FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
El producto puede variar según el modelo o las características
mejorado gracias a DPP+
para un posicionamiento rápido y sencillo de la sonda
método DCM patentado
¹ Desviación estándar significativamente mejor y, por tanto, capacidad de medición o tiempo de medición significativamente menor en comparación con DPP.
Análisis universal por fluorescencia de rayos X para capas muy finas.
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 es el analizador XRF universal de Fischer para la determinación de capas finas, oligoelementos y aleaciones. En las mediciones más avanzadas, la muestra se coloca simplemente en la mesa de corte de accionamiento manual. Un puntero láser sirve de ayuda para el posicionamiento. Esto significa que incluso las muestras con geometrías complejas pueden analizarse de forma precisa y sencilla.
Versátil.
Ideal para la industria electrónica y de semiconductores.
Análisis RoHS.
Determinación confiable de sustancias peligrosas
Diseño de medición rápida.
La muestra se coloca y está lista para la medición en unos pocos pasos
Equilibrado.
Óptima relación costo-beneficio
Procesador digital de impulsos DPP+.
Tiempos de medición más cortos o mejora de la desviación estándar*.
*en comparación con el DPP
Transmisión, evaluación y exportación de datos de medición en tiempo real con WinFTM®, el software de aplicación más potente del mercado.
Análisis de trazas precisos y rápidos para la seguridad de los consumidores, como el contenido de plomo en los juguetes.
Versátil e ideal para una resolución aún mayor gracias al potente detector de deriva de silicio y a la apertura configurable.
Máxima flexibilidad para una amplia gama de mediciones: 4 aperturas diferentes y 3 filtros distintos.
Características
Detector de deriva de silicona de con área efectiva extragrande de 20 mm².
Diafragmas cuádruples intercambiables y filtros triples intercambiables
Tasas de recuento más altas y tiempos de medición significativamente reducidos gracias a DPP+.
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Punto de medición aprox: Ø 0,15 mm
Ejemplos de aplicación
- Análisis de recubrimientos finos y muy finos de ≤ 0,1 µm
- Medición de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores, como en marcos de plomo, contactos de enchufe o placas de circuito impreso
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Determinación del contenido de plomo en soldaduras
- Determinación del contenido de fósforo en recubrimientos de NiP
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Notas de aplicación
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