestran un mensaje de error desconocido. ¿Cómo debo proceder?
En primer lugar, consulte el manual de instrucciones para comprobar si en él se describe el error y su corrección. Si no es así, envíenos el número de serie, la designación exacta del aparato de medición, la sonda de medición, el número de versión del programa Fischer, el número de error (código de error), el texto exacto del mensaje de error y las circunstancias que provocaron el error. Aquí encontrará las personas de contacto.
¿Qué método utiliza el SIGMASCOPE® para medir la conductividad eléctrica específica?
Con el método de corrientes parásitas sensibles a la fase (véase el proyecto de norma DIN 50994 y la norma DIN EN 2004-1).
¿Qué significa la unidad de medida MS/m para SIGMASCOPE®?
MS/m significa Mega-Siemens por m, lo que corresponde a 1.000.000 Siemens/m. Esta unidad es la recíproca (inversa) de la unidad de medida de la resistividad eléctrica específica Ohm x mm²/m. Por tanto, 1 Siemens corresponde a 1/Ohm.
¿Qué significa la unidad de medida %IACS para SIGMASCOPE®?
IACS significa "International Annealed Copper Standard" (norma internacional del cobre recocido). Esta unidad de medida se utiliza a menudo en los países angloamericanos. Se aplica lo siguiente: La conductividad eléctrica específica del 100 %IACS corresponde a 58 MS/m. Con esta relación, cualquier valor de conductividad eléctrica puede convertirse de una unidad de medida a otra.
¿Por qué tengo que prestar atención a la temperatura de los objetos a medir cuando mido la conductividad eléctrica con el SIGMASCOPE®?
- O bien el instrumento debe estar calibrado a la misma temperatura que la presente durante la medición.
- O bien la temperatura del objeto a medir debe registrarse con un sensor de temperatura (interno/externo) durante la medición y la calibración.
La conductividad eléctrica específica depende directamente de la temperatura. Cuanto mayor es la temperatura, menor es la conductividad. Para garantizar que los valores medidos sean comparables, la conductividad se especifica siempre con referencia a 20°C. Por esta razón, los patrones de conductividad de Fischer también dan valores para 20°C.
Para que el SIGMASCOPE® pueda convertir un valor medido de la conductividad físicamente real a 20°C, deben cumplirse las siguientes condiciones:
Si no se cumplen estas condiciones, pueden producirse errores de medición sistemáticos.
¿Qué sondas pueden utilizarse para medir los espesores de revestimiento de los sistemas de revestimiento dúplex "pintura sobre zinc en caliente sobre acero" en la protección contra la corrosión pesada?
Con las sondas de medición dúplex FDX10 y FDX13H. Estas sondas requieren un espesor mínimo de revestimiento de zinc por inmersión en caliente de 70 µm para poder medir correctamente.
¿Qué sondas pueden utilizarse para medir los espesores de revestimiento del sistema de revestimiento dúplex "pintura sobre acero débilmente galvanizado"?
Para capas finas de zinc, se utilizan las sondas ESG2 y ESG20. Estas sondas sólo pueden aplicarse si no hay capa de difusión entre el zinc y el acero. Este suele ser el caso de la galvanoplastia y los revestimientos de zinc por inmersión en caliente muy finos (como en la ingeniería de automoción). Los revestimientos de zinc por inmersión en caliente en la protección contra la corrosión intensa, que a menudo tienen más de 70 µm de espesor, suelen formar una capa de difusión clara entre el acero y el zinc. En estos casos, no se pueden utilizar las sondas ESG2 y ESG20.
¿Qué combinaciones de capa y material base pueden medirse con el método culombimétrico?
Capas metálicas conductoras de la electricidad sobre metales, plásticos o cerámica. Más información
¿Cuáles son los requisitos para la medición culombimétrica?
Deben cumplirse los siguientes requisitos: una superficie de revestimiento limpia y un buen contacto de la pinza del soporte con el objeto que se va a medir. Además, debe seleccionarse una velocidad de desprendimiento correspondiente al grosor del revestimiento. Además, debe utilizarse el electrolito adecuado. Más información
¿Qué factores intervienen en la precisión del método de medición culombimétrico?
Los factores son: el grosor del revestimiento, el estado de la superficie, la junta de la célula de medición utilizada, la velocidad de desprendimiento y la pureza del revestimiento.
