XUV

La cámara de medición de vacío en los equipos de la gama XUV® permite verificar materiales livianos desde sodio en adelante mediante análisis por fluorescencia de rayos X (RFA). Debido a las propiedades de absorción de radiación del aire ambiente, normalmente no se puede utilizar este método. Por esa razón, el instrumento es ideal para trabajos de medición de grosor de recubrimiento y análisis de materiales muy exigentes.

XUV

Características principales:

  • Especialmente adecuados para la investigación y desarrollo con sus bajos límites de detección, precisión repetible y opciones de medición con posibilidad de actualización generalizada
  • Cámara de vacío y detector por derivación de silicio de alto rendimiento para una medición precisa, incluso de elementos livianos
  • Comprobación en serie automatizada con ejes X, Y y Z programables
  • Adaptable a las necesidades de distintos materiales y condiciones de medición mediante las aperturas y filtros intercambiables

Aplicaciones:

Medición de grosor de recubrimiento

  • Capas de elementos livianos desde sodio en adelante en la escala nm
  • Placas de aluminio y silicio

Análisis de materiales

  • Determinación de la autenticidad y procedencia de piedras preciosas
  • Análisis general de materiales y análisis forenses
  • Análisis de trazas de alta resolución

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