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Schichtdickenmessung, XRF-Materialanalyse und Werkstoffprüfung für das optimale Qualitätsmanagement

Vom 04. bis 07. Mai 2021 findet mit der Control die Weltleitmesse für Qualitätssicherung statt. Internationale Marktführer und innovative Anbieter präsentieren in Stuttgart das aktuelle Weltangebot an nutzbaren Technologien, Verfahren, Produkten und Systemlösungen zur industriellen Qualitätssicherung.

Freuen Sie sich auf präzise Messtechnik

Natürlich dürfen unsere High-End-XRF-Spektrometer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ und XDV-μ LD nicht fehlen – entwickelt für präzise Schichtdickenmessungen und Materialanalysen an winzigen Strukturen insbesondere in der Elektronik- und Halbleiterindustrie. Erleben Sie darüber hinaus viele weitere unserer zuverlässigen, präzisen Qualitätsprodukte zur Schichtdickenmessung, Materialanalyse und mechanischen Materialprüfung. Die Fischer Experten erklären Ihnen alles über die verschiedenen Messverfahren.

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