¿Qué tengo que hacer para transferir datos a mi ordenador?
Conecte el cable de transferencia al ordenador y al aparato de medición. Instale el software controlador adecuado en su ordenador. Seleccione la interfaz correcta a la que está conectado un instrumento en el programa de evaluación que esté utilizando. Para separar grupos de valores medidos, configure un separador de grupos en el dispositivo de medición.
¿Por qué no funciona mi transmisión de datos?
La razón podría ser: ¿Se ha cargado el controlador correcto con derechos de administrador? ¿Se ha seleccionado la interfaz correcta en el software del ordenador? (consulte además el Administrador de dispositivos)
¿Dónde puedo descargar la última versión de software para mi dispositivo táctil?
Para nuestros dispositivos táctiles, puede encontrar la última versión de nuestro software en la mediateca.
¿Dónde puedo encontrar información relevante sobre el producto para mi aparato táctil FISCHER?
Cuando compre su aparato de medición FISCHER, recibirá toda la información adicional cómodamente a través de un código QR.
FAQ Nanoindentación
Mis lecturas varían mucho. ¿A qué puede deberse?
El punto cero no siempre puede determinarse de forma fiable en superficies rugosas. Por ello, si es posible, debe pulirse la superficie. Las corrientes de aire y las vibraciones externas también pueden provocar grandes fluctuaciones en los valores medidos o incluso mediciones incorrectas. Por este motivo, los instrumentos deben instalarse en un lugar protegido. Al medir con fuerzas muy bajas, las cajas de medición cerradas y las mesas amortiguadoras ayudan a evitar las influencias externas.
Mis valores medidos son erróneos. ¿A qué puede deberse?
Posiblemente el indentador esté sucio o desgastado. La WIN-HCU® proporciona un procedimiento de limpieza que debe realizarse con regularidad. Compruebe también si ha seleccionado el régimen fuerza-tiempo correcto para su aplicación. Diferentes parámetros de ensayo pueden provocar desviaciones.
Si estas medidas no ayudan, también se puede realizar una corrección de forma si el penetrador está desgastado. La corrección de forma sólo debe ser realizada por expertos de Fischer.
Tras la medición, no se aprecia ninguna huella de Indentor en la superficie. ¿Por qué?
Es posible que se haya ajustado un objetivo incorrecto en el microscopio. Pruebe con otro objetivo y asegúrese de haber seleccionado el objetivo correcto en el software WIN-HCU® para instrumentos sin reconocimiento automático de objetivos.
Si la impresión sigue sin ser visible, es posible que haya seleccionado una fuerza de inspección demasiado baja. En tales casos, la impresión puede verse con un microscopio de fuerza atómica (AFM), por ejemplo. Otra razón podría ser un desplazamiento demasiado grande entre la posición del microscopio y la posición de medición real. Encontrará los ajustes de offset configurados en Tabla de medición ► Ajustes del microscopio.
Cuando se miden revestimientos en secciones transversales, se recomienda utilizar un portamuestras de microsección adecuado de Fischer. Si se realizan mediciones en secciones transversales sin un soporte adecuado, se producirá un desplazamiento sistemático de la posición de medición a la posición del microscopio para cada medición debido al proceso de montaje.
¿Por qué no obtengo valores medidos para la dureza de indentación y el módulo de indentación?
Probablemente no se registró la curva de descarga. Compruebe la configuración. Además, las muestras muy blandas pueden seguir deformándose bajo carga (fluencia), por lo que la dureza de indentación no puede determinarse en todos los casos. Utilice el ajuste de fluencia para determinar la fluencia de indentación(CIT). Utilice Editar ► Ajustes de aplicación ► Parámetros ► Recta, para determinar el módulo de indentación EIT y la dureza de indentación HIT según ISO 14577.
Las curvas de carga y descarga están "deformadas" y "fuertemente curvadas", respectivamente. ¿A qué puede deberse?
La muestra ha cedido bajo la carga durante la medición. Compruebe si la probeta está bien fijada. En función de la geometría del componente, utilice nuestros accesorios adecuados: las mordazas universales HM o el dispositivo de sujeción de láminas HM de Fischer.
La curva de carga tiene un pliegue. ¿A qué puede deberse?
