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XRF Röntgenfluoreszenz

FISCHERSCOPE X-RAY Spektrometer

Es gibt keine bessere Wahl als ein FISCHERSCOPE X-RAY, wenn es um zerstörungsfreie und kontaktlose Schichtdickenmessung und Materialanalyse geht. Seit 1983 genießen unsere XRF-Geräte einen hervorragenden Ruf als Messgeräte in der Qualitätsprüfung. Unsere Instrumente sind akkurat, präzise, zuverlässig und bieten eine außergewöhnlich hohe Langzeitstabilität. Bei der Entwicklung der FISCHERSCOPE X-RAY haben wir das Augenmerk zudem auf eine benutzerfreundliche Bedienung und auf einen möglichst hohen Grad an Entlastung für den Bediener in seiner täglichen Arbeit gerichtet. Wir wollen, dass Sie sich voll und ganz auf Ihre Qualitätkontrolle konzentrieren können. Das X-RAY wird Sie dabei optimal unterstützen.

Unsere XRF werden durch die WinFTM Software gesteuert. Die WinFTM enthält alles in einer einzigen Software, was für die Qualitätskontrolle mit Röntgenfluoreszenz notwendig ist: Bedienung des X-RAY, Dokumentierung der Rückverfolgbarkeit, Statistiken und Messwertauswertungen, kundenspezifische Prüfprotokolle und Schnittstellen zu Fabriknetzwerken. Obwohl die WinFTM eine sehr leistungsfähige Software ist und viele Funktionen bietet, ist sie gleichzeitig auch einfach zu bedienen.

Das Produktportfolio unserer XRF-Spektrometer bietet für praktisch jede Anwendung das ideale Messgerät. Überall auf der Welt vertrauen Kunden unter anderem in der Galvanik, im Automobilbau, in der Elektronikindustrie, in der Gold- und Schmuckbranche auf die FISCHERSCOPE X-RAY. Lesen Sie mehr über unsere XRF-Messinstrumente und finden Sie heraus wieso!

Vorteile

  • Entwickelt in Deutschland: höchste Qualität und Spitzentechnologie
  • Nur eine einzige Software für gleichzeitige Schichtdickenmessung und Materialanalyse
  • Umfangreiche Statistikfunktionen: Beispielsweise können Messwerte als SPC Grafik aufgezeichnet werden
  • Bilderkennung: WinFTM findet die vorgegebene Messstelle automatisch
  • Standardfreies Messen mit der Fundametalparameter-Methode erlaubt präzise Messresultate auch wenn die Zusammensetzung eines Messmusters nicht bekannt ist
  • Distance Controlled Measurement (DCM): Es ist keine Achse notwendig, um bei unebenen Messmustern die richtige Messdistanz einzustellen. Nur die Kamera auf die Oberfläche fokussieren - den Rest macht die WinFTM. Dies geht viel schneller, als eine ganze Achse zu bewegen. Zudem besteht keine Gefahr, dass die Achse mit dem Messmuster kollidiert
  • Messqualitätsüberwachung: Niemand ist unfehlbar. Schnell ist das falsche Muster im XRF-Messgerät platziert, oder die falsche Messaufgabe ausgwählt. Die X-RAY können die Qualität der Messung überwachen und melden Unregelmäßigkeiten
  • Tasks: Fast alle Funktionsabfolgen der WinFTM lassen sich als definerte Abläufe programmieren und können mit nur einem Klick durchgeführt werden. Beispielsweise können verschiedene Legierungsmuster automatisch gemessen werden. Das X-RAY fährt den Messtisch zur richtigen Messposition, wählt die richtige Messaufgabe und erstellt automatisch ein Messprotokoll nach Ihren Vorgaben

Produkte

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