FISCHERSCOPE® XDAL®
Nuevo
con geometría de medición optimizada
ultrarrápido
el usuario con el software FISIQ® X
Fácil manejo, máxima velocidad y precisión.
Cuando la precisión supera los límites, nuestro FISCHERSCOPE® XDAL® redefine lo que es posible. El innovador sucesor de nuestro FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® es ideal para aplicaciones en el campo de recubrimientos finos y ultrafinos (< 0.05 μm) y para el análisis de materiales en el rango de ppm. Puede elegir entre nuestros modelos XDAL® 650, equipado con nuestro potente detector de deriva de silicio de 50 mm², y XDAL® 620, equipado con un detector de deriva de silicio de 20 mm². Junto con nuestro avanzado software XRF FISIQ® X, esta solución de alta gama garantiza un proceso de medición fluido para una mayor comodidad, seguridad y máximo rendimiento.
Posicionamiento de muestras ultrarrápido.
Eje Z de alta velocidad: 6 veces más rápido*
Captura rápida de muestras.
Enfoque automático en menos de 2 segundos: 14 veces más rápido*
Funcionamiento automatizado.
Campana automática o manual para máxima flexibilidad
Iluminación óptima de la muestra y captura de imágenes.
Resolución de cámara 10 veces superior* y sistema de iluminación LED multizona
* En comparación con FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Precisión excepcional y resultados repetibles.
Geometría de medición optimizada
El estado del dispositivo siempre visible.
Luz de estado intuitiva de 180°
Mayor facilidad de uso y guía para el usuario.
Nuevo software FISIQ® X
Piezas grandes.
La ranura en C permite medir piezas grandes
Cámara de detalle con iluminación LED multizona: iluminación óptima para todas las superficies de muestra (mate, brillante, reflectante).
Mide a tu manera, de forma automática o manual, con el apoyo de una campana motorizada para máxima flexibilidad.
Una distancia mejorada entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector asegura la máxima intensidad y garantiza una precisión de medición sin igual, para obtener resultados de máxima confiabilidad y alta calidad.
La tira de luces LED muestra el estado del dispositivo en un vistazo. La luz azul indica el modo de espera, la verde indica un dispositivo listo para la medición y la naranja intermitente indica una medición en curso.
FISIQ® X: El moderno y primer software XRF con modo de espectro soportado por IA. Aumente su productividad con flujos de trabajo simplificados y eficientes.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio, otros ánodos disponibles bajo pedido
Carcasa de ranura en C para medir muestras más grandes
Detector de deriva de silicio de 20 mm² o 50 mm² para la máxima precisión en capas finas
Aperturas cuádruples intercambiables y filtros séxtuples intercambiables
Aprobación individual como instrumento totalmente protegido
Software FISIQ® X con modo de espectro asistido por IA para procesos de medición más inteligentes
Distancia de medición sin escalonamientos con medición de arriba abajo
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Cubierta automática y mesa de medición programable para mediciones automatizadas
Ejemplos de aplicación
- Análisis de recubrimientos muy finos de ≤ 0,1 μm (0,004 mils).
- Mediciones de recubrimientos funcionales en las industrias electrónica y de semiconductores, por ejemplo, en marcos de plomo, conectores o placas de circuitos impresos
- Medición de sistemas complejos de múltiples capas
- Mediciones automatizadas, por ejemplo, en el control de calidad
- Determinación del contenido de plomo en soldaduras
- Determinación del contenido de fósforo en recubrimientos de NiP
- Determinación de acabados de placas de circuito impreso
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