La carga de ensayo seleccionada es demasiado elevada para el grosor del revestimiento. Por tanto, el material del sustrato influye en la medición.
¿Por qué no puedo activar el "Modo de medición dinámica"?
El modo de medición dinámico sólo puede activarse como administrador. Si la activación no es posible a pesar de tener derechos de administrador, suele deberse a un software de seguridad específico del cliente que lo impide. Una posibilidad en este caso es utilizar un ordenador con menores precauciones de seguridad relacionadas con el software.
¿Por qué la opción de menú "Corrección de forma" aparece en gris y no se puede seleccionar?
La corrección de forma requiere derechos de administrador. Para ello, inicie sesión en WIN-HCU®. La corrección de forma sólo debe ser realizada por expertos de Fischer o personal cualificado. La medición se ha interrumpido y no se puede iniciar una nueva medición. Además, la posición del penetrador se encuentra en un valor superior a 400 µm.
Por qué aparece un mensaje de error al hacer clic en "Evaluación" ► "Exportación personalizada"?
Primero debe definir la exportación definida por el usuario en Configuración ► Opciones ► Exportación definida por el usuario, antes de poder ejecutar la exportación.
¿Dónde puedo encontrar el número de serie y otra información importante sobre mi aparato de medición?
Seleccione ► Información sobre WIN-HCU. Aquí encontrará, por ejemplo, el número de serie del dispositivo de medición y la versión de WIN-HCU®.
FAQ Métodos de medición
Método XRF / análisis por fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (XRF)
El análisis por fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (XRF) es un método de medición no destructivo que puede utilizarse para determinar composiciones elementales y espesores de capas. Cuando se excita un material con rayos X, los átomos emiten una señal de fluorescencia característica. El espectro de la radiación emitida permite extraer conclusiones sobre la naturaleza de la muestra. El espectro de fluorescencia puede utilizarse para determinar la distribución cuantitativa y cualitativa de los elementos y los correspondientes grosores de capa de una muestra.
Método de medición magnética
El método magnético utiliza el efecto Hall para determinar el grosor de las capas de revestimientos magnéticos sobre materiales no magnéticos (y viceversa) midiendo el cambio de tensión Hall.
Método de las corrientes de Foucault sensibles a la amplitud
El método de las corrientes de Foucault sensibles a la amplitud mide el espesor de la capa en metales no ferrosos eléctricamente conductores pero no magnéticos detectando la atenuación de un campo magnético alterno generado por una bobina debido a las corrientes de Foucault inducidas en el metal.
Método de corrientes de Foucault sensibles a las fases
El método de corrientes de Foucault sensibles a la fase mide el grosor de los revestimientos conductores de la electricidad sobre diversos sustratos detectando el ángulo de fase del cambio de impedancia generado por las corrientes de Foucault y utilizándolo para calcular el grosor del revestimiento.
Recubrimientos dúplex
Para medir revestimientos dúplex, por ejemplo en ingeniería de automoción, se combinan los métodos magnético-inductivo y de corrientes de Foucault sensibles a la fase para medir con precisión las capas de zinc y pintura independientemente de su grosor.
Método magnético-inductivo
El método de medición magnético-inductivo utiliza las propiedades magnéticas del material base para la medición no destructiva del espesor del revestimiento mediante la detección de la amplificación de un campo magnético alterno.
Contenido de ferrita
El método magnético-inductivo se utiliza para determinar de forma no destructiva el contenido de ferrita en el acero midiendo la amplificación de un campo magnético de baja frecuencia por los granos de ferrita.
Conductividad eléctrica
El método de la conductividad mide de forma no destructiva la conductividad eléctrica de los metales mediante sondas de corrientes de Foucault sensibles a las fases para determinar las propiedades de los materiales, como la composición y la microestructura.
Método de microrresistencia
El método de microrresistencia mide con precisión el grosor de las capas conductoras de electricidad sobre sustratos aislantes haciendo pasar corriente a través de la capa con una sonda y registrando la caída de tensión entre dos agujas de medición, que depende del grosor de la capa.
Método de retrodispersión beta
El método de retrodispersión beta permite medir de forma no destructiva el grosor de capas orgánicas e inorgánicas en una amplia variedad de sustratos utilizando la radiación de átomos radiactivos.
