XDV-SDD

El XDV-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes del programa de Fischer. Los instrumentos de la serie están equipados con detectores de deriva de silicio con ventanas especialmente grandes (SDD). Un detector con una ventana de 50 mm² permite realizar análisis rápidos y precisos incluso en zonas de medición pequeñas. Además, los instrumentos de la serie pueden estar equipados con diferentes diafragmas y filtros para crear las condiciones de excitación óptimas para la respectiva tarea de medición.

XDV-SDD para la medición del espesor de recubrimientos y análisis de materiales

Características

  • Tubos de rayos X de alto rendimiento y detector de deriva de silicio (SDD) con un área efectiva grande para una medición fiable y precisa incluso de recubrimientos muy delgados.
  • Construcción extremadamente robusta para medidas en serie con excelente estabilidad a largo plazo
  • Mesa XY programable y eje Z móvil para mediciones en serie automatizadas
  • Imágenes de video en vivo y puntero láser para que el posicionamiento de las muestras sea rápido y fácil

Aplicaciones

Medición del espesor de recubrimientos

  • Medición de recubrimientos muy delgados, p.e.: capas de oro y paladio de espesor ≤0,1μm, en las industrias de electrónica y semiconductores
  • Medición de recubrimientos duros en la industria del automóvil
  • Medición del espesor de recubrimientos en la industria fotovoltaica

Análisis de materiales

  • Identificación de sustancias nocivas (por ejemplo, metales pesados) en productos electrónicos, envases y bienes de consumo según RoHS, WEEE, CPSIA y otras directrices
  • Análisis de oro y otros metales preciosos así como aleaciones de los mismos
  • Determinación del espesor y la composición de recubrimientos funcionales, como p. e.: la determinación del contenido de fósforo en recubrimientos de NiP

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