FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
precisión incluso con tiempos de medición cortos
con menor tamaño de punto 10 µm (FWHM)
para medición confiable de estructuras pequeñas
¹ Hasta un 50 % más de rendimiento: Desviación estándar significativamente mejorada y, por tanto, capacidad de calibración o tiempo de medición significativamente reducido en comparación con DPP a DPP+.
² Óptica capilar de alta gama fabricada por Fischer - el único fabricante mundial de instrumentos de medición de fluorescencia de rayos X con producción propia de policapilares. Tres diferentes policapilares de alta gama disponibles - la solución correcta para cada una de sus aplicaciones: 10 µm sin halo, 20 µm sin halo o 20 µm con halo.
Control de calidad automatizado de PCB´s mediante XRF..
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB es un verdadero especialista para el control de calidad de placas de circuito impreso con fluorescencia de rayos X. Gracias a su potente detector de deriva de silicio, el tubo de microenfoque Ultra y la óptica policapilar, el instrumento XRF mide con un punto de medición extremadamente pequeño a una intensidad muy alta. Esto permite determinar de forma confiable incluso las capas más finas. Los aparatos también cumplen los requisitos IPC 4552 y 4556 para ENIG y ENEPIG, así como 4553A (Plata) y 4554 (Estaño).
A la altura de todos los retos.
Resultados confiables y rápidos para tareas de medición ambiciosas
Totalmente automatizable.
Deje que su instrumento trabaje por usted
Expertos en PCB´s.
Soluciones de medición especializadas para placas de circuitos impresos, cumplen las normas de IPC.
Las ópticas policapilares más avanzadas del mercado.
Nuestras ópticas policapilares de fabricación propia ofrecen excelentes resultados de medición en tiempos de medición cortos.
Programable.
Mediciones automatizadas en estructuras predefinidas gracias a la avanzada tecnología de reconocimiento de patrones
Puesta en servicio.
Extremadamente rápida y sencilla
Procesador digital de impulsos DPP+.
Tiempos de medición más cortos o mejora de la desviación estándar*.
*en comparación con el DPP
Serie de instrumentos para PCB: Soluciones de medición especializadas para placas de circuito impreso, conformes a las normas IPC 4552 (ENIG), 4556 (ENEPIG), 4553A (Plata) y 4554 (Estaño).
Instrumento universal para mediciones en estructuras pequeñas, multicapas, recubrimientos funcionales y finos ≤ 3 nm o 10 nm.
Con el tubo microfocal Ultra, la intensidad de excitación aumenta considerablemente. Esto garantiza un rendimiento de medición aún mejor con los puntos de medición más pequeños.
Seleccionar individualmente las posiciones de medición puede llevar mucho tiempo. Reduzca considerablemente este esfuerzo con el software de reconocimiento de imágenes implementado.
Características
Tubo de microenfoque Ultra con ánodo de tungsteno para un rendimiento aún mayor en los puntos más pequeños; ánodo de molibdeno opcional
Filtros cuádruples intercambiables
Hasta 10 mm de altura posible de las muestras
La óptica policapilar permite puntos de medición especialmente pequeños con tiempos de medición cortos a alta intensidad
Punto de medición aprox: Ø 10 ó 20 µm (FWHM)
Mesa de medición programable de alta precisión para placas de circuito impreso de hasta 610 x 610 mm, opcionalmente con fijación de vacío
Detector de deriva de silicio de 20 ó 50 mm² para la máxima precisión en películas finas
DPP+ para la máxima precisión incluso con tiempos de medición cortos
Ejemplos de aplicación
- Medición en los componentes planos más pequeños y estructuras en placas de circuito impreso de hasta 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Análisis de recubrimientos muy finos, como capas de oro/paladio de ≤ 3 nm o 10 nm
- Medición automatizada, como en el control de calidad
- Con la opción de 10 μm: Medición con el punto de medición más pequeño en combinación con un detector de deriva de silicio de gran tamaño
- Con la opción de mesa de vacío: Medición en placas de circuito impreso flexibles
- Cumplimiento total de las normas IPC 4552 y 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Plata) y 4554 (Estaño)
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