FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
aprox. Ø 0,2 µm
3 diferentes filtros intercambiables
para una precisión de detección muy buena y una alta resolución
Pruebas de PCB con XRF para profesionales.
La combinación de un potente detector de deriva de silicio, multiapertura y filtros intercambiables hacen que los instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB sean la mejor solución para la medición de pequeñas estructuras en placas de circuito impreso.
Expertos en PCB.
Soluciones de medición especializadas para placas de circuitos impresos, que cumplen con las normas de IPC.
A la altura de todos los retos.
Resultados confiables y rápidos para tareas de medición ambiciosas
Totalmente automatizable.
Deje que su instrumento trabaje por usted
Programable.
Mediciones automatizadas en estructuras predefinidas gracias a la avanzada tecnología de reconocimiento de patrones
Puesta en servicio.
Extremadamente rápida y sencilla
Transmisión, evaluación y exportación de datos de medición en tiempo real con WinFTM®, el software de aplicación más potente del mercado.
Con la intuitiva serie de instrumentos PCB, Fischer ofrece soluciones de medición especializadas para placas de circuito impreso.
Instrumento universal para medir en estructuras pequeñas, multicapas, recubrimientos funcionales y finos < 0,1 μm.
Todos los instrumentos de rayos X FISCHERSCOPE® se caracterizan por una excelente estabilidad a largo plazo. Esto reduce considerablemente el esfuerzo de calibración y ahorra costos y tiempo.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio
Mesa de medición fija y ancha para placas de circuito impreso de hasta 610 × 610 mm, opcionalmente con extensión de mesa de medición de 1200 x 900 mm o en versión automatizada, según el dispositivo
Punto de medición aprox: Ø 0,2 mm
Diafragmas cuádruples intercambiables y filtros triples intercambiables
Hasta 10 mm de altura posible de las muestras
Detector de deriva de silicio de gran tamaño para la máxima precisión en capas finas
Ejemplos de aplicación
- Medición de los componentes y estructuras más pequeños en placas de circuito impreso de hasta 610 x 610 mm (24 x 24 pulg.)
- Medición de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores
- Análisis de recubrimientos muy finos de ≤ 0,1 μm
- Determinación del contenido de plomo en soldaduras
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Determinación directa del fósforo en recubrimientos de NiP
- Cumple los requisitos de ENIG/ENEPIG
¿Tiene más aplicaciones? ¡Contáctenos!
Notas de aplicación
Tutoriales
Seminarios en línea
Folletos
Notas de aplicación
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A 0.76 MBTutoriales
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Seminarios en línea
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationFolletos
Fischer Insights.
Descubra más productos.