Método de medición de terahercios
El método de medición de terahercios utiliza ondas de terahercios de impulsos cortos que penetran en sistemas multicapa sin contacto para medir los tiempos de tránsito de las señales reflejadas y determinar así con precisión el grosor de las capas y otras propiedades de los materiales.
Método de medición coulométrica
El método de medición culombimétrica disuelve las capas metálicas y calcula el espesor a lo largo del tiempo necesario basándose en la ley de Faraday. Es adecuado para muchas capas metálicas sobre cualquier material base y es una alternativa rentable a la fluorescencia de rayos X, especialmente para sistemas multicapa
FAQ Calibración Táctil
¿Qué valores característicos estadísticos deben utilizarse como mínimo al utilizar valores medidos?
Para la comparación de los valores medidos, deben utilizarse al menos los siguientes valores característicos: Media aritmética, desviación típica y número de valores medidos individuales. Sin la desviación típica y el número de valores medidos correspondientes, los valores medios no pueden compararse entre sí de forma significativa y seria.
¿Por qué tengo que calibrar mi aparato de medición?
Según la norma DIN EN ISO 9001, los equipos de medición deben calibrarse si se requiere trazabilidad. Todos los métodos de medición física se ven influidos por las propiedades del revestimiento y del material base. Algunos ejemplos de estas propiedades son: la geometría de la pieza, la conductividad eléctrica, el magnetismo, la densidad del revestimiento o incluso la superficie de medición. Por lo tanto, cada vez que cambien las propiedades de la capa o del material base, lo más probable es que sea necesario recalibrar el equipo de medición.
Calibro mi dispositivo de medición magnética inductiva o de corrientes de Foucault en una chapa plana y ahora quiero medir en una pieza torneada con un diámetro pequeño, por ejemplo. ¿Es posible hacerlo sin otra calibración ajustada?
No. La calibración en la lámina plana crea un error de medición sistemático en la superficie curva. Como resultado, los valores medidos serán demasiado altos. Esto se debe a que el dispositivo de medición evalúa las señales procedentes del objeto curvo como si procedieran de una pieza plana. Por lo tanto, es necesario realizar calibraciones periódicas cuando cambia la forma o la geometría de las piezas o de la superficie de medición.
Dos personas llegan a resultados de medición diferentes. ¿A qué puede deberse y qué se puede hacer al respecto?
Las posibles causas pueden ser que se utilicen dos aparatos de medición con calibraciones diferentes (curvas características) o que las mediciones se hayan realizado con el mismo aparato de medición pero en superficies de medición diferentes. La corrección de los valores medidos obtenidos con los dispositivos de medición se garantiza siempre mediante patrones de calibración. En el caso de los dispositivos de medición de inducción magnética y de corrientes de Foucault, la calibración debe realizarse en la superficie de medición de los objetos reales no recubiertos que se van a medir, en los que también debe medirse el espesor de recubrimiento de las piezas recubiertas. Además, debe garantizarse que las mediciones se realicen en el mismo punto o sobre la misma superficie de medición y que se registre un número suficiente de valores medidos para obtener un valor medio significativo, así como una desviación estándar significativa. Sólo así se pueden obtener resultados de medición comparables.
¿Cómo se comprueba la calibración de los medidores táctiles de espesor de revestimiento?
Se mide una lámina de calibración en la pieza de trabajo no recubierta con varios valores medidos (normalmente de 5 a 10) y esto en el punto donde se realizarán las mediciones posteriormente. Las láminas de calibración de base Fischer no son útiles para esta calibración. A continuación, el usuario debe decidir qué desviaciones del valor nominal de la película y del valor medio medido va a permitir, de modo que el dispositivo de medición siga considerándose suficientemente bien calibrado. La evaluación de la calibración de un dispositivo de medición en el contexto de la estadística y con respecto a la incertidumbre del espesor de película medido se proporciona, por ejemplo, en las normas DIN EN ISO 2178: 2016 "Recubrimientos no magnéticos sobre metales base magnéticos - Medición del espesor de película - Método magnético" (capítulo 8) y DIN EN ISO 2360:2017 "Recubrimientos no conductores sobre materiales base metálicos no magnéticos - Medición del espesor de película - Método de corrientes de Foucault" (capítulo 8).
