XDL / XDLM / XDAL

Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Gracias a las distintas versiones – que se diferencian por su fuente de rayos X, filtro, Apertura y detector – se puede seleccionar el equipo de rayos X con la configuración ideal para su trabajo de medición específico.

Serie XDL

Características principales:

  • Los instrumentos por fluorescencia de rayos X para distintos trabajos de medición han sido posibles gracias a diferentes componentes de hardware
  • También adecuados para la comprobación de placas de circuitos montadas o piezas con indentaciones, debido a la distancia variable de medición (hasta 80 mm)
  • Comprobación en serie automatizada con tabla XY programable y eje Z (opcional)
  • Ideal para la medición de capas muy finas mediante el detector por deriva de silicio con alta resolución energética (dispositivo XDAL)

Aplicaciones:

Medición de grosor de recubrimiento

  • Medición de recubrimientos en placas grandes y placas de circuitos flexibles (PCB flexibles)
  • Capas conductoras y/o separadoras finas en placas de circuitos
  • Recubrimientos de componentes tridimensionales
  • Recubrimientos cromados, por ejemplo artículos de plástico con un acabado cromado decorativo

Análisis de materiales

  • Análisis de baños de galvanoplastia
  • Análisis de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores
  • Análisis de recubrimientos de materiales duros, por ejemplo CrN, TiN o TiCN

Su contacto con FISCHER

Contact

Fischer Do Brasil
Rua Enxovia, 472, Cj. 2103
São Paulo/Brasil
Tel.: +55 11 3588 0909
E-mail: brasil@helmutfischer.com
Formulario de contacto en línea

Información