FISCHERSCOPE® XDAL®
Nuevo
posicionamiento más rápido
enfoque automático más rápido
mayor resolución de la cámara
¹ En comparación con FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
² Dependiendo de la superficie de la muestra.
Fácil manejo, máxima velocidad y precisión.
El FISCHERSCOPE® XDAL® es ideal para aplicaciones en la industria de los recubrimientos finos y muy finos < 0,05 μm y para el análisis de materiales en el rango de ppm. La versión del dispositivo está equipada con la última generación de potentes detectores, un detector de deriva de silicio de 50 mm².
La iluminación automática de acuerdo al proceso y la campana de medición automatizada, junto con el moderno software FISIQ® X XRF, garantizan un proceso de medición sin problemas, para mayor comodidad, seguridad y máximo rendimiento.
Eje Z de alta velocidad.
Para un posicionamiento rápido de sus muestras
Enfoque automático en menos de 2 segundos.
Rápido enfoque y alcance de su objeto de medición para procesos de medición aún más eficientes
Cámara de visión general de alta resolución.
Mantenga una mejor visión general con imágenes más nítidas y detalladas
Iluminación LED multizona.
Iluminación perfecta en todo momento, independientemente de la superficie
Campana de medición automatizada.
Funcionamiento manual o automatizado para mayor flexibilidad.
Geometría de medición optimizada.
Precisión de medición inigualable gracias a una mayor distancia entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector.
Iluminación de estado intuitiva.
Compruebe el estado del dispositivo en un vistazo
Cámara de detalle con iluminación LED multizona: iluminación óptima para todas las superficies de muestra (mate, brillante, reflectante).
Campana motorizada que puede abrirse y cerrarse pulsando un botón o controlada por software. Para procesos continuos y eficientes.
Una distancia mejorada entre el tubo de rayos X, la muestra y el detector asegura la máxima intensidad y garantiza una precisión de medición sin igual, para obtener resultados de máxima confiabilidad y alta calidad.
La tira de luces LED muestra el estado del dispositivo en un vistazo. La luz azul indica el modo de espera, la verde indica un dispositivo listo para la medición y la naranja intermitente indica una medición en curso.
FISIQ® X: El moderno y primer software XRF con modo de espectro soportado por IA. Aumente su productividad con flujos de trabajo simplificados y eficientes.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio, otros ánodos disponibles bajo pedido
Carcasa con ranura en C para mediciones automatizadas en muestras de mayor tamaño
Detector de deriva de silicio de 20 mm² o 50 mm² para la máxima precisión en capas finas
Aperturas cuádruples intercambiables y filtros séxtuples intercambiables
Dispositivo de protección total homologado
Software FISIQ® X con modo de espectro asistido por IA para procesos de medición más inteligentes
Distancia de medición sin escalonamientos con medición de arriba abajo
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Mesa de medición programable para mediciones automatizadas
Ejemplos de aplicación
- Análisis de recubrimientos muy finos de ≤ 0,1 μm (0,004 mils).
- Mediciones de recubrimientos funcionales en las industrias electrónica y de semiconductores, por ejemplo, en marcos de plomo, conectores o placas de circuitos impresos
- Determinación de sistemas complejos de recubrimientos múltiples
- Mediciones automatizadas, por ejemplo, en el control de calidad
- Determinación del contenido de plomo en soldaduras
- Determinación del contenido de fósforo en recubrimientos de NiP
- Determinación de acabados de placas de circuito impreso
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