FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
método DCM patentado
dispositivo de protección total
ventana de medición en el mercado
Automatización XRF para principiantes.
Los instrumentos de la serie FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® están diseñados para mediciones que aseguren la calidad, para inspección de entrada y supervisión de la producción. Están directamente relacionados con la serie XULM®, con una diferencia significativa: ¡la dirección de medición es de arriba hacia abajo! Esto significa un cómodo análisis de muestras desiguales, así como la posibilidad de realizar mediciones automatizadas.
También para muestras grandes.
Campana con ranura en C
Fabricado para durar.
Diseño robusto para mediciones en piezas producidas en serie.
Comprobación de múltiples puntos de medición.
Incluso con muestras grandes, es posible medir puntos en toda la superficie de la muestra
Puesta en marcha.
Extremadamente rápida y sencilla
A medida.
Diferentes modelos ofrecen la solución óptima para su aplicación
Diseño de medición rápida.
La muestra se coloca y está lista para la medición en unos pocos pasos
Características
Tubo de rayos X estándar
Aberturas: fijas
Filtros primarios: fijosHasta 140 mm de altura posible de las muestras
Punto de medición más pequeño aprox: Ø 0,2 mm
Determinación del contenido de metal en baños galvánicos con los accesorios correspondientes
Dispositivo de protección total homologado
Detector proporcional de tubo contador para tiempos de medición cortos
Ejemplos de aplicación
- Recubrimientos galvánicos como el zinc sobre hierro como protección contra la corrosión
- Pruebas en secuencia de piezas producidas en serie
- Recubrimientos decorativos de cromo, por ejemplo Cr/Ni/Cu/ABS
- Todos los recubrimientos típicos de cromo, como Cr(VI) y otros nuevos como Cr(III)
- Medición de recubrimientos funcionales de oro en placas de circuito impreso, como Au/Ni/Cu/PCB
- Recubrimientos de conectores y contactos en la industria electrónica, como Au/Ni/Cu y Sn/Ni/Cu
- Determinación del contenido metálico de baños galvánicos
¿Tiene otras aplicaciones? Póngase en contacto con nosotros.
Notas de aplicación
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MBVídeos de productos
Tutoriales
Seminarios en línea
Folletos