FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
de rendimiento gracias a DPP+
por sus partes inamovibles
o en el aire
¹ Mejora significativa de la desviación estándar y, por tanto, de la capacidad de calibración o reducción significativa del tiempo de medición en comparación con DPP.
² Sólo FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.
Control de calidad continuo e inteligente.
Diseñada para ofrecer el máximo tiempo de funcionamiento, la serie FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 convence, entre otras cosas, por su alto grado de personalización y su extraordinario rendimiento de medición: sin contacto, no destructiva y precisa.
Los aparatos de esta serie forman unidades modulares, por lo que pueden instalarse fácilmente como componentes puros en una planta existente.
Hecho a la medida.
Fácil integración, adaptable individualmente a su aplicación.
No le cuesta ningún esfuerzo.
Temperaturas de muestra de hasta 250 °C (482 °F) gracias a la refrigeración por agua.
Procesador digital de impulsos DPP+.
Tiempos de medición más cortos o mejora de la desviación estándar*.
*en comparación con el DPP
Robusto y confiable.
Sin piezas móviles.
Diseño compacto.
Cabezal de medición con todos los componentes necesarios en una sola unidad.
Compatible con sistemas de vacío.
Puede montarse en cámaras de vacío
Diseño y fabricación robustos para un uso ininterrumpido las 24 horas del día, incluso en superficies calientes.
Versátil e ideal para recubrimientos finos gracias al potente detector de deriva de silicio y a la apertura configurable.
Medición en línea precisa y rápida durante el proceso de producción en marcha.
Bajo y fácil mantenimiento: el mantenimiento del cabezal de medición es posible sin romper el vacío.
Transmisión, evaluación y exportación de datos de medición en tiempo real con WinFTM®, el software de aplicación más potente del mercado.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de tungsteno; ánodo de molibdeno opcional
Apertura fija (configurable hasta Ø 11 mm)
Para medir en el vacío o en el aire
Opcionalmente con refrigeración por agua para temperaturas de muestra de hasta 250 °C
Detector de deriva de silicio de 50 mm² para la máxima precisión
Filtro fijo (configurable)
Refrigeración Peltier
Tasas de recuento más altas y tiempos de medición significativamente reducidos gracias a DPP+.
Cualquier posición de instalación posible
Control remoto y exportación de datos mediante interfaz TCP/IP
Ejemplos de aplicación
- Medición de capas finas y cargas bajas en productos y sustratos de gran superficie, como pilas de combustible, en paneles de vidrio y superficies muy calientes
- Control de la composición y el grosor de capas en sistemas fotovoltáicos como CIGS, CIS, CdTe y CdS
- Medición de capas finas de unos pocos µm en bandas metálicas, láminas metálicas y películas de plástico
- Supervisión de procesos de equipos de sputtering y galvanoplastia
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Notas de aplicación
Folletos
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