FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
rendimiento gracias a DPP+
Fabricación propia y desarrollo constante².
óptica policapilar adecuada³
¹ Mejora significativa de la desviación típica y, por tanto, de la capacidad de calibración o reducción significativa del tiempo de medición en comparación con DPP.
² Óptica policapilar en continuo desarrollo. Óptica capilar de alta gama fabricada por Fischer - el único fabricante mundial de instrumentos de medición de fluorescencia de rayos X con producción propia de policapilares.
3 Tres diferentes policapilares de alta gama disponibles: la solución adecuada para cada una de sus aplicaciones: 10 µm sin halo, 20 µm sin halo o 20 µm con halo.
Para las más altas exigencias y hasta la µ más pequeña.
Los instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ se encuentran entre los dispositivos de medición de fluorescencia de rayos X de gama alta de Fischer y son ideales para medir estructuras diminutas. Están equipados con la última generación de potentes detectores de deriva de silicio, tubos de microenfoque Ultra y ópticas policapilares de fabricación propia. Gracias a la alta intensidad de radiación, los tiempos de medición se reducen drásticamente y es posible realizar mediciones muy precisas en los puntos de medición más pequeños.
A la altura de todos los desafíos.
Resultados fiables y rápidos para tareas de medición exigentes
Las ópticas policapilares más avanzadas del mercado.
Nuestras ópticas policapilares de fabricación propia ofrecen resultados de medición extraordinarios con tiempos de medición cortos
Programable.
Mediciones automatizadas en estructuras predefinidas gracias a la avanzada tecnología de reconocimiento de patrones
Totalmente automatizable.
Deje que su instrumento trabaje por usted con un solo click
Procesador digital de impulsos DPP+.
Tiempos de medición más cortos o mejora de la desviación estándar*.
*en comparación con el DPP
Sistema de vídeo con zoom óptico triple y software WinFTM®, que garantiza el posicionamiento preciso de cada muestra.
Con el tubo microfocal Ultra la intensidad de excitación aumenta considerablemente. Esto garantiza un rendimiento de medición aún mejor con los puntos de medición más pequeños.
Gracias a la innovadora óptica de rayos X policapilar, el instrumento mide con un punto de medición extremadamente pequeño, manteniendo al mismo tiempo una intensidad muy alta.
El detector de deriva de silicio de alto rendimiento permite medir las estructuras más pequeñas y las capas más finas < 0,1 µm de forma precisa y no destructiva.
Características
Tubo de microenfoque Ultra con ánodo de tungsteno para un rendimiento aún mayor en los puntos más pequeños; ánodo de molibdeno opcional
Filtro intercambiable
Tasas de recuento más elevadas y tiempos de medición significativamente reducidos gracias a DPP+.
La óptica policapilar permite puntos de medición especialmente pequeños con tiempos de medición cortos de alta intensidad
Punto de medición aprox: Ø 10 ó 20 µm
Detector de deriva de silicio con área activa de 20 ó 50 mm² para la máxima precisión
Hasta 135 mm de altura posible de las muestras
Ejemplos de aplicación
- Medición en los componentes y estructuras planos más pequeños, como trazas, contactos o marcos de plomo
- Medición de capas funcionales en la industria electrónica y de semiconductores
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Medición automatizada, como en el control de calidad
- Medición de elementos ligeros, por ejemplo, determinación del contenido de fósforo en níquel químico bajo oro y paladio (ENIG/ENEPIG)
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