Jump to the content of the page

Análisis de fluorescencia de rayos X para aplicaciones exigentes

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® es el mejor instrumento de medición de fluorescencia de rayos X de la serie XDL & nbsp; . Como sus 'hermanos pequeños', mide de arriba a abajo, lo que hace que la medición de muestras de formas irregulares sea fácil y conveniente. Para optimizar las condiciones de medición para su tarea, el FISCHERSCOPE X-RAY XDAL & nbsp; viene con colimadores y filtros intercambiables como estándar equipo.

¡Cuanto más exigente sea la tarea de medición, más importante será el tipo de detector! El FISCHERSCOPE & nbsp; X-RAY XDAL & nbsp; por lo tanto, ofrece 3 detectores de semiconductores diferentes.

El diodo PIN de silicio es un detector de rango medio y muy adecuado para medir múltiples elementos en un área de medición relativamente grande. Cuando está equipado con un PIN, el XDAL & nbsp; se usa a menudo para inspeccionar recubrimientos de materiales duros.

El detector de deriva de silicio (SDD) de alta calidad ofrece una mejor resolución energética que el diodo PIN de silicio. Los espectrómetros XDAL & nbsp; equipados de este modo se utilizan para resolver tareas de medición complejas en la industria electrónica: por ejemplo, la medición de capas de aleación delgada o el análisis de materiales de elementos muy similares como el oro y el platino. Este es el instrumento XRF de confianza para el control de calidad con aplicaciones ENIG y ENEPIG.

Para desafíos particularmente difíciles, Fischer también ofrece un SDD con una superficie de detección extra grande. La fortaleza de este detector radica en su capacidad para medir capas de manera confiable hasta el rango de unos pocos nanómetros, y para realizar análisis de trazas en el rango por fábrica. Con estos dispositivos XDAL & nbsp;, puede probar el contenido de plomo en soldaduras destinadas a aplicaciones de alta confiabilidad para evitar bigotes de estaño.

Características

  • Espectrómetro de fluorescencia de rayos X para mediciones automáticas en capas & lt; 0.0 5μm y para análisis de material en el rango de ppm según DIN ISO 3497 y ASTM B 568
  • 3 opciones de detectores diferentes ( Diodo Si-PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
  • 3x filtros primarios intercambiables
  • 4x colimadores intercambiables
  • Punto de medición más pequeño aprox. 0,15 mm
  • Alturas de muestra de hasta 14 cm
  • Etapa XY programable con una precisión de posicionamiento de 10 µm
  • Carcasa ranurada para medir en grandes placas de circuito impreso </ li >
  • Dispositivo certificado totalmente protegido & nbsp;

Aplicaciones

  • Análisis de materiales de recubrimientos y aleaciones (también recubrimientos finos y bajas concentraciones)
  • Industria electrónica, ENIG, ENEPIG
  • Conectores y contactos
  • Industria del oro, la joyería y la relojería
  • Medición de recubrimientos finos (unos pocos nanómetros) de oro y paladio en la fabricación de PCB
  • Análisis de oligoelementos
  • Determinación de plomo ( Pb) para aplicaciones de alta confiabilidad (evitar whiskers de estaño)
  • Análisis de recubrimientos de materiales duros

Descargas

Nombre Tipo Tamaño Descargar
Jump to the top of the page