FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
rendimiento gracias a DPP+
aperturas variables
filtros intercambiables
¹ Mejora significativa de la desviación estándar y, por tanto, de la capacidad de calibración o reducción significativa del tiempo de medición en comparación con DPP.
Análisis por fluorescencia de rayos X para las más altas exigencias
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de la gama Fischer. Lleve su rendimiento de medición a un nuevo nivel con este modelo premium: En combinación con el procesador digital de impulsos DPP+ de desarrollo propio, ahora se pueden procesar tasas de recuento aún más altas, lo que resulta en tiempos de medición menores o en una mejor repetibilidad de sus resultados de medición.
Construido para durar.
Diseño robusto para necesidades especialmente exigentes
Totalmente automatizable.
Deje que su dispositivo trabaje por usted con un solo click
Diseño de medición rápida.
Con unos sencillos pasos, la muestra está colocada y lista para la medición. Con posibilidad de hacer mediciones automatizadas de muchas piezas
Rápido.
Gracias a los breves tiempos de medición, ahorrará tiempo.
Análisis RoHS.
Determinación de contaminantes con una alta precisión de detección y un rendimiento excepcional
Procesador digital de impulsos DPP+.
Tiempos de medición más cortos o mejora de la desviación estándar*.
*en comparación con el DPP
Transmisión, evaluación y exportación de datos de medición en tiempo real con WinFTM®, el software de aplicación más potente del mercado.
Apertura de hasta 3 mm: máxima intensidad para un tiempo de medición más corto, incluso con muestras difíciles.
Mesa de medición programable para mediciones automatizadas en estructuras pequeñas.
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de la gama Fischer.
El detector de deriva de silicio de alta resolución y alto rendimiento permite medir las capas más finas de forma precisa y no destructiva.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio
Detector de deriva de silicona de 50 mm² con área efectiva extragrande de 50 mm².
Determinación del contenido de metal en baños galvánicos con los accesorios correspondientes
Punto de medición aprox: Ø 0,25 mm
Tasas de recuento más altas y tiempos de medición significativamente reducidos gracias a DPP+.
Dispositivo de protección total homologado
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Aperturas cuádruples intercambiables y filtros séxtuples intercambiables
Ejemplos de aplicación
- Medición de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores, por ejemplo, determinación del grosor de recubrimientos de oro de hasta 2 nm.
- Análisis de recubrimientos finos y muy finos en la industria electrónica y de semiconductores, como capas de oro/paladio de ≤ 0,1 μm
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Medición del espesor de recubrimientos para aplicaciones fotovoltáicas, pilas de combustible y pilas de baterías
- Análisis de trazas de sustancias peligrosas como plomo y cadmio de acuerdo con las directivas RoHS, WEEE, CPSIA y otras directivas para productos electrónicos, envases y productos de consumo
- Análisis y comprobación de la autenticidad del oro y otros metales preciosos y aleaciones de metales preciosos
- Determinación directa del contenido de fósforo en capas funcionales de NiP
- Determinación del contenido metálico de baños galvánicos
¿Tiene otras aplicaciones? Póngase en contacto con nosotros.
Notas de aplicación
Vídeos de productos
Tutoriales
Seminarios en línea
Folletos
Notas de aplicación
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBVídeos de productos
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceTutoriales
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Seminarios en línea
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationFolletos
Fischer Insights.
Descubra más productos.
