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El instrumento correcto para cada aplicación

Al igual que las XUL & nbsp; series , los instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® son ideales para analizar muestras de formas simples. Sin embargo, una gran ventaja de la serie XAN & nbsp; radica en sus detectores de semiconductores de alta calidad. La fluorescencia de rayos X le permite no solo medir el espesor de los recubrimientos sino también analizar la composición de las aleaciones (por ejemplo, cobre). & Nbsp; < / p>

En total, la serie XAN & nbsp; comprende 5 espectrómetros XRF de mesa que cubren una amplia gama de aplicaciones. El XAN & nbsp; 215 tiene un detector de PIN con excelente relación calidad/precio. Es ideal para tareas simples de espesor de revestimiento, p. Ej. zinc sobre hierro o Au / Ni / Cu. Para aplicaciones más complejas con aleaciones o metales preciosos, recomendamos nuestros dispositivos con un detector de deriva de silicio (por ejemplo, el XAN & nbsp; 220): debido a su mucho más alta resolución, puede distinguir de manera fiable entre oro y platino. Y cuando necesite detectar rastros de metales pesados ​​y otras sustancias peligrosas, el XAN & nbsp; 250 es su solución.

Even More Powerful Thanks to DPP+ and Larger SDD

With the XAN 220, XAN 222, XAN 250 and XAN 252, you can now measure even more precisely and quickly. Like the GOLDSCOPE SD 520 and SD 550, the instruments are equipped with the latest digital pulse processor DPP+ – completely developed in-house by Fischer. By using the new processor in conjunction with the also newly available, larger silicon drift detector (50 mm² effective area), even more signals of the sample can be processed. This results in an excellent energy resolution. Your benefit: Shorten the measuring time up to 3 times or reduce the absolute standard deviation of the repeatability by up to 45 %.

Características

  • Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568
  • Detectores de semiconductores premium (PIN y SDD) Garantiza una excelente precisión de detección y alta resolución
  • XAN & nbsp; 250 y 252: para medir elementos ligeros como aluminio, silicio o azufre & nbsp;
  • Colimador: fijo o 4x cambiable, el punto de medición más pequeño aprox. 0.3 mm
  • Filtro primario: fijo o 6x cambiable
  • Soporte de muestra fijo o una etapa XY manual
  • Cámara de video para la fácil ubicación del mejor punto de medición </ li>
  • Altura de muestra de hasta 17 cm & nbsp;

Aplicaciones

  • Análisis no destructivo de aleaciones dentales, prueba de plata
  • Recubrimientos multicapa
  • Análisis de recubrimientos funcionales de al menos 10 nm de espesor en la industria electrónica y de semiconductores </ li >
  • Análisis de trazas en la protección del consumidor, p. ej. pruebas de la presencia de plomo en los juguetes
  • Determinaciones de aleación de metal de acuerdo con los requisitos de precisión más altos en la industria de la joyería y en las refinerías

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