¿Qué hay que tener en cuenta al calibrar las sondas dúplex FDX10 y FDX13H?
Estas sondas dúplex tienen dos canales de medición. El canal magnético inductivo mide el espesor total del revestimiento de pintura y zinc. El canal de corrientes de Foucault sensibles a la amplitud mide el espesor de la capa de pintura sobre el zinc. Para la calibración, se requiere una pieza de acero completamente sin recubrimiento correspondiente a la pieza original y una pieza galvanizada con al menos 70 µm de zinc. El canal inductivo magnético de las sondas se calibra en la pieza de acero sin recubrimiento. Las láminas de calibración utilizadas deben enmarcar el intervalo de espesores de recubrimiento total previsto (pintura y zinc). La parte galvanizada se utiliza para calibrar el canal de corrientes de Foucault sensible a la amplitud. Las láminas de calibración utilizadas deben enmarcar el rango esperado de espesor de la capa de pintura.
¿Qué hay que tener en cuenta al calibrar las sondas dúplex ESG2 y ESG20?
Estas sondas dúplex tienen dos canales de medición. El canal magnético inductivo mide el espesor total del revestimiento de pintura y zinc. El canal de corrientes de Foucault sensible a la fase mide el espesor del revestimiento de zinc bajo la pintura. Para la calibración, se requiere una pieza de acero completamente sin recubrimiento correspondiente a la pieza original y una pieza galvanizada con un recubrimiento de zinc típico. El canal inductivo magnético de las sondas se calibra en la pieza de acero sin recubrimiento. Las láminas de calibración utilizadas deben enmarcar la gama de espesores de recubrimiento total esperada (pintura y zinc). En la pieza galvanizada, se calibra el canal de corrientes parásitas sensibles a la fase de las sondas. Aquí no deben utilizarse láminas de calibración, ya que la propia capa de zinc es la capa de calibración. Sólo es necesario medir en la parte galvanizada durante este paso de la calibración. No es necesario medir el espesor de la capa de zinc como espesor de la capa de referencia antes de la calibración. El valor de referencia de calibración de la capa de zinc lo proporciona el canal inductivo magnético calibrado en el primer paso.
¿Influye la densidad del revestimiento en el calibrado?
Sí, es cierto. Por ejemplo, si el dispositivo de medición se calibró con una pieza cuyo revestimiento tiene una densidad de 2 g/cm³, y ahora se van a realizar mediciones en una pieza con una densidad de 1 g/cm³, por ejemplo, se producirán errores sistemáticos de medición. Los valores medidos serán entonces demasiado bajos. Esto se debe a que el dispositivo de medición evalúa las señales del nuevo objeto como si su capa también tuviera una densidad de 2 g/cm³.
FAQ Calibración de dispositivos XRF
¿Qué se entiende por normalización en un aparato FISCHER XRF?
En la tecnología de medición, la normalización se refiere al ajuste de la tarea de medición a la configuración actual o a nuevos materiales base. Esto debe llevarse a cabo cuando se cambia el filtro primario, la corriente del ánodo, el colimador o cuando se utiliza una nueva aleación de materiales base. Garantiza unos resultados de medición coherentes y precisos.
Mi aparato FISCHER XRF me da valores inverosímiles. Cómo puedo estar seguro de que mis mediciones siguen siendo correctas?
La monitorización del equipo de medición le permite comprobar si su dispositivo XRF funciona correctamente y evaluar si los resultados de la medición reflejan realmente la muestra o si el responsable es un defecto del dispositivo. En la supervisión del equipo de medición, una muestra de referencia específica (estándar FISCHER o pieza de referencia del cliente) se mide a intervalos regulares en las mismas condiciones. Si la medición se encuentra dentro de los límites de tolerancia e intervención fijados previamente en función de la aplicación, se puede suponer que el aparato XRF funciona correctamente.
¿Qué es una medición de referencia en un aparato XRF de FISCHER?
La medición de referencia se utiliza para calibrar el eje de energía. El operador puede realizarla de forma rápida y sencilla. La medición de referencia es especialmente valiosa para los dispositivos XRF con contadores proporcionales, para los que se recomiendan mediciones de referencia a intervalos regulares. Corrige las influencias de la temperatura en los aparatos XRF con contadores proporcionales.
¿Cómo se comprueba la calibración de un aparato de FRX?
