FISCHERSCOPE® XDV
Nuevo
posicionamiento más rápido
enfoque automático más rápido
mayor resolución de la cámara
¹ En comparación con FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
² En función de la superficie de la muestra.
La velocidad se une a la precisión.
El FISCHERSCOPE® XDV® es un dispositivo de medición de fluorescencia de rayos X de alta gama de Fischer y es ideal para mediciones automatizadas en estructuras diminutas. El dispositivo impresiona por su facilidad de uso, máxima velocidad y precisión.
La iluminación de estado unidireccional muestra el estado actual del dispositivo en un vistazo, mientras que la campana de medición motorizada puede abrirse y cerrarse de nuevo de forma totalmente automática, para un funcionamiento seguro y cómodo. El moderno software FISIQ® X XRF garantiza procesos eficientes y fluidos, así como un mayor rendimiento en su proceso de medición.
Eje Z de alta velocidad.
Para un posicionamiento rápido de sus muestras
Enfoque automático en menos de 2 segundos.
Rápido enfoque y alcance de su objeto de medición para procesos aún más eficientes
Cámara de visión general de alta resolución.
Mantenga una mejor visión general con imágenes más nítidas y detalladas
Iluminación LED multizona.
Iluminación perfecta en todo momento, independientemente de la superficie
Campana de medición automatizada.
Funcionamiento manual o automatizado para una máxima flexibilidad.
Geometría de medición optimizada.
Precisión de medición inigualable gracias a la mayor distancia entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector.
Iluminación de estado intuitiva.
Compruebe el estado del dispositivo en un vistazo
Ilumine cada detalle: Benefíciese de las luces LED multizona y de la cámara de visión general de alta resolución para una iluminación perfecta y el análisis más preciso.
Funcionamiento sencillo y manos libres: Flexibilidad sin igual gracias a una campana motorizada. Manualmente pulsando un botón o mediante automatización controlada por software. Hecho para procesos continups y sin interrupciones.
La distancia optimizada entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector permite una intensidad máxima y garantiza una precisión de medición excepcional, para obtener resultados especialmente confiables y de alta calidad.
La tira de luces LED muestra el estado del dispositivo en un vistazo. La luz azul indica el modo de espera, la verde indica un dispositivo listo para la medición y la naranja intermitente indica una medición en curso.
FISIQ® X: El moderno y primer software XRF con modo de espectro soportado por IA. Aumente su productividad con flujos de trabajo simplificados y eficientes.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio, otros ánodos disponibles bajo pedido
Campana de medición automatizada
Detector de deriva de silicio de 20 mm² o 50 mm² para la máxima precisión en capas finas
Aperturas cuádruples intercambiables y filtros séxtuples intercambiables
Dispositivo de protección total homologado
Software FISIQ® X con modo de espectro asistido por IA para procesos de medición más inteligentes
Distancia de medición sin escalonamientos con medición de arriba abajo
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Mesa de medición programable para mediciones automatizadas
Ejemplos de aplicación
- Análisis de recubrimientos muy finos, por ejemplo, recubrimientos de oro/paladio de ≤ 50 nm (0,002 mils).
- Mediciones de recubrimientos funcionales en las industrias electrónica y de semiconductores, por ejemplo, determinación del grosor de recubrimientos de capas de oro de hasta 2 nm (0,00008 mils) para marcos de plomo.
- Medición de recubrimientos ultrafinos en obleas de silicio
- Determinación de recubrimientos de elementos ligeros en obleas (Al, Ti, NiP)
- Láminas de pilas de combustible y baterías: metales (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) en matriz orgánica (carbono)
- Análisis de oro con los requisitos más exigentes
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Mediciones automatizadas, por ejemplo, en el control de calidad
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