FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
método DCM patentado
dispositivo de protección total
automatizable
Análisis por fluorescencia de rayos X para mayores exigencias.
Más fino, más delgado, XDAL®: Gracias al tubo de microenfoque y a los distintos detectores semiconductores, la serie FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® es ideal para aplicaciones en el campo de los recubrimientos delgados y muy delgados < 0,05 μm, así como para el análisis de materiales en el rango de ppm. La versión del instrumento con el detector de deriva de silicio de 50 mm² es además adecuada para la medición RoHS. El flexible y universal XDAL® mide de forma confiable, precisa y con un 100 % de seguridad gracias a sus diversas opciones de configuración (mesa, apertura, filtro y detector).
Puesta en marcha.
Extremadamente rápido y sencillo
Un aparato, muchas posibilidades.
Medición del espesor del recubrimiento, análisis de materiales y análisis de trazas.
Comprobación de múltiples puntos de medición.
Incluso con muestras grandes, es posible medir puntos en toda la superficie de la muestra
También para muestras grandes.
Campana con ranura en C
Totalmente automatizable.
Deje que su instrumento trabaje por usted con un solo click
Diseño compacto.
Muy buena relación entre rendimiento y espacio necesario
Transmisión, evaluación y exportación de datos de medición en tiempo real con WinFTM®, el software de aplicación más potente del mercado.
Minimice el riesgo en la inspección de entrada de mercancías: elimine los diferentes lotes de soldadura gracias a la mesa de medición programable y al detector de semiconductores.
No podría ser más cómodo: Distancia de medición sin escalonamientos con una medición desde arriba y una calibración de fábrica.
Características
Tubo de microenfoque con ánodo de wolframio
Punto de medición aprox: Ø 0,15 mm
PIN de silicio y detector de deriva de silicio para una precisión de detección muy buena y una alta resolución
Filtros triplemente intercambiables
Dispositivo de protección total homologado
Determinación del contenido de metal en baños galvánicos con los accesorios correspondientes
Aperturas cuádruples intercambiables
Hasta 140 mm de altura posible de las muestras
Varias opciones de mesa de medición
Ejemplos de aplicación
- Análisis de recubrimientos delgados y muy delgados de ≤ 0,05 μm
- Medición de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores, como en marcos de plomo, contactos de enchufe o placas de circuito impreso
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Mediciones automatizadas, como en el control de calidad
- Determinación del contenido de plomo en soldaduras
- Con la versión SDD (20 mm² o 50 mm²):
- Determinación del contenido de fósforo en capas de NiP
- Cumple los requisitos ENIG/ENEPIG
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