Los patrones de calibración pueden medirse en el software WinFTM® en la opción de menú "Elementos ► Patrones de calibración". De este modo se garantiza que la calibración anterior es correcta, que el aparato sigue en perfecto estado o que es necesario recalibrarlo.
¿Con qué frecuencia deben recertificarse los patrones de calibración de rayos X?
Los intervalos de recertificación dependen del uso y pueden ser determinados por el usuario. Los intervalos de aproximadamente 1 a 3 años son habituales para garantizar una alta precisión de las mediciones.
¿Pueden apilarse las láminas de calibración de rayos X durante el proceso de calibración?
En principio, las láminas de calibración Fischer pueden apilarse. Como regla general, se pueden utilizar de 2 a 3 láminas para dispositivos contadores proporcionales y 1 lámina para dispositivos de medición con PIN o detectores de deriva de silicio.
¿Debe recertificarse la placa de elementos puros para los aparatos de FRX?
No, no es necesario. La placa de elementos puros contiene elementos puros para el espesor de saturación XRF, que permanecen estables si se utilizan con cuidado y pueden utilizarse durante periodos de tiempo muy largos.
Lo único que hay que evitar son los daños mecánicos y la contaminación.¿Qué debe hacerse si el dispositivo XRF solicita el "conjunto de calibración del material base" y el "objeto de medición del material base" durante la nominación o la calibración?
El software WinFTM® permite medir sistemas de muestras que son similares en cuanto a la composición del material base, pero que presentan diferencias significativas. Esto ocurre a menudo con las aleaciones de cobre, por ejemplo. En tales casos, el proceso de normalización o calibración solicitará el conjunto de calibración del material base y el material base del objeto que se está midiendo. El primero se refiere al material base cuya composición se conoce y se utiliza para la calibración posterior, mientras que el segundo se refiere al material base de la pieza del cliente que se está midiendo. Hay que tener cuidado para evitar confusiones en este punto, ya que de lo contrario se calibrará un error sistemático.
¿Cuál es la diferencia entre un certificado de fábrica y un certificado ISO 17025 para patrones de calibración?
Los patrones de calibración con certificación ISO 17025 se miden según un procedimiento especificado por los organismos de acreditación y tienen una incertidumbre menor que los patrones de calibración con certificado de fábrica.
Normas FAQ
¿Qué son las normas de calibración y por qué son importantes?
Los patrones de calibración son materiales con una composición conocida y verificada que se utilizan para ajustar y comprobar los dispositivos XRF. Garantizan que los resultados de las mediciones sean precisos y reproducibles.
¿Cómo puedo seleccionar el patrón de calibración adecuado para mi medición?
El patrón de calibración debe ser lo más similar posible al material que se va a medir y a la composición del revestimiento. Esto garantiza que la calibración proporcione resultados realistas y precisos.
¿Qué tipos de patrones de calibración ofrece FISCHER?
FISCHER ofrece una amplia gama de más de 500 normas certificadas. Entre ellas se incluyen
- Estándares sólidos para capas simples y múltiples, capas de aleación, elementos puros y aleaciones
- Estándares de película para capas individuales y múltiples y capas de aleación, o conjuntos prefabricados para industrias y aplicaciones específicas.
¿Cuáles son las principales ventajas de los patrones de calibración FISCHER?
- Trazabilidad mundialmente reconocida
- Más de 500 normas certificadas
- Máxima precisión gracias a la certificación DAkkS, Enlace: www.helmut-fischer.com/why-fischer/dakks-calibration-laboratory
- Laboratorios de calibración propios acreditados en todo el mundo
- Posibilidad de normas individuales para clientes
- Amplio asesoramiento de expertos
¿Puedo seguir utilizando mi estándar si está arrugado, roto o dañado?
No, si su patrón está arrugado, rasgado o dañado de cualquier otro modo, no debe utilizarse. Manipule sus láminas de calibración con sumo cuidado, ya que sus finas capas las hacen especialmente susceptibles de desgarrarse o deformarse. Si observa algún daño, le recomendamos que nos envíe el patrón para su inspección. Póngase en contacto con nosotros directamente.




Cu foil, torned
not okLámina de Au, arrugada
no okLámina de Nb, rasgada
no okPapel de aluminio
ok¿Qué parte de la norma está certificada para la medición?
Para los patrones de rayos X, se especifica en el certificado un área central de 2 x 2 mm. Si se certifica un área de medición diferente, se indicará explícitamente en el certificado. En el caso de las láminas táctiles, el área de medición certificada se marca con un círculo directamente sobre la lámina.

El área de medición certificada está marcada en rojo. ¿Con qué frecuencia debo enviar mi norma para su mantenimiento o inspección?
En Fischer no especificamos un intervalo de mantenimiento concreto. La necesidad de enviar sus patrones para su recalibración puede verse influida significativamente por las condiciones de uso, los factores ambientales y de almacenamiento, así como por la dependencia de su empresa de patrones específicos y/o los requisitos internos del equipo de inspección. Por lo tanto, usted o su equipo de supervisión de equipos de inspección son los más indicados para evaluar y determinar el intervalo adecuado para enviar sus patrones. Un valor típico sería aproximadamente cada 1-3 años.
¿Necesita asesoramiento individual? No dude en ponerse en contacto con nosotros.
¿Tiene el certificado fecha de caducidad?
No, el certificado no tiene una fecha de caducidad fija. La necesidad de enviar sus patrones para su recalibración puede verse influida significativamente por las condiciones de uso, los factores ambientales y de almacenamiento, así como por la dependencia de su empresa de patrones específicos y/o los requisitos internos de los equipos de inspección. Por lo tanto, usted o su equipo de supervisión de equipos de inspección son los más indicados para evaluar y determinar cuándo es necesaria la recalibración.
¿Necesita asesoramiento individual? No dude en ponerse en contacto con nosotros.
Tengo necesidades que no están cubiertas por el catálogo de estándares de calibración de Fischer. ¿Ofrecen también soluciones personalizadas?
Sí, ofrecemos soluciones especiales personalizadas. Por un lado, podemos combinar espesores de capa de nuestro catálogo para adaptarlos a sus requisitos específicos, siempre que sea técnicamente factible. Por otro lado, si es técnicamente posible, podemos crear un estándar a partir de su propio material. No dude en hablar de sus necesidades con su representante personal de Fischer.
La superficie de mi patrón está descolorida. ¿Puedo/debo limpiar mi patrón?
Los patrones nunca deben limpiarse mecánica o químicamente. Si lo hace, puede causar daños, inhomogeneidades y/o una reducción del grosor de la capa, lo que puede alterar sus resultados de calibración.
Decoloración de Al, Cu, Ag: En estos metales, la oxidación de la superficie metálica forma una capa de óxido que protege al metal subyacente de reacciones posteriores con el oxígeno (pasivación). Dependiendo del metal, esto puede causar una decoloración típica que, sin embargo, no afecta negativamente a los resultados de la medición.
Importante: ¡No limpie los patrones! La eliminación de la capa de óxido por abrasión puede dar lugar a resultados de calibración distorsionados.
Decoloración de Fe, Zn, Zn/Fe: En caso de oxidación del hierro (óxido) u oxidación del zinc (óxido blanco), la corrosión tiene un efecto destructivo sobre el patrón. Si se produce corrosión, estos patrones deben enviarse para su sustitución. Dado que un entorno corrosivo acelera el proceso de corrosión, preste siempre especial atención a la correcta manipulación y almacenamiento de sus patrones (véase también la siguiente pregunta).
Caso excepcional de los patrones COULOSCOPE®: Nuestros patrones COULOSCOPE® son una excepción en lo que a limpieza se refiere. Se suministran con un "borrador" que permite reactivar la capa de óxido de níquel.
¿Cómo debo guardar mis normas?
No almacene sus patrones en atmósferas de condensación o corrosivas. Una humedad excesiva puede dañar las capas.
¿Puedo quitar las etiquetas DAkkS de mi maleta estándar?
No, no retire las marcas DAkkS de las cajas. El certificado DAkkS solo es válido en combinación con las correspondientes marcas DAkkS de las cajas.
No encuentro mi certificado DAkkS. Dónde o cómo puedo conseguir uno nuevo?
Si lo desea, podemos reexpedir certificados DAkkS. Sin embargo, tenga en cuenta que esto implica un largo plazo de entrega y costes adicionales. Para ello, póngase en contacto directamente con su representante personal de Fischer, que estará encantado de hacerle una oferta personalizada.
¿El certificado DAkkS también está disponible en formato digital?
Todavía no, por desgracia, pero estamos trabajando en ello.
¿Dónde puedo encontrar las condiciones?
Aquí encontrará las condiciones.
¿Es posible medir patrones Fischer con mi dispositivo FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ?
Sí, pero esto depende de la óptica policapilar instalada en su aparato. Dependiendo de la óptica policapilar, puede medir puntos de medición en un rango de aprox. 10-50 µm. Con estos puntos de medición tan pequeños, puede visualizar inhomogeneidades localizadas, como "agujeros de alfiler", o diferencias de grosor en superficies con gran rugosidad. Por lo tanto, las mediciones de un solo punto de nuestros patrones de calibración pueden dar lugar (dependiendo del material) a una mayor dispersión de la medición o a la falsificación de los resultados de la calibración. Por lo tanto, para los patrones medidos con nuestros dispositivosFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ , debe utilizar siempre el modo de escaneo.
¿Dónde puedo encontrar la declaración de conformidad?
Dado que las normas son individuales y no están sujetas a normalización, no podemos emitir una declaración de conformidad. Además, también proporcionamos normas para mediciones RoHS y revestimientos especiales, algunos de los cuales requieren el uso de materiales que no cumplen la directiva RoHS.
El valor nominal en la norma entregada difiere del valor indicado en la oferta. ¿A qué se debe?
Nuestras normas están sujetas a variaciones relacionadas con la fabricación de ±20 % del grosor del revestimiento especificado. Esto no constituye un defecto, sino que se encuentra dentro del margen de tolerancia permitido. Siempre le proporcionamos normas que se aproximan lo máximo posible al valor de presupuesto especificado.
¿Qué valor se aplica: el de la norma o el del certificado? ¿Por qué a veces estos valores son diferentes?
Todos los valores de medición están sujetos a un cierto grado de variación. Por lo tanto, los valores indicados en el certificado tras la recertificación pueden diferir del valor etiquetado, siempre que se mantengan dentro de la incertidumbre de medición especificada. En el caso de las láminas táctiles certificadas conforme a la norma DIN EN ISO/IEC 17025:2017, los valores impresos en la lámina también pueden diferir de los indicados en el certificado debido a factores relacionados con el sistema. El valor válido actual es siempre el que figura en el certificado.
¿Las normas táctiles también corren el riesgo de desgastarse?
Sí, los patrones táctiles suelen sufrir un desgaste natural debido a la medición táctil. En cuanto sean visibles daños como abolladuras o grietas dentro de la superficie de medición marcada, recomendamos sustituir el patrón.
¿Por qué no se recertifican las láminas táctiles?
Las láminas de los aparatos de medición táctiles están sujetas a desgaste por el uso y, por tanto, no pueden volver a certificarse.
Los valores medidos en la certificación por terceros de láminas de plástico para dispositivos de medición táctil son superiores a los valores que proporciona Helmut Fischer. ¿A qué se debe esto?
La desviación en el grosor de la lámina se debe probablemente a la configuración de la medición. Suponemos que las láminas se midieron con un sello plano. Con este método, prácticamente no se produce ninguna impresión en la lámina al medir su grosor. Por tanto, se mide el grosor real de la lámina. El grosor de la lámina medido con este método suele ser ligeramente superior al especificado por Fischer.
Las láminas de calibración medidas por nosotros se utilizan para calibrar nuestros dispositivos con las sondas de medición correspondientes.
Las sondas de medición de Fischer tienen una pequeña punta esférica que se coloca en la lámina de calibración o en la superficie que se va a medir. Cuando la sonda se coloca sobre la lámina de plástico, esta punta esférica crea una pequeña marca de presión que depende, entre otras cosas, del grosor de la lámina de calibración. Esta hendidura se tiene en cuenta al medir nuestras láminas de calibración. Por consiguiente, el valor nominal de las láminas de calibración fabricadas por Helmut Fischer siempre será ligeramente inferior al grosor real de la lámina de calibración. Si no se tuviera en cuenta esta marca de presión en las láminas de calibración, en realidad se medirían grosores de capa incorrectos en las piezas reales después de calibrar nuestros aparatos de medición con estas